[發明專利]狀態檢測電路及控制檢測方法

有效

• 申請號: 202011081403.5
• 申請日: 2020-10-12
• 公開（公告）號: CN111929570B
• 公開（公告）日: 2021-03-23
• 發明（設計）人: 秦鵬舉;張振浩
• 申請（專利權）人: 上海海櫟創科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海啟核知識產權代理有限公司 31339
• 代理人: 王仙子

本發明公開了一種狀態檢測電路及控制檢測方法，狀態檢測電路包括：IO接口電路，計數電路，邏輯電路；IO接口電路主要用于在不同的計數狀態打開不同數量的開關，并隨著計數的增加，在條件滿足時，關閉計數器，輸出此時的計數狀態；計數電路主要用于產生從0……00到1……11的計數；邏輯電路包括解碼電路和邏輯轉換電路，所述解碼電路根據計數器的計數狀態，輸出不同的開關控制信號；所述邏輯轉換電路根據計數器的計數狀態，轉換成不同的內部狀態控制信號。本發明的技術方案通過簡單的時序控制和電壓檢測相結合的方式，實現了多種不同外接方式的狀態檢測，省去了比較器的應用，縮小了芯片的面積。

技術領域

本發明屬于集成電路設計技術領域，涉及一種狀態檢測電路及控制檢測方法。

背景技術

在電子產品中，隨著集成化的高度發展，芯片設計希望在同一管腳上通過一些簡單的方式來實現不同的控制方式，例如在管腳上接不同阻值的電阻，直接接地，浮空，直接接電源等。傳統的檢測方式中檢測電路面積較大，越來越不適合于集成電路設計的發展需求。

傳統控制模式如圖1所示，通過外接不同的電阻改變內部電阻節點的分壓值，芯片對該節點電壓值進行判斷，不同的電壓值對應不同的工作模式。

內部電路實現如圖2所示，通過IO口外部直接接地，接不同電阻到地，懸空，接不同電阻到電源，直接接電源等多種不同的外部連接方式，可實現內部多種不同模式的選擇。這種檢測方式優點是設計結構簡單，不需要復雜的時序設計；缺點是IO口需要較多的比較器對不同接法的電壓進行比較，耗費了大量的面積資源：每種狀態都單獨需要一個個比較器，而比較器面積相對較大。

發明內容

本發明的目的在于提供一種狀態檢測電路及控制檢測方法，至少可以實現多種不同外接方式的狀態檢測，減少芯片的面積。

根據本發明的第一方面，提供一種狀態檢測電路，包括：

IO接口電路，計數電路，邏輯電路；

IO接口電路主要用于在不同的計數狀態打開不同數量的開關，并隨著計數的增加，在條件滿足時，關閉計數電路，輸出此時的計數狀態；

計數電路主要用于產生從0……00到1……11的計數；

邏輯電路包括解碼電路和邏輯轉換電路，所述解碼電路根據計數電路的計數狀態，輸出不同的開關控制信號；所述邏輯轉換電路根據計數電路的計數狀態，轉換成不同的內部狀態控制信號。

可選的，所述IO接口電路包括m個開關，m個電流源，比較器和非門，一個開關和一個電流源串聯后，每個開關皆連接至IO口，比較器的正輸入端也連接至IO口，負輸入端接內部基準電壓VREF，輸出端接非門的輸入端并連接至邏輯電路；隨著計數的增加，打開的電流源變多，在IO口外接固定電阻到地的時候，IO端的電壓會逐漸增大，當大于內部基準電壓VREF的時候，關閉計數電路，輸出此時的計數狀態。

可選的，所述IO接口電路包括m個開關，m個不同電流值的電流源，比較器和非門，一個開關和一個電流源串聯后，每個開關皆連接至IO口，比較器的正輸入端也連接至IO口，負輸入端接內部基準電壓VREF，輸出端接非門的輸入端并連接至邏輯電路；隨著計數的增加，逐次打開對應次序的開關，則對應的電流源接通，關閉其他開關，在IO口外接固定電阻到地的時候，IO端的電壓會逐漸增大，當大于內部基準電壓VREF的時候，關閉計數電路，輸出此時的計數狀態。