[發(fā)明專利]電池異常檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011147436.5
• 申請(qǐng)日: 2020-10-23
• 公開（公告）號(hào): CN112345944B
• 公開（公告）日: 2023-06-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 謝紅斌
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: OPPO廣東移動(dòng)通信有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/3842
• 分類號(hào): G01R31/3842
• 代理公司: 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 熊文杰

本申請(qǐng)涉及一種電池異常檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其中，電池異常檢測(cè)方法包括獲取電子設(shè)備的電池在預(yù)設(shè)充電條件下的充電參數(shù)；獲取電池處于當(dāng)前充電過(guò)程的充電頻次；根據(jù)充電參數(shù)和充電頻次檢測(cè)電池是否異常。可以基于充電頻次來(lái)對(duì)充電參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)，進(jìn)而判斷電池是否異常，可以避免電池頻繁多次充電后電池老化，電池內(nèi)阻增大，可逆容量減少而導(dǎo)致異常檢測(cè)誤判的情況發(fā)生，進(jìn)而可以提高電池異常檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及充電技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種電池異常檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

電池作為為電子設(shè)備提供工作電能的裝置，是電子設(shè)備所不可或缺的重要部分。通常，電子設(shè)備中對(duì)電池的使用都會(huì)加入保護(hù)板，來(lái)控制電池的過(guò)充過(guò)放、過(guò)壓過(guò)流、以及溫度等提升電池的使用安全性能，從而可以保證電子設(shè)備的使用安全。但是保護(hù)板目前還無(wú)法檢測(cè)到因電池內(nèi)部的結(jié)構(gòu)變化而導(dǎo)致的異常，例如，電池老化等，其檢測(cè)精度低。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種電池異常檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，可以提高電池異常檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

一種電池異常檢測(cè)方法，應(yīng)用于電子設(shè)備，所述方法包括：

獲取所述電子設(shè)備的電池在預(yù)設(shè)充電條件下的充電參數(shù)；

獲取所述電池處于當(dāng)前充電過(guò)程的充電頻次；

根據(jù)所述充電參數(shù)和所述充電頻次檢測(cè)所述電池是否異常。

一種電池異常檢測(cè)裝置，應(yīng)用于電子設(shè)備，所述裝置包括：

參數(shù)獲取模塊，用于獲取所述電子設(shè)備的電池在預(yù)設(shè)充電條件下的充電參數(shù)；

頻次獲取模塊，用于獲取所述電池處于當(dāng)前充電過(guò)程的充電頻次；

異常檢測(cè)模塊，用于根據(jù)所述充電參數(shù)和所述充電頻次檢測(cè)所述電池是否異常。

一種電子設(shè)備，包括電池、存儲(chǔ)器及處理器，所述存儲(chǔ)器中儲(chǔ)存有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被所述處理器執(zhí)行時(shí)，使得所述處理器執(zhí)行如上述的電池異常檢測(cè)方法的步驟。

一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述的電池異常檢測(cè)方法的步驟。

上述電池異常檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，可對(duì)應(yīng)獲取電子設(shè)備的電池在預(yù)設(shè)充電條件下的充電參數(shù)，獲取電池當(dāng)前充電過(guò)程的充電頻次并根據(jù)充電參數(shù)和充電頻次檢測(cè)電池是否異常，可以基于充電頻次來(lái)對(duì)充電參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)，進(jìn)而判斷電池是否異常，可以避免電池頻繁多次充電后電池老化，電池內(nèi)阻增大，可逆容量減少而導(dǎo)致異常檢測(cè)誤判的情況發(fā)生，進(jìn)而可以提高電池異常檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本申請(qǐng)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本申請(qǐng)的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為一個(gè)實(shí)施例中電池異常檢測(cè)方法的應(yīng)用環(huán)境圖；

圖2為一個(gè)實(shí)施例中電池異常檢測(cè)方法的流程圖；

圖3為另一個(gè)實(shí)施例中電池異常檢測(cè)方法的流程圖；

圖4為一個(gè)實(shí)施例中執(zhí)行步驟204之前的方法流程圖；

圖5為又一個(gè)實(shí)施例中電池異常檢測(cè)方法的流程圖；

圖6為再一個(gè)實(shí)施例中電池異常檢測(cè)方法的流程圖；

圖7為一個(gè)實(shí)施例中電池異常檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)框圖。

具體實(shí)施方式