[發明專利]一種大口徑光學遙感器雙擴束級聯偏振測試系統有效
| 申請號： | 202011148624.X | 申請日： | 2020-10-23 |
| 公開（公告）號： | CN112362307B | 公開（公告）日： | 2022-07-29 |
| 發明（設計）人： | 崔程光;李凌;伏瑞敏;楊居奎;王玉詔;郭永祥;賈馨;冀翼;陳宗;李夢旭;劉君航;于宗偉 | 申請（專利權）人： | 北京空間機電研究所 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人： | 劉秀祥 |
| 地址： | 100076 北京市豐*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 口徑 光學 遙感 器雙擴束 級聯 偏振 測試 系統 | ||
1.一種大口徑光學遙感器雙擴束級聯偏振測試系統，其特征在于，包括光源系統、偏振調制系統、一級準直系統和二級擴束系統；
光源系統包括光源組件(1)、透鏡組(2)；
偏振調制系統包括退偏器(5)和起偏器(6)；
一級準直系統包括光闌(3)、擴束透鏡組(4)、聚焦透鏡組(7)；
二級擴束系統包括平面反射鏡(8)和離軸非球面反射鏡(9)；
光源組件(1)發出的光束經過透鏡組(2)聚焦于一級準直系統的焦點處，然后經擴束透鏡組(4)準直為平行光束，焦點處采用光闌(3)約束視場雜光；
退偏器(5)位于擴束透鏡組(4)之后，將平行光束進行消偏后，照亮起偏器(6)產生線偏振光束；線偏振光束經過聚焦透鏡組(7)與二級擴束系統焦點耦合；
位于二級擴束系統焦點位置的線偏振光束，依次經過平面反射鏡(8)和離軸非球面反射鏡(9)，產生覆蓋空間光學遙感器的線偏振光束，進行偏振測試。
2.根據權利要求1所述的一種大口徑光學遙感器雙擴束級聯偏振測試系統，其特征在于，所述擴束透鏡組(4)為一個非球面透鏡或兩個非球面透鏡或激光配套鏡頭，且擴束透鏡組(4)出射光束覆蓋退偏器(5)的口徑。
3.根據權利要求1所述的一種大口徑光學遙感器雙擴束級聯偏振測試系統，其特征在于，所述聚焦透鏡組(7)為一個或兩個非球面透鏡，口徑與起偏器(6)口徑匹配。
4.根據權利要求1所述的一種大口徑光學遙感器雙擴束級聯偏振測試系統，其特征在于，所述二級擴束系統為離軸反射式平行光管。
5.根據權利要求1所述的一種大口徑光學遙感器雙擴束級聯偏振測試系統，其特征在于，光源選擇NKT超連續白光光源系統。
6.根據權利要求1所述的一種大口徑光學遙感器雙擴束級聯偏振測試系統，其特征在于，退偏器(5)為空間型雙巴比涅退偏器。
7.根據權利要求1所述的一種大口徑光學遙感器雙擴束級聯偏振測試系統，其特征在于，起偏器(6)采用MEXTEK偏振片。
8.根據權利要求1～7之一所述的一種大口徑光學遙感器雙擴束級聯偏振測試系統，其特征在于，測試系統的有效口徑大于等于1200mm。
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