[發明專利]一種晶圓蝕刻載具設備在審
| 申請號: | 202011064354.4 | 申請日: | 2020-09-30 |
| 公開(公告)號: | CN112117222A | 公開(公告)日: | 2020-12-22 |
| 發明(設計)人: | 李娜 | 申請(專利權)人: | 李娜 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/687 |
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| 地址: | 201800 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 蝕刻 設備 | ||
本發明公開了一種晶圓蝕刻載具設備,其結構包括蝕刻箱、控制器、觀察窗口、排液管、滑塊,控制器通過螺栓連接于蝕刻箱前側,觀察窗口嵌設于蝕刻箱右上表面,排液管貫穿于蝕刻箱右壁,滑塊通過活動卡合連接于蝕刻箱前側,本發明的有益效果在于:將晶圓放置在置物槽中,晶圓下壓夾緊板使受壓的支撐桿向下擠壓支撐彈簧,使得夾緊板兩端翹起將晶圓夾持固定,避免在蝕刻過程中晶圓晃動,置物板在底板表面滑動的過程中晶圓與擦拭塊接觸,晶圓推動刷拭器使轉輥轉動至擋板右端與限位輥接觸狀態,在彈性片的彈力與支撐塊的支撐下使得刷條能夠來回擺動,便于對晶圓表面進行刷拭,以免晶圓表面含有雜質影響后續對晶圓的安裝。
技術領域
本發明涉及晶圓蝕刻領域,尤其是涉及到一種晶圓蝕刻載具設備。
背景技術
晶圓是指制作硅半導體積體電路所用的硅晶片,其原始材料是硅,在對晶圓加工時,使用晶圓蝕刻載具設備將已被切割的晶圓進行固定轉移,再通過化學反應對晶圓進行蝕刻。
目前現有的一種晶圓蝕刻載具設備,在對晶圓進行蝕刻時,首先將晶圓進行固定在蝕刻籃中的托盤上,置放晶圓時需置放于托盤中部,對于晶圓的固定通過粘性材料進行粘附,導致在取下蝕刻后的晶圓表面含有粘性,不及時進行刮除容易沾有灰塵在晶圓表面,影響對晶圓的安裝。
發明內容
針對現有的一種晶圓蝕刻載具設備,在對晶圓進行蝕刻時,首先將晶圓進行固定在蝕刻籃中的托盤上,置放晶圓時需置放于托盤中部,對于晶圓的固定通過粘性材料進行粘附,導致在取下蝕刻后的晶圓表面含有粘性,不及時進行刮除容易沾有灰塵在晶圓表面,影響對晶圓的安裝的不足,本發明提供一種晶圓蝕刻載具設備來解決上述技術問題。
本發明是通過如下的技術方案來實現:一種晶圓蝕刻載具設備,其結構包括蝕刻箱、控制器、觀察窗口、排液管、滑塊,所述控制器通過螺栓連接于蝕刻箱前側,所述觀察窗口嵌設于蝕刻箱右上表面,所述排液管貫穿于蝕刻箱右壁,所述滑塊通過活動卡合連接于蝕刻箱前側,所述蝕刻箱包括隔板、底板、升降器、頂板、置物板、擦拭塊,所述隔板垂直嵌固于蝕刻箱左內部,所述底板底部通過焊接連接于蝕刻箱內底部表面,所述升降器底端通過配合安裝于底板上表面,所述頂板嵌固于升降器頂部,所述置物板下表面緊貼于頂板上表面,所述底板上表面光滑,且升降器降下后置物板與底板上表面平齊,并且滑塊與置物板相連接。
更進一步的說,所述置物板包括限位板、夾緊板、置物槽,所述限位板底部焊接在置物板上表面,所述夾緊板嵌固于限位板內側,所述置物槽嵌設于夾緊板上表面,所述限位板為橡膠材質,且夾緊板為齒狀。
更進一步的說,所述夾緊板包括定位塊、支撐桿、推塊,所述定位塊與夾緊板底部為一體化結構,所述支撐桿通過間隙連接于定位塊上壁,所述推塊底部緊貼于支撐桿頂端,所述定位塊有四塊,且推塊上表面呈弧形彎曲。
更進一步的說,所述支撐桿包括定位板、吸快、支撐彈簧、固定板,所述定位板頂部通過焊接連接于支撐桿底端,所述吸快與支撐彈簧頂端分別嵌固于定位板下表面,所述固定板通過焊接連接于支撐彈簧末端且嵌固于定位塊內底部,所述支撐彈簧有兩根,且固定板中部上表面向下呈弧形凹陷。
更進一步的說,所述擦拭塊包括固定桿、限位輥、轉輥,所述固定桿頂端焊接在擦拭塊內底部,所述限位輥通過活動卡合連接于擦拭塊內底部,所述轉輥通過螺栓連接于固定桿末端,所述擦拭塊底部鏤空,且固定桿有四根,并且限位輥有三根。
更進一步的說,所述轉輥包括擋板、滑槽、刷拭器,所述擋板安裝在轉輥內部,所述滑槽嵌設于擋板上表面,所述刷拭器頂端通過焊接連接于擋板底部,所述滑槽呈圓弧形,且擋板固定不動,并且刷拭器為橡膠材質組成。
更進一步的說,所述刷拭器由組成刷條、凹塊、支撐塊、彈性片,所述凹塊嵌設于刷條外表面,所述支撐塊通過焊接連接于兩跟刷條之間,所述彈性片左右兩端分別嵌固于左右兩側的刷條內側,所述凹塊呈半圓形凹陷,且刷條有四根,并且彈性片的彈力大于刷條的重力。
有益效果
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





