[發明專利]一種基于滑塊檢測的自運輸檢測平臺

有效

• 申請號: 202011068506.8
• 申請日: 2020-10-09
• 公開（公告）號: CN111929052B
• 公開（公告）日: 2021-02-02
• 發明（設計）人: 吳天峰;周孟愷;金榮通
• 申請（專利權）人: 溫州深信云電子科技有限公司
• 主分類號: G01M13/00
• 分類號: G01M13/00;G01B21/00;G01D21/02;G01L5/00;G05B19/042
• 代理公司: 北京睿博行遠知識產權代理有限公司 11297
• 代理人: 龔家驊

1.一種基于滑塊檢測的自運輸檢測平臺，其特征在于，包括：

待檢滑塊盛放箱，用以盛放待檢測滑塊；

第一機械手，其設置在所述待檢滑塊盛放箱一側，用以將待檢測滑塊從待檢滑塊盛放箱抓取至待檢滑塊第一運行軌道；

滑塊第一運行軌道，其設置在所述待檢滑塊盛放箱與所述第一機械手相鄰的一側，用以運輸所述第一機械手抓取的滑塊；當所述第一機械手將滑塊抓取至滑塊第一運行軌道上方時，第一機械手松開滑塊以使滑塊掉落至滑塊第一運行軌道上表面以使滑塊第一運行軌道完成對滑塊的輸送；

滑塊第二運行軌道，其設置在所述滑塊第一運行軌道末端并和滑塊第一運行軌道相連，用以輸送所述滑塊第一運行軌道輸出的滑塊；

滑塊第三運行軌道，其設置在所述滑塊第二運行軌道末端并和滑塊第二運行軌道相連，用以輸送所述滑塊第二運行軌道輸出的滑塊；滑塊第四運行軌道，其設置在所述滑塊第三運行軌道末端并和滑塊第三運行軌道相連，用以輸送所述滑塊第三運行軌道輸出的滑塊；所述滑塊第四運行軌道表面光滑度和直線度均低于上述各滑塊運行軌道，用以模擬滑塊實際應用的場景；

壓力柱，其設置在各所述滑塊運行軌道上方，用以壓住滑塊并給滑塊提供推力；

測距傳感器，其設置在所述壓力柱上，用以記錄所述滑塊在所述滑塊第一運行軌道上的運行距離；

跳動感應器，其設置所述壓力柱上，用以檢測滑塊在滑動期間的跳動值；

推力傳感器，其設置所述壓力柱上，用以檢測滑塊在滑動期間維持指定速度所需提供的最小推力；

表面檢測儀，其設置在所述滑塊第四運行軌道末端，用以檢測待檢滑塊表面狀態；

第二機械手，其設置在各所述滑塊運行軌道與所述第一機械手相對的一側，用以將不合格的滑塊剔除或將合格的滑塊根據滑塊等級從滑塊第四運行軌道抓取至對應的傳送帶；

多條運料傳送帶，其設置在所述第二機械手與各所述滑塊運行軌道相對的一側，包括一級品質傳送帶、二級品質傳送帶、三級品質傳送帶和不合格品傳送帶，用以分別運輸對應等級的滑塊；

中控模塊，其分別與所述第一機械手、所述壓力柱、所述測距傳感器、所述跳動感應器、所述表面檢測儀和所述第二機械手相連，用以控制部件運行狀態；

所述中控模塊內設有編碼程序，能夠根據第一機械手抓取的順序對各待檢測滑塊依次進行編號，對于編號為i的檢測滑塊，i＝1,2,3,……n，中控模塊會根據滑塊在滑塊第一運行軌道上運行的距離生成的距離分數Ai、在滑塊第二運行軌道上運行的跳動值生成的標準跳動分數Bi、在滑塊第三運行軌道運行得到的跳動值生成的弱力跳動分數Ci、在滑塊第四運行軌道上運行狀態生成工作環境分數Di以及根據表面檢測儀檢測的結果生成的表面狀態分數Ei以對該滑塊進行評級：

當所述檢測平臺對所述滑塊依次進行檢測且該滑塊在一項測試的評分未達到該項分數的合格值時，中控模塊判定該滑塊不合格并在完成評分不合格的項目的檢測后控制第二機械手將檢測滑塊抓取至不合格品傳送帶；

當所述滑塊的各項得分均大于對應項目的合格值時，中控模塊根據各項得分計算該滑塊的總分；

所述中控模塊內設有總分等級矩陣F0和總分計算公式fi，fi＝Ai×a+Bi×b+Ci×c+Di×d+Ei×e，其中，a為Ai對總分fi的計算權重，b為Bi對總分fi的計算權重，c為Ci對總分fi的計算權重，d為Di對總分fi的計算權重，e為Ei對總分fi的計算權重；

對于總分等級矩陣F0，F0(F1,F2,F3)其中，F1為預設一級品質標準分數，F2為預設二級品質標準分數，F3為預設三級品質標準分數，各分數具體數值依次減小；

當所述編號為i的滑塊的各項得分均大于對應項目的合格值時，所述中控模塊利用上式計算該滑塊的總分fi并將fi與所述總分等級矩陣F0內各參數做對比：

當fi≥F1時，中控模塊判定滑塊處于一級品質，中控模塊控制第二機械手將檢測滑塊抓取至一級品質傳送帶；

當F2≤fi＜F1時，中控模塊判定滑塊處于二級品質，中控模塊控制第二機械手將檢測滑塊抓取至二級品質傳送帶；

當F3≤fi＜F2時，中控模塊判定滑塊處于三級品質，中控模塊控制第二機械手將檢測滑塊抓取至三級品質傳送帶；

當fi＜F3時，中控模塊判定滑塊為不合格品，中控模塊控制第二機械手將檢測滑塊抓取至不合格品傳送帶。