[發明專利]卷料芯片檢測和切割裝置及其控制方法

在審

• 申請號: 202011144349.4
• 申請日: 2020-10-23
• 公開（公告）號: CN112264328A
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發明（設計）人: 徐美祥
• 申請（專利權）人: 深圳市易安銳自動化設備有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/36;B21C47/02;B21C47/18;B23K26/38;B23K26/70;G01N21/892
• 代理公司: 深圳市惠邦知識產權代理事務所 44271
• 代理人: 滿群

本發明涉及一種卷料芯片檢測和切割裝置及其控制方法，其中裝置包括臺面架，通過支架依次固定在臺面架上的放料機構、第一動力輸送機構、回收吸塵機構、第二動力輸送機構、收料機構，還包括檢測機構、切割機構以及控制組件，卷料芯片從放料機構導出、經第一動力輸送機構、回收吸塵機構、第二動力輸送機構后由收料機構進行回收，所述切割機構通過支架固定在回收吸塵機構上方，所述檢測機構通過支架固定在切割機構前。本發明的裝置結合控制方法能夠實現自動檢測卷料芯片的不良品，并對其進行切割，在提高工作效率的同時確保產品質量以及減少污染，提高切割的安全系數。

技術領域

本發明涉及芯片加工領域，特別涉及一種卷料芯片檢測和切割裝置，以及卷料芯片檢測和切割裝置的控制方法。

背景技術

目前現有芯片技工領域中，對于卷料芯片的不良品進行檢測與分離的工序通常是通過人工進行，工作人員將卷料芯片裝卸后，進行逐片的檢查，若發現不良品的芯片需要人工使用刀片進行切割，檢查完后還需要進行人工收卷；

現有的方式卷料芯片處理速度慢，檢測效率低，同時還有可能出現由于人為因素導致誤判，人工收卷會導致收卷料不整齊，此外使用刀片進行不良品的切割的產量與效率低，產品存在差異性，安全隱患大。

發明內容

本發明的目的是：提供一種解決卷料芯片檢測效率低，人工切割產品質量差問題的卷料芯片檢測和切割裝置，本發明另一目的是提供一種能提高檢測效率且快速切割不良品芯片的卷料芯片檢測和切割裝置的控制方法。

本發明的技術解決方案是：一種卷料芯片檢測和切割裝置，其特殊之處在于，包括臺面架，通過支架依次固定在臺面架上的放料機構、第一動力輸送機構、回收吸塵機構、第二動力輸送機構、收料機構，還包括檢測機構、切割機構以及控制組件，卷料芯片從放料機構導出、經第一動力輸送機構、回收吸塵機構、第二動力輸送機構后由收料機構進行回收，所述切割機構通過支架固定在回收吸塵機構上方，所述檢測機構通過支架固定在切割機構前；

所述放料機構與收料機構的結構一致，所述第一動力輸送機構與第二動力輸送機構結構一致。

作為優選：所述放料機構通過放料機構支架固定在臺面架上，所述放料機構包括固定在放料機構支架上的放料圓盤、固定在放料機構支架上的若干導盤、活動安裝在放料機構支架上的張緊輥、通過底座安裝在臺面架上的過渡架，所述放料機構還包括有卷料芯片檢測傳感器，用于檢測放料機構的卷料芯片連貫性。

作為優選：所述動力輸送機構包括固定在臺面架上的電機座、固定在電機座內的步進電機、與所述步進電機輸出軸連接且與卷料芯片兩側缺口形成鍵連接的主動齒輪、固定在電機座上方的電機蓋，所述卷料芯片穿過電機蓋與電機座之間形成的豁口，在主動齒輪的帶動下向收料機構一側移動。

作為優選：所述回收吸塵機構包括固定在臺面架上的吸塵裝置固定座、內置在吸塵裝置固定座的吸塵裝置、固定安裝在吸塵裝置固定座上方的吸塵裝置固定蓋，所述吸塵裝置固定蓋上穿設有加工孔，所述卷料芯片穿過吸塵裝置固定座與吸塵裝置固定蓋之間形成的豁口，所述卷料芯片的芯片與加工孔位置對應。

作為優選：所述檢測機構通過檢測機構支架固定在臺面架上，所述檢測機構包括活動安裝在檢測機構支架上的相機安裝架、固定在相機安裝架上的相機、安裝在相機上的鏡頭、固定在檢測機構支架上且位于鏡頭下方的光源安裝架、安裝在光源安裝架上的光源，所述光源安裝架和光源中心貫穿有檢測孔，所述相機、鏡頭與檢測孔的軸線均位于同一光線通道上，用于對卷料芯片進行拍照并傳遞信號至控制模塊進行判斷當前檢測芯片是否為不良品。

作為優選：所述切割機構包括通過支架固定在臺面座上的激光器及位于激光器出光部位的折射機構，所述激光器射出的切割激光經折射機構內指的振鏡、場景、擴束鏡折射后穿過加工孔，用于切割控制模塊判斷為不良品的芯片薄膜段。