[發(fā)明專利]一種確定碎屑巖盆地流體活動(dòng)年代的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011156678.0 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112505077A | 公開(公告)日: | 2021-03-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉恩濤;王華;嚴(yán)德天;張子傲 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)地質(zhì)大學(xué)(武漢) |
| 主分類號(hào): | G01N23/207 | 分類號(hào): | G01N23/207;G01N27/62;G01N1/28 |
| 代理公司: | 武漢知產(chǎn)時(shí)代知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42238 | 代理人: | 龔春來(lái) |
| 地址: | 430000 湖*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 確定 碎屑巖 盆地 流體 活動(dòng) 年代 方法 | ||
1.一種確定碎屑巖盆地流體活動(dòng)年代的方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1,樣品采集:采集沉積盆地?cái)嗔迅浇纳皫r樣品;
S2,巖石薄片分析:利用采集到的砂巖樣品制備巖石薄片,對(duì)巖石薄片進(jìn)行顯微鏡分析,選取出自生伊利石富集的砂巖樣品;
S3,掃描電鏡分析:對(duì)自生伊利石富集的砂巖樣品進(jìn)行掃描電鏡分析,選取出自生伊利石富集且顆粒大的砂巖樣品;
S4,自生伊利石分選與最大粒徑確定:將步驟S3選取出的砂巖樣品浸入去離子水中,自然分解,提取上層懸浮液,離心后將上層懸浮液分選成不同粒級(jí)的粘土溶液,然后制作不同粒級(jí)的粘土溶液的定向片,進(jìn)行X射線衍射分析,確定自生伊利石的最大粒徑;
S5,不同粒徑自生伊利石礦物分離:根據(jù)自生伊利石的最大粒徑,對(duì)自生伊利石按照粒徑梯度進(jìn)行粒級(jí)細(xì)分;
S6,樣品溶解與化學(xué)分離:稱量不同粒級(jí)的自生伊利石樣品,分別利用HF溶液和HNO3溶液溶解,之后加入85Rb-84Sr稀釋劑,制得待測(cè)自生伊利石樣品溶液,將待測(cè)自生伊利石樣品溶液分別注入交換柱進(jìn)行洗脫,得到不同粒級(jí)的自生伊利石Rb和Sr同位素組分溶液;
S7,Rb和Sr同位素組成測(cè)試:對(duì)步驟S6得到的Rb和Sr同位素組分溶液進(jìn)行Rb和Sr同位素測(cè)試,得到Rb和Sr同位素組成數(shù)據(jù);
S8,盆地流體活動(dòng)年代確定:根據(jù)步驟S7中得到的不同粒級(jí)自生伊利石的Rb和Sr同位素組成數(shù)據(jù),計(jì)算Rb-Sr等時(shí)線年齡;Rb-Sr等時(shí)線年齡即代表自生伊利石的形成年齡以及對(duì)應(yīng)的流體事件年齡。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的確定碎屑巖盆地流體活動(dòng)年代的方法,其特征在于,自生伊利石富集的砂巖樣品的判定標(biāo)準(zhǔn)為溶蝕的石英或長(zhǎng)石孔隙中自生伊利石充填空間量大于20%。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的確定碎屑巖盆地流體活動(dòng)年代的方法,其特征在于,自生伊利石富集且顆粒大的砂巖樣品的判定標(biāo)準(zhǔn)為平均粒徑大于0.5微米,且石英或長(zhǎng)石孔隙中自生伊利石充填空間量大于30%。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的確定碎屑巖盆地流體活動(dòng)年代的方法,其特征在于,步驟S8中,Rb-Sr等時(shí)線年齡的計(jì)算公式為:
式中,e為自然對(duì)數(shù),λ為87Rb衰變常數(shù),t為伊利石形成年齡,表示87Rb/86Sr的含量比為子體同位素現(xiàn)在比值,表示母子體同位素現(xiàn)在比值,表示子體同位素初始比值。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光





