[發明專利]一種鑷子及其使用方法在審
| 申請號: | 202011155345.6 | 申請日: | 2020-10-26 |
| 公開(公告)號: | CN112355923A | 公開(公告)日: | 2021-02-12 |
| 發明(設計)人: | 趙紫怡 | 申請(專利權)人: | 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司 |
| 主分類號: | B25B9/02 | 分類號: | B25B9/02 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570 | 代理人: | 遠明 |
| 地址: | 518132 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 鑷子 及其 使用方法 | ||
本發明提供一種鑷子及其使用方法,所述鑷子包括:第一彈性片和第二彈性片,所述第一彈性片和所述第二彈性片一端固定連接形成鑷柄,所述第一彈性片和所述第二彈性片另一端反向交叉設置;所述第一彈性片另一端沿所述交叉方向形成第一夾片,所述第二彈性片另一端沿所述交叉方向形成第二夾片;其中,所述第一彈性片和所述第二彈性片通過彈性件相連,按壓所述彈性件時,所述第一夾片和所述第二夾片分離設置;所述彈性件在未受力狀態時,所述第一夾片和所述第二夾片為夾緊狀態,所述第一夾片設置在所述第二夾片的一側,以使得所述鑷子無需按壓便可以固定所述目標元器件,極大地增加了鑷子轉移目標元器件的穩定性。
技術領域
本發明涉及夾持用具技術領域,尤其涉及一種鑷子及其使用方法。
背景技術
目前,實驗室對液晶顯示面板日常解析,常利用飛行時間二次離子質譜技術(Timeof Flight Secondary Ion Mass Spectrometry,TOF-SIMS)對面板進行分析測試。但在實際測試過程,因采集的樣品體積較小(通常樣品體積在10立方毫米以內),用普通鑷子難以控制,并且普通鑷子無法深入圓柱體檢測裝置底部,若直接將樣品拋擲到檢測裝置底部,樣品會出現測試面翻轉的情況,既影響測試的操作性,又影響實驗的進度。
因此,現有技術的鑷子無法穩定地將小尺寸樣品轉移到檢測臺。
發明內容
本發明實施例提供一種鑷子及其使用方法,用于解決現有技術的鑷子夾取小尺寸樣品轉移不穩且無法深入檢測臺底部的技術問題。
為解決以上技術問題,本發明提供的技術方案如下:
本發明提供一種鑷子,用于轉移目標元器件,所述鑷子包括:
第一彈性片和第二彈性片,所述第一彈性片和所述第二彈性片一端固定連接形成鑷柄,所述第一彈性片和所述第二彈性片另一端反向交叉設置;
所述第一彈性片另一端沿所述交叉方向形成第一夾片,所述第二彈性片另一端沿所述交叉方向形成第二夾片;
其中,所述第一彈性片和所述第二彈性片通過彈性件相連,按壓所述彈性件時,所述第一夾片和所述第二夾片分離設置;所述彈性件在未受力狀態時,所述第一夾片和所述第二夾片為夾緊狀態,所述第一夾片設置在所述第二夾片的一側,以使得所述鑷子無需按壓便可以固定所述目標元器件。
在一些實施例中,所述第一彈性片和所述第二彈性片朝同一方向彎曲,所述第一彈性片和所述第二彈性片反向交合,所述第一彈性片包括第一條狀結構和第一彎折結構,所述第二彈性片包括第二條狀結構和第二彎折結構,所述第一條狀結構的一端與所述鑷柄相連,所述第一條狀結構的另一端與所述第一彎折結構相連,所述第二條狀結構的一端與所述鑷柄相連,所述第二條狀結構的另一端與所述第二彎折結構相連,所述彈性件連接所述第一條狀結構和所述第二條狀結構。
在一些實施例中,所述第一條狀結構內邊緣和所述第一彎折結構內邊緣形成第一角度,所述第一彎折結構內邊緣和所述第一夾片內邊緣形成第二角度。
在一些實施例中,所述第二條狀結構內邊緣和所述第二彎折結構內邊緣形成第三角度,所述第二彎折結構內邊緣和所述第二夾片內邊緣形成第四角度。
在一些實施例中,所述第一角度大于所述第三角度。
在一些實施例中,所述第二角度小于所述第四角度。
在一些實施例中,所述第一彈性片和所述第一夾片,所述第二彈性片和所述第二夾片的材料相同,采用一體成型加工定制。
在一些實施例中,所述彈性件為彈簧。
在一些實施例中,所述第一夾片和所述第二夾片的形狀為矩形、橢圓形、圓形中的一種。
本發明還提供一種上述的鑷子的使用方法,包括步驟:
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