[發(fā)明專利]一種剔料熱封裝置及剔料方法

有效

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• 申請日: 2020-10-16
• 公開（公告）號: CN112389776B
• 公開（公告）日: 2022-08-12
• 發(fā)明（設計）人: 劉揚
• 申請（專利權）人: 貝隆精密科技股份有限公司
• 主分類號: B65B57/12
• 分類號: B65B57/12;B65G47/248;B07C5/38;B07C5/36
• 代理公司: 杭州杭誠專利事務所有限公司 33109
• 代理人: 林寶堂

1.一種剔料熱封裝置，其特征是，包括底板，所述底板上安裝有上料組件、檢測組件、熱封組件，所述熱封組件包括熱封輸送帶，所述檢測組件包括第一檢測組件和第二檢測組件，所述第一檢測組件包括第一檢測輸送帶、用于將電子件從上料組件移動到第一檢測輸送帶的第一機械手和用于將電子件從第一檢測輸送帶移動到所述熱封輸送帶上的第二機械手，所述第二檢測組件包括第二檢測輸送帶，所述第二檢測輸送帶上連接有返料區(qū)，第二檢測輸送帶的一端的下方設有廢料回收盒，所述第一檢測組件還包括用于將電子件從第一檢測輸送帶移動到第二檢測輸送帶上的剔料推爪，所述第二檢測組件還包括用于將電子件從第二檢測輸送帶移動到所述返料區(qū)的返料推爪和用于將電子件從返料區(qū)移動到所述熱封輸送帶上的第三機械手，所述第一檢測輸送帶和第二檢測輸送帶之間設有用于將被檢測的電子件翻面的翻面結構，所述第一檢測輸送帶的高度高于所述第二檢測輸送帶，所述翻面結構包括斜軌和彈性轉座，所述斜軌朝向第二檢測輸送帶的一端向下傾斜，所述彈性轉座包括安裝在底板上的轉軸，所述轉軸上設有扭簧，所述轉軸上連接有限位板和翻面板；限位板的下側與第二檢測輸送帶接觸的同時，所述翻面板將電子件的上部向第二檢測輸送帶的方向推動，從而使電子件發(fā)生翻面并且落在所述第二檢測輸送帶上。

2.根據權利要求1所述的一種剔料熱封裝置，其特征是，所述斜軌在朝向所述第二檢測輸送帶的一側設有一段豎直面。

3.根據權利要求1所述的一種剔料熱封裝置，其特征是，所述上料組件包括安裝在所述底板上的橫向軌道和橫向滾珠絲桿，所述橫向軌道上安裝有橫向移動座，所述橫向移動座通過所述橫向滾珠絲桿控制移動，所述橫向移動座上安裝有縱向軌道，所述縱向軌道上安裝有縱向移動座和縱向滾珠絲桿，所述縱向移動座通過所述縱向滾珠絲桿控制移動，所述縱向移動座上安裝有用于放置所述電子件的電子件托盤。

4.根據權利要求3所述的一種剔料熱封裝置，其特征是，所述縱向移動座上電子件托盤的數(shù)量不小于2個。

5.根據權利要求1所述的一種剔料熱封裝置，其特征是，所述第一檢測組件和第二檢測組件均包括檢測支架，所述檢測支架包括豎向支架，所述豎向支架上安裝有可以豎向移動的鏡頭安裝座，所述鏡頭安裝座上安裝有可以橫向移動的橫向鏡頭支架，所述橫向鏡頭支架上安裝有鏡頭。

6.一種剔料方法，使用權利要求1所述的剔料熱封裝置實現(xiàn)，其特征是，包括以下步驟：

①通過第一機械手將上料組件中的電子件移動到所述第一檢測輸送帶上；

②電子件在所述第一檢測輸送帶上進行第一次檢測；

③通過所述剔料推爪將第一次檢測為不合格的電子件移動到所述第二檢測輸送帶上，該過程中電子件經過翻面結構時完成翻面；

④通過所述第二機械手將第一次檢測為合格的電子件移動到所述熱封輸送帶上；

⑤第二檢測輸送帶上的電子件進行第二次檢測；

⑥通過所述返料推爪將第二次檢測合格的電子件移動到所述返料區(qū)上，而第二次檢測不合格的電子件落入所述廢料回收盒中；

⑦通過所述第三機械手將所述返料區(qū)中的電子件移到所述熱封輸送帶上；

⑧所述熱封輸送帶上的電子件依次經過所述熱封組件完成熱封。