[發明專利]eMMC質量檢測修復方法、裝置及其存儲介質

在審

• 申請號: 202011088371.1
• 申請日: 2020-10-13
• 公開（公告）號: CN112289364A
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 李想;黎彪
• 申請（專利權）人: 珠海全志科技股份有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12;G11C29/56
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 尹凡華

本發明公開了一種eMMC質量檢測修復方法、裝置及存儲介質，其中該方法包括：讀取eMMC芯片的協議版本信息及生產日期，非失真寄存器及只讀信息，獲取所述eMMC芯片的第一質量狀態；讀取所述eMMC芯片的數據存儲區，判斷是否全為默認值，提取分區特征，獲取所述eMMC芯片的第二質量狀態；對所述eMMC芯片進行讀取擦除性能檢測，獲取所述eMMC芯片的第三質量狀態；根據第一質量狀態、第二質量狀態及第三質量狀態生成所述eMMC芯片的質量評估結果；根據所述質量評估結果，對所述非失真寄存器開啟的功能進行關閉，通過擦除命令修復數據存儲區，并對讀寫性能進行修復。簡要描述技術效果。本發明通過多種方式檢測，檢測修復的覆蓋面廣，準確率高，貼近用戶實際使用需求。

技術領域

本發明涉及eMMC領域，特別涉及一種eMMC質量檢測修復方法、裝置及其存儲介質。

背景技術

eMMC被廣泛的使用于手機平板電腦等各種電子產品當中，隨著技術的更新迭進，原本用于手機等產品的eMMC轉而被大量淘汰，變成拆機片等，然后被應用于其他電子產品，這些淘汰后的eMMC產品質量參差不齊，并且混雜在正品eMMC當中，對使用廠家造成很大的困惑和問題，因此如何快速的檢測出這些eMMC的質量，并且修復，成為各個eMMC使用廠家的重要課題。目前常用的檢測eMMC質量的方式簡單粗暴，很容易漏掉一些問題芯片。

發明內容

本發明旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此，本發明提出一種eMMC質量檢測修復方法，能夠快速的檢測出eMMC的質量信息，并提供修復。

本發明還提出一種使用上述eMMC質量檢測修復方法的eMMC質量檢測修復裝置。

本發明還提出一種可執行上述eMMC質量檢測修復方法的計算機存儲介質。

根據本發明的第一方面實施例的eMMC質量檢測修復方法，包括：根據eMMC協議特征，讀取eMMC芯片的協議版本信息及生產日期，非失真寄存器及只讀信息，獲取所述eMMC芯片的第一質量狀態；讀取所述eMMC芯片的數據存儲區，判斷是否全為默認值，提取分區特征，獲取所述eMMC芯片的第二質量狀態；對所述eMMC芯片進行讀取擦除性能檢測，獲取所述eMMC芯片的第三質量狀態；根據所述第一質量狀態、所述第二質量狀態及所述第三質量狀態生成所述eMMC芯片的質量評估結果；根據所述質量評估結果，對所述非失真寄存器開啟的功能進行關閉，通過擦除命令修復數據存儲區，并對讀寫性能進行修復。

根據本發明實施例的eMMC質量檢測修復方法，至少具有如下有益效果：通過多種方式檢測，充分結合eMMC協議，分析從eMMC自身反饋的數據，得到eMMC的使用情況，進而分析其質量情況，并且根據使用情況，結合協議，提供修復方案，檢測修復的覆蓋面廣，準確率高，貼近用戶實際使用需求，實用性強。

根據本發明的一些實施例，所述第一質量狀態的獲取方法包括：對比所述協議版本信息與當前最新的eMMC協議版本，獲得版本差值，對比生產日期及當前日期的差值，獲得日期差值；讀取所述非失真寄存器中的值，判斷所述eMMC芯片支持的功能是否被開啟，獲得功能設置狀態；通過eMMC協議命令讀取只讀信息，判斷所述只讀信息中是否包含只讀區域信息，獲得只讀區域設置狀態；根據所述版本差值、所述日期差值、所述功能設置狀態及所述只讀區域設置狀態，得到所述第一質量狀態。從eMMC協議特征方面多角度判斷eMMC芯片的老舊情況，據老舊情況評估芯片質量風險。

根據本發明的一些實施例，所述第一質量狀態的獲取方法還包括：若所述協議版本信息為eMMC協議5.0以上，則根據Device Health Report獲取所述eMMC芯片的壽命信息；根據所述壽命信息得到所述第一質量狀態。對于能獲取壽命信息的芯片，進一步提高質量評估準確性，利于及早發現壽命已盡或將近的芯片。