[發明專利]測試元件組在審
| 申請號: | 202011079419.2 | 申請日: | 2020-10-10 |
| 公開(公告)號: | CN112201186A | 公開(公告)日: | 2021-01-08 |
| 發明(設計)人: | 吳瑞習 | 申請(專利權)人: | 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00;G09G3/36;G01R31/26;G01R1/073;G01R1/18;G01R1/04;H05F3/00 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570 | 代理人: | 何志軍 |
| 地址: | 518132 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 元件 | ||
1.一種測試元件組,用于對一陣列基板進行電性測試,其特征在于,所述測試元件組包括:
一測試治具,所述測試治具包括多組探針組,每一組所述探針組用于與一所述陣列基板上多個間隔設置的測試端子電性接觸;
靜電消除裝置,每一所述靜電消除裝置設置于相鄰兩所述測試端子之間,用以消除所述探針組上的靜電。
2.根據權利要求1所述的測試元件組,其特征在于,所述測試元件組還包括測試機臺,所述測試機臺與所述多組探針電連接,用于獲取所述探偵組上的電信號。
3.根據權利要求1所述的測試元件組,其特征在于,每一所述探針組包括間隔設置的一第一探針和一第二探針,每一所述探針組的所述第一探針、所述第二探針分別用于與一所述測試端子的兩端相接觸。
4.根據權利要求3所述的測試元件組,其特征在于,所述測試元件組還包括測試機臺,所述測試機臺與每一所述第一探針電連接并用于獲取所述第一探針上的電信號,并且所述測試機臺與每一所述第二探針電連接并用于獲取所述第二探針上的電信號。
5.根據權利要求4所述的測試元件組,其特征在于,所述測試機臺包括一電訊號實時監測儀,所述電訊號實時監測儀用于實時監測所述第一探針、所述第二探針的電信號的大小。
6.根據權利要求5所述的測試元件組,其特征在于,所述電訊號實時偵測儀包括多個偵測端,所述第一探針、所述第二探針分別通過數據信號線與所述偵測端電連接。
7.根據權利要求1所述的測試元件組,其特征在于,所述靜電消除裝置包括一阻抗元件,所述阻抗元件用于阻隔所述陣列基板的兩相鄰測試端子之間的通路。
8.根據權利要求1所述的測試元件組,其特征在于,所述測試治具具有一第一端和一第二端,所述測試機臺設置于所述第一端上,多組所述探針組均勻間隔設置于所述第二端上。
9.根據權利要求8所述的測試元件組,其特征在于,所述測試治具的所述第二端延伸于所述陣列基板的多個測試端子形成的一側通道內。
10.根據權利要求9所述的測試元件組,其特征在于,所述靜電消除裝置與所述測試治具的所述第二端進行可拆卸連接。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司,未經深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011079419.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





