[發明專利]模塊化測試裝置及其應用的測試設備

在審

• 申請號: 202011061617.6
• 申請日: 2020-09-30
• 公開（公告）號: CN114325208A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 李子瑋;李思宏
• 申請（專利權）人: 鴻勁精密股份有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01;G01R31/00
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139
• 代理人: 李林

本發明提供一種模塊化測試裝置，包含承置單元、測試單元及壓接單元，承置單元的載具承置可滑移的測試單元，測試單元的承板配置復數個測試器，測試器供承置及測試復數個電子元件，壓接單元以可拆式框架裝配于承置單元的載具，框架裝配復數個壓接器，復數個壓接器對位于復數個測試器，以模塊化測試裝置利于修護更換，并于測試單元滑出載具時而供便利取放一批次復數個電子元件，以及于滑入載具時而供壓接單元壓接復數個電子元件執行測試作業，進而提高使用效能。

技術領域

本發明涉及一種模塊化而利于修護更換，并提高作業便利性的模塊化測試裝置。

背景技術

在現今，電子元件于制作完畢后，必須以測試設備對電子元件執行測試作業，以淘汰出不良品。請參閱圖1，目前測試設備于機臺11的前段部配置供料裝置12及收料裝置13，于后段部水平排列配置復數個測試裝置14A、14B、14C、14D、14E、14F，以測試裝置14A為例，其于機臺11固設二電性連接的測試座141A及電路板142A，以供對電子元件執行測試作業，測試裝置14A另于機臺11設置機架143A，機架143A裝配壓接器144A，壓接器144A對應于測試座141A，以供下壓測試座141A內的電子元件執行測試作業；測試設備以輸送器15伸入于測試裝置14A，而于測試座141A取出一已測電子元件，以及將一待測電子元件移入測試座141A而接續執行測試作業，依此類推，輸送器15依序于復數個測試裝置14B、14C、14D、14E、14F執行取出已測電子元件及放置待測電子元件的作業；然而，輸送器15必須多次往復出入復數個測試裝置14A、14B、14C、14D、14E、14F，方可移入或移出單一電子元件，不僅增加作動時序而耗費時間，更降低測試產能。另于更換不同型式的測試座、電路板及壓接器時，必須逐一于各測試裝置14A、14B、14C、14D、14E、14F拆卸測試座、電路板及壓接器，以致更換作業繁瑣耗時。再者，測試裝置14A為供輸送器15可移入于壓接器144A與測試座141A之間，而必須增加機架143A及壓接器144A的架設高度，不僅增加測試裝置14A的體積，更延長壓接器144A的下壓行程而增加作業時間。

發明內容

本發明的目的在于：提供一種模塊化測試裝置及其應用的測試設備，解決現有技術中存在的上述技術問題。

為實現上述目的，本發明采用的技術方案是：

一種模塊化測試裝置，其特征在于，包含：

承置單元：設有一載具；

測試單元：包含承板及復數個測試器，該承板能夠移入/移出于該承置單元的該載具，該復數個測試器裝配于該承板，以供承置及測試該復數個電子元件；

壓接單元：包含框架及復數個壓接器，該框架裝配于該承置單元的該載具，該復數個壓接器裝配于該框架，以供壓接該復數個測試器的該復數個電子元件。

所述的模塊化測試裝置，其中，還包含一驅動單元，該驅動單元設有至少一驅動器，以驅動該測試單元位移。

所述的模塊化測試裝置，其中，該測試單元的該承板與該承置單元的該載具間設有至少一滑軌組。

所述的模塊化測試裝置，其中，該測試單元的該承板設有復數個支撐部件，該復數個支撐部件供承置支撐該復數個測試器。

所述的模塊化測試裝置，其中，該壓接單元于該載具與該框架間設有至少一快拆器。

所述的模塊化測試裝置，其特征在于，該壓接單元的該壓接器包含：

第一活動件；

第二活動件：沿作業軸線而與該第一活動件作相對配置；

作業件：裝配于該第一活動件，以供壓接電子元件；

驅動源：以供驅動該第一活動件及該第二活動件作反向位移；