[發明專利]電芯電壓測試方法和存儲介質及測試設備

在審

• 申請號: 202011156441.2
• 申請日: 2020-10-26
• 公開（公告）號: CN114487868A
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發明（設計）人: 陽飛;陳俊梯;張業軍;彭升政;杜功財
• 申請（專利權）人: 昆山聚創新能源科技有限公司
• 主分類號: G01R31/385
• 分類號: G01R31/385;G01R31/389;G01R35/00;G06F16/2458
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 周紅

1.一種電芯電壓測試方法，其特征在于，包括：

在對測試設備完成標準電壓校準后，獲取測試模式指令；

確定所述測試模式指令為慢速檢測模式指令時，獲取待測電芯的標識信息，并對所述待測電芯進行PLC測試，以及對PLC測試結果判定通過后生成第一測試數據；

對所述待測電芯進行儀器測試，以及根據儀器測試結果對所述測試設備進行精度校驗通過后生成第二測試數據；

基于所述待測電芯的標識信息，對同一待測電芯的第一測試數據和第二測試數據進行比較，并根據比較結果確定所述待測電芯是否合格。

2.如權利要求1所述的電芯電壓測試方法，其特征在于，所述第一測試數據和所述第二測試數據均包括所述待測電芯的開路電壓測試值和內阻測試值。

3.如權利要求2所述的電芯電壓測試方法，其特征在于，根據比較結果確定所述待測電芯是否合格，包括：

判斷所述第一測試數據中的開路電壓測試值與所述第二測試數據中的開路電壓測試值之間的電壓差值是否處于預設電壓閾值范圍，并判斷所述第一測試數據中的內阻測試值與所述第二測試數據中的內阻測試值之間的內阻差值是否處于預設電阻閾值范圍；

在確定所述電壓差值處于預設電壓閾值范圍、且所述內阻差值處于預設電阻閾值范圍時，確定所述待測電芯合格。

4.如權利要求1所述的電芯電壓測試方法，其特征在于，在對同一待測電芯的第一測試數據和第二測試數據進行比較之前，還測試所述待測電芯的極性是否正確。

5.如權利要求1-4中任一項所述的電芯電壓測試方法，其特征在于，所述待測電芯的標識信息為電芯條碼。

6.如權利要求5所述的電芯電壓測試方法，其特征在于，所述待測電芯通過移載裝置移動到仿形測試托架上時完成電芯就位，并通過掃碼槍掃描所述待測電芯以獲取所述電芯條碼。

7.如權利要求1所述的電芯電壓測試方法，其特征在于，對所述測試設備進行標準電壓校準，包括：

在標準電芯通過移載裝置移動到仿形測試托架上時，獲取所述標準電芯的標識信息，并對所述標準電芯分別進行PLC測試和儀器測試；

根據儀器測試結果對所述測試設備進行精度校驗，并在校驗通過后對PLC測試結果進行判定，以及根據判定結果確定所述測試設備是否完成標準電壓校準。

8.如權利要求1-7中任一項所述的電芯電壓測試方法，其特征在于，還包括：確定所述測試模式指令為快速檢測模式指令時，獲取待測電芯的標識信息，并對所述待測電芯進行PLC快速測試，以及對PLC快速測試結果判定通過后生成第三測試數據；

根據所述第三測試數據確定待測電芯是否合格。

9.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，其上存儲有電芯電壓測試程序，該電芯電壓測試程序被處理器執行時實現如權利要求1-8中任一項所述的電芯電壓測試方法。

10.一種測試設備，其特征在于，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的電芯電壓測試程序，所述處理器執行所述電芯電壓測試程序時，實現如權利要求1-8中任一項所述的電芯電壓測試方法。