[發明專利]一種基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗方法及系統

在審

• 申請號: 202011088544.X
• 申請日: 2020-10-13
• 公開（公告）號: CN112381346A
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發明（設計）人: 劉偉超;吳擁軍;陳亮;李文賢;朱煥超;章藝
• 申請（專利權）人: 廣州賽意信息科技股份有限公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06F16/957;G06Q50/04
• 代理公司: 廣州容大知識產權代理事務所(普通合伙) 44326
• 代理人: 劉新年

1.一種基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗方法，其特征在于，所述的方法具體包括如下步驟：

獲取產品工藝配方參數數據；

通過API網關實時下發產品工藝配方參數數據；

驗證所述實時下發的產品工藝配方參數數據。

2.根據權利要求1所述的一種基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗方法，其特征在于，于步驟通過API網關實時下發產品工藝配方參數數據之中，還包括如下步驟：

通過服務節點實時緩存所述下發的產品工藝配方參數數據。

3.根據權利要求1所述的一種基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗方法，其特征在于，于步驟驗證所述實時下發的產品工藝配方參數數據之中，還包括如下步驟：

獲取生產設備收到生產任務數據信息；

對所述的產品工藝配方參數數據實時第一次校驗。

4.根據權利要求3所述的一種基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗方法，其特征在于，于步驟對所述的產品工藝配方參數數據實時第一次校驗之中，還包括如下步驟：

于配方緩存中查詢與所述產品工藝配方參數數據相對應的第二工藝配方參數；

實時第二次下發所述的第二工藝配方參數數據。

5.根據權利要求4所述的一種基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗方法，其特征在于，于步驟實時第二次下發所述的第二工藝配方參數數據步驟之后，還包括如下步驟：

獲取生產設備工藝配方參數數據；

對所述生產設備工藝配方參數數據實時第二次校驗。

6.根據權利要求5所述的一種基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗方法，其特征在于，于步驟獲取生產設備工藝配方參數數據步驟之前，還包括如下步驟：

獲取生產設備成功接收所述第二工藝配方參數數據信息。

7.根據權利要求5所述的一種基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗方法，其特征在于，于步驟對所述生產設備工藝配方參數數據實時第二次校驗步驟之中，還包括如下步驟：

判斷是否下發設備生產指令，若所述第二次校驗通過，則下發設備生產指令，否則下發設備停止運作指令并轉發生產設備待維護數據信息。

8.一種基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗系統，其特征在于，所述的系統具體包括：

獲取單元，用于獲取產品工藝配方參數數據；

下發單元，用于通過API網關實時下發產品工藝配方參數數據；

驗證單元，用于驗證所述實時下發的產品工藝配方參數數據。

9.根據權利要求8所述的一種基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗系統，其特征在于，

所述的下發單元中，還包括：

第一下發模塊，用于通過服務節點實時緩存所述下發的產品工藝配方參數數據；

所述的驗證單元中，還包括：

第一獲取模塊，用于獲取生產設備收到生產任務數據信息；

第一驗證模塊，用于對所述的產品工藝配方參數數據實時第一次校驗；

所述的第一驗證模塊中，還包括：

查詢模塊，用于于配方緩存中查詢與所述產品工藝配方參數數據相對應的第二工藝配方參數；

第二下發模塊，用于實時第二次下發所述的第二工藝配方參數數據；

第二獲取模塊，用于獲取生產設備工藝配方參數數據；

第二驗證模塊，用于對所述生產設備工藝配方參數數據實時第二次校驗；

第三獲取模塊，用于獲取生產設備成功接收所述第二工藝配方參數數據信息；

所述的第二驗證模塊中，還包括：

判斷模塊，用于判斷是否下發設備生產指令。

10.一種基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗平臺，其特征在于，包括：

處理器、存儲器以及用于基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗的平臺控制程序；

其中在所述的處理器執行所述的用于基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗的平臺控制程序，所述的用于基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗的平臺控制程序被存儲在所述存儲器中，所述的用于基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗的平臺控制程序，實現如權利要求1至7中任一項所述的用于基于API網關的產品工藝配方參數下發校驗的方法步驟。