[發明專利]一種調制式組合正弦壓力腔體

有效

• 申請號: 202011152666.0
• 申請日: 2020-10-26
• 公開（公告）號: CN112304490B
• 公開（公告）日: 2021-11-30
• 發明（設計）人: 王辰辰;蔡菁;史博;王洪博;馮瑋
• 申請（專利權）人: 中國航空工業集團公司北京長城計量測試技術研究所
• 主分類號: G01L25/00
• 分類號: G01L25/00;G01L27/00
• 代理公司: 北京正陽理工知識產權代理事務所(普通合伙) 11639
• 代理人: 王民盛

本發明公開的一種調制式組合正弦壓力腔體，屬于動態壓力發生技術領域。本發明包括壓力室、調制塊、密封連接件。本發明通過壓力室和密封連接件將調制塊固定，同時保證調制塊下端面與密封連接件下端面重合，通過調制塊和密封連接件下端弧形面與轉盤外圓實現密封，通過調制塊上的方孔與轉盤周向圓孔調制在壓力室內產生正弦壓力。在需要調節調制方孔尺寸和數量時，壓力室和密封連接件不需要更換，只需根據實際需要更換調制孔結構；在需要拆卸壓力室時，不需要拆卸密封連接件，保證密封狀態不會改變。本發明的調制塊可隨時更換，相比較直接將壓力室整體更換，能夠降低成本。

技術領域

本發明涉及一種調制式組合正弦壓力腔體，屬于動態壓力發生技術領域。

背景技術

動態壓力測試技術被廣泛應用于航空、航天、兵器等國防軍工領域，正弦壓力校準裝置用于壓力傳感器幅頻特性的測試與校準，正弦壓力發生裝置作為正弦壓力校準裝置的核心部分，用于產生一定頻率和壓力幅值的正弦壓力脈動。目前，按照正弦壓力發生原理，可將正弦壓力發生方法分為調制式、氣缸-活塞式、諧振式，調制式正弦壓力發生方法是目前最常使用的正弦壓力發生方法，其頻率范圍廣、壓力幅值調節范圍大。調制式正弦壓力發生方法核心部分即為調制方孔與轉盤軸向調制圓孔的配合，在轉盤調制圓孔尺寸固定的情況下，調制方孔的尺寸、數量直接影響正弦壓力發生器的幅值、波形失真度等技術指標，現有的調制式正弦壓力校準裝置壓力室為一體式結構，調制方孔尺寸、數量受到限制，且更換時需要整體更換，增加了成本。

發明內容

本發明公開的一種調制式組合正弦壓力腔體要解決的技術問題是：通過組合式正弦壓力發生腔體代替一體式壓力室，不僅能夠保證裝置調試時能夠方便改變調制方孔的數量和尺寸，還能夠保證需要調節方孔尺寸時不會改變壓力室與轉盤的密封性。

本發明的目的是通過下述技術方案實現的：

本發明公開的一種調制式組合正弦壓力腔體，包括壓力室、調制塊、密封連接件，通過壓力室和密封連接件將調制塊固定，同時保證調制塊下端面與密封連接件下端面重合，通過調制塊和密封連接件下端弧形面與轉盤外圓實現密封，通過調制塊上的方孔與轉盤周向圓孔調制在壓力室內產生正弦壓力。

所述壓力室兩側分別安裝標準壓力傳感器和被校壓力傳感器，所述調制塊與調制式正弦壓力發生器轉盤相切實現排氣的正弦調制，所述密封連接件用于固定所述調制塊，并于調制式正弦壓力發生器主體連接。所述調制塊為臺階結構，中間位置為方孔，下表面為圓弧面，所述圓弧面直徑與正弦壓力發生器轉盤直徑相同。所述密封連接件中部為臺階孔，所述臺階孔形狀與所述調制外形相同，用于安裝所述調制塊，所述密封連接件下表面為圓弧結構，所述圓弧結構直徑與所述調制塊下表面圓弧直徑相同。所述調制塊根據實驗需要改變所述中間方孔的尺寸和數量。

作為優選，所述調制塊根據需要隨時更換，相比較直接將壓力室整體更換，降低成本。

作為優選，所述壓力室底部有長方體凸臺，用于將所述調制塊壓緊和上層密封。

本發明公開的一種調制式組合正弦壓力腔體的裝配及工作方法為：密封連接件安裝在調制式正弦壓力發生器外殼，保證密封連接件下弧面與發生器轉盤外圓相切；調制塊安裝在密封連接件的臺階孔中，安裝完成后保證調制塊下弧面與密封連接件下弧面重合，共同與發生器轉盤形成密封；壓力室長方形凸臺置于密封連接件的臺階孔中；凸臺下表面與調制塊上表面接觸，此時保證壓力室兩翼下表面與密封連接件兩翼上表面之間存在預定量的間隙；以保證調制塊處于被壓緊的狀態。壓力室和密封連接件兩翼的安裝孔相對應，用螺栓將其固定在發生器外殼。在需要更換調制塊時，拆開螺栓，將壓力室取下，去除調制塊并更換新的調制塊，將壓力室重新安裝固定即可。

有益效果：