[發明專利]一種光模塊的消光比調節系統及方法

有效

• 申請號: 202011138893.8
• 申請日: 2020-10-22
• 公開（公告）號: CN112421354B
• 公開（公告）日: 2021-09-28
• 發明（設計）人: 張悠悠;張時雪
• 申請（專利權）人: 深圳華添達信息技術有限公司
• 主分類號: H01S3/00
• 分類號: H01S3/00;G01K7/22
• 代理公司: 北京維正專利代理有限公司 11508
• 代理人: 任志龍

本申請涉及一種光模塊的消光比調節系統及方法，屬于光通信技術領域，消光比調節系統包括：檢測比較模塊，用于檢測激光器的實時溫度，并將該實時溫度與預定溫度進行比對，若實時溫度高于預定溫度，則輸出檢測信號；控制模塊，用于接收檢測信號，并根據檢測信號減小調制電流的輸出。本申請具有自動調節消光比的效果。

技術領域

本申請涉及光通信技術領域，尤其是涉及一種光模塊的消光比調節系統及方法。

背景技術

隨著互聯網大數據的快速發展，人們對更高速光網絡的渴望，推動著整個光通信行業的蓬勃發展，同時強有力的推動著包括光電器件技術在內的諸多核心技術的自主研發和創新突破。其中，100G光模塊就是這一大數據時代的產物。

對于光模塊來說，消光比是影響其精度的一個重要參數。在理論上，光發射機在傳送數字信號過程中，發“0”碼時應無光功率輸出，但實際的光發射機由于光源器件本身的問題或是直流偏置選擇不當，致使發“0”碼時也有微弱的光輸出。理論分析表明，這種情況將導致接收機靈敏度下降，消光比就是描述光發射機這種性能的指標，消光比是指激光器在發射全“1”碼時的光功率P1與全“0”碼時發射的光功率P0之比。

針對上述中的相關技術，發明人認為存在有以下缺陷：溫度的差異會導致電路元件參數的改變，影響功率，從而引起消光比變化，如溫度變化會導致激光器的斜效率發生變化。調制電流的作用會使激光器結區的溫度發生變化，溫度升高消光比會變小，而消光比變化過大會影響光模塊接收的靈敏度。

發明內容

為了對消光比進行調節，本申請提供了一種光模塊的消光比調節系統及方法。

第一方面，本申請提供一種光模塊的消光比調節系統，采用如下的技術方案：

一種光模塊的消光比調節系統，包括：

檢測比較模塊，用于檢測激光器的實時溫度，并將該實時溫度與預定溫度進行比對，若實時溫度高于預定溫度，則輸出檢測信號；

控制模塊，用于接收檢測信號，并根據檢測信號減小調制電流的輸出。

通過采用上述技術方案，偏置電流、調制電流是光模塊中影響消光比的兩個因素,可簡單理解成：消光比=偏置電流/調制電流。當溫度升高時，消光比變小，檢測比較模塊檢測到激光器的實時溫度高于預定溫度，檢測比較模塊輸出檢測信號給控制模塊，控制模塊通過減小調制電流的輸出，調制電流減小，消光比增大，進而實現對消光比進行調節。

可選的，所述檢測比較模塊包括檢測單元、第一電阻R1和比較器A1，所述檢測單元用于檢測激光器的實時溫度，檢測單元和比較器A1的同相端連接，所述第一電阻R1的一端和比較器A1的反相端連接，另一端和基準電壓Vf連接，所述比較器A1的輸出端和控制模塊連接。

通過采用上述技術方案，檢測單元檢測激光器的實時溫度，并轉化成電壓信號作用在比較器A1的同相端上，比較器A1將該電壓信號與反相端的參考電壓作對比，當實時溫度高于預定溫度時，比較器A1的輸出狀態發生改變，比較器A1輸出檢測信號給控制模塊。

可選的，所述檢測單元包括熱敏電阻RT和第五電阻R5，所述熱敏電阻RT的一端和輸入電壓Vcc連接，另一端和和比較器A1的同相端連接，所述第五電阻R5的一端和比較器A1的同相端連接，另一端接地。

通過采用上述技術方案，熱敏電阻RT對激光器的溫度進檢測，熱敏電阻RT的阻值隨溫度的變化而變化，熱敏電阻RT的分壓發生改變，進而使比較器A1同相端的電壓發生改變。