[發明專利]目標檢測方法、裝置及電子設備

在審

• 申請號: 202011143452.7
• 申請日: 2020-10-22
• 公開（公告）號: CN112418268A
• 公開（公告）日: 2021-02-26
• 發明（設計）人: 王劍鋒
• 申請（專利權）人: 北京邁格威科技有限公司
• 主分類號: G06K9/62
• 分類號: G06K9/62;G06N3/08
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 安衛靜

1.一種目標檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待檢測圖像；

將所述待檢測圖像輸入目標檢測模型，得到目標檢測結果；所述目標檢測結果包括目標對應的包圍框的位置和分數；其中，所述目標檢測模型通過如下方式訓練：

將圖像樣本集中的圖像樣本輸入學生網絡模型，得到與所述圖像樣本的第一特征圖的每個像素點對應的學生模型檢測結果；其中，所述圖像樣本標注有目標真值框，所述學生模型檢測結果包括與所述第一特征圖的每個像素點對應的第一基準位置的分數和所述第一基準位置對應的坐標信息；

獲取教師網絡模型對所述圖像樣本的教師模型檢測結果；其中，所述教師網絡模型為預先訓練好的模型，所述教師模型檢測結果包括與所述圖像樣本的第二特征圖的每個像素點對應的第二基準位置的分數和所述第二基準位置對應的坐標信息；其中，所述第一特征圖和所述第二特征圖的基準位置數相同；

根據所述教師模型檢測結果確定所述圖像樣本的標簽分配信息；

根據所述標簽分配信息和所述學生模型檢測結果計算所述學生網絡模型的損失函數值；

基于所述損失函數值調整所述學生網絡模型的參數繼續訓練，直至得到訓練好的學生網絡模型；

將訓練好的學生網絡模型作為所述目標檢測模型。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述教師模型檢測結果確定標簽分配信息的步驟，包括：

對于每個所述第二基準位置，分別計算該第二基準位置對應的第二預測框與所述圖像樣本的每個目標真值框的交疊比，得到矩陣IoU：

其中，i取值[1,N]，j取值[1,A]，N為所述標注真值框的個數，A為所述第二特征圖包括的第二基準位置的個數；

基于所述第二基準位置與每個所述目標真值框的所述交疊比和所述第二基準位置的分數，確定所述第二基準位置對于每個所述目標真值框對應目標的預測質量；其中，所述預測質量用于表征該第二基準位置檢測出的是該目標真值框對應目標的概率大小；

基于每個所述第二基準位置對于每個所述目標真值框對應目標的預測質量確定每個所述第一基準位置的標簽分配信息。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，基于所述第二基準位置對應的第二預測框與每個所述目標真值框的所述交疊比和所述第二基準位置的分數，確定每個所述第二基準位置對于每個所述目標真值框對應目標的預測質量的步驟，包括：

利用公式q_ij＝(s_j)^1-α*(IoU_ij)^α計算每個所述第二基準位置對于每個所述目標真值框對應目標的預測質量，得到預測質量矩陣Q；其中，q_ij取值為[0,1]，α為取值在[0,1]區間的預設超參數，s_j為第j個所述第二基準位置的分數，IoU_ij為第j個第二基準位置對應的第二預測框與第i個目標真值框的交疊比，為矩陣IoU中第i行第j列的元素；

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述圖像樣本還標注有各目標真值框對應的目標類型；

基于所述第二基準位置對應的第二預測框與每個所述目標真值框的所述交疊比和所述第二基準位置的分數，確定每個所述第二基準位置對于每個所述目標真值框對應目標的預測質量的步驟，包括：

利用公式q_ij＝(s_ij)^1-α*(IoU_ij)^α計算每個所述第二基準位置對于每個所述目標真值框對應目標的預測質量，得到預測質量矩陣Q；其中，q_ij取值為[0,1]，α為取值在[0,1]區間的預設超參數，s_ij為第j個第二基準位置的分數中對應于當前目標類型的分數，所述當前目標類型是指第i個目標真值框對應的目標類型，IoU_ij為第j個第二基準位置對應的第二預測框與第i個目標真值框的交疊比，為矩陣IoU中第i行第j列的元素；