[發明專利]一種基于單目視覺的齒形結構裝配測量方法有效
| 申請號: | 202011100315.5 | 申請日: | 2020-10-15 |
| 公開(公告)號: | CN113405451B | 公開(公告)日: | 2022-05-31 |
| 發明(設計)人: | 李瀧杲;黃翔;李航宇;李根;褚文敏;周蒯;孔盛杰;樓佩煌;錢曉明 | 申請(專利權)人: | 南京航空航天大學;南京航空航天大學蘇州研究院 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00;G06K9/62;G06T7/00;G06T7/13;G06T7/62;G06T7/66;G06V10/762 |
| 代理公司: | 蘇州國卓知識產權代理有限公司 32331 | 代理人: | 康進廣 |
| 地址: | 210016*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 目視 齒形 結構 裝配 測量方法 | ||
1.一種基于單目視覺的齒形結構裝配測量方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1:基于自適應核與自適應閾值的SUSAN算法提取齒形結構輸出軸、輸入軸齒頂角點;
S2:根據路徑搜索法及距離約束獲取輸出軸缺齒、輸入軸花鍵中點在圖像中的坐標;
S3:采用RANSAC思想聚類,剔除誤差較大的候選點,從而便于后續對輸出軸齒頂圓、輔助圓,輸入軸齒頂圓、輔助圓進行橢圓擬合并獲取橢圓參數;
S4:通過圖像坐標系下的齒頂圓投影橢圓、輔助圓投影橢圓、缺齒與花鍵中點信息解算齒形結構空間六自由度位姿;
所述步驟S2包括以下內容:
b1:沿橢圓路徑計算鄰近齒頂的距離,當距離取得最大值時所對應的兩點即為缺齒兩角點,設pi,pj為齒頂點集C中沿橢圓路徑的鄰近兩點,最終獲得的兩點坐標記p1,p2如下式:
max(pi,pj)=||pi-pj||2(i≠j,i,j∈C);
b2:通過齒頂點擬合的橢圓向外作環形ROI區域包含花鍵部分,基于上述的SUSAN法檢測其角點位置即可獲得花鍵兩端點,記為q1,q2,輸出軸缺齒中點坐標P與輸入軸花鍵中點坐標Q如下式:
2.根據權利要求1所述的一種基于單目視覺的齒形結構裝配測量方法,其特征在于:所述步驟S1包括以下內容:
a1:基于灰度直方圖,利用近似一維Means方法尋找二值化閾值,計算SUSAN模板半徑:
其中R1為輸出軸模板半徑,R2為輸入軸模板半徑,n(IA1),n(IA2)為各自環形ROI(感興趣區域)前景所占像素數,n(IB1),n(IB2)為各自環形ROI內背景所占像素數,n(IK1,K2)為各自環形ROI所占的像素數,n(IQ)為圖像總分辨率;
a2:計算模板鄰域內的各個像素與中心像素的灰度差,記初始迭代值L1,其中R為模板半徑:
將上述灰度差小于且等于L1的灰度值歸為集合A,其余歸入集合B,進入下一輪迭代,記L2,式中q為模板領域內某一像素與中心像素的灰度差值,A(q),B(q)分別為集合A,B中具有等同于q值的像素點數;
以上式類推,不斷迭代計算L3,…,Ln,直至Ln與Ln-1差值的絕對值為零時退出迭代,并將最后一次的迭代值賦值給相似比較函數中的灰度差閾值t。
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