[發明專利]不光潔探測面的水浸探傷方法

在審

• 申請號: 202011054554.1
• 申請日: 2020-09-29
• 公開（公告）號: CN114324613A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 強超
• 申請（專利權）人: 貴州安大航空鍛造有限責任公司
• 主分類號: G01N29/24
• 分類號: G01N29/24;G01N29/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種不光潔探測面的水浸探傷方法，其特征在于，利用聚焦探頭焦柱附近區域聲束截面小、能量集中的特點，通過對整個檢測截面進行分區掃查，減小每次檢測監控的范圍，可以在使用較小儀器增益情況下，滿足檢測靈敏度要求。同時探頭焦點附近區域聲場所包含的工件體積范圍小，減小了超聲波與工件組織相互作用的概率，降低表面粗糙及工件組織漫反射所產生的雜波干擾，改善檢測信噪比。該方法適用粗糙探測面的水浸檢測。

技術領域

本發明涉及一種水浸檢測方法，特別是涉及了一種不光潔探測面的水浸探傷方法。

背景技術

隨著對產品質量要求的越來越嚴格，越來越多的工件都要求進行水浸檢測，所遇到的檢測難題也越來越多。如：原本許多粗糙度只需達到Ra3.2便可進行接觸法探傷的工件，現需將粗糙度要求提升至Ra1.6以上才能進行水浸探傷，加上現有機加設備精度不夠等原因，部分工件表面粗糙度不能滿足水浸檢測的要求，必須進行返工。

對于粗糙面的檢測，國內在接觸法上面有通過改善耦合方式來實現檢測優化的案例。如撫鋼在對棒材的檢測時通過在表面覆蓋一層塑料薄膜來改善檢測表面，使超聲波能較好的引入到工件內；331廠在檢測粗糙面時利用洗潔精的粘性較好能覆蓋在工件表面的特點來替代傳統的機油耦合劑；寧波東鑄有限責任公司利用化學漿糊來充當耦合劑等。以上都是通過改善耦合方式來實現對粗糙面的檢測優化，且都是接觸法。而對于水浸檢測粗糙面的檢測國內同類研究較少。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：提供一種不光潔探測面的水浸探傷方法，通過對整個檢測截面進行分區掃查，減小每次檢測監控的范圍，可以在使用較小儀器增益情況下，滿足檢測靈敏度要求

為了解決上述問題，本發明所述不光潔探測面的水浸探傷方法，其特征在于，包括以下步驟：

在針對粗糙度Ra1.6～Ra3.2之間，驗收標準當量平底孔≥Φ0.8mm時，且加工余量大于檢測盲區時可通過采用5MHz、2.5MHz等頻率的低頻探頭來替代高頻探頭對零件進行檢測；

根據與斯奈爾定律來調整水距確定應將焦柱區放于工件內部的位置，來達到減少超聲波與工件組織相互作用的概率，降低表面粗糙及工件組織漫反射所產生的雜波干擾，改善檢測信噪比的目的；使用新水距時重新繪制檢測DAC曲線；當使用頻率為10MHz焦距為88.9mm的水浸檢測探頭時，可以將水距調整為28.9mm。

進一步地，所述水距可根據實際檢測需要來調整。

與現有技術相比，本發明的有益效果如下：

本發明所述不光潔探測面的水浸探傷方法，該方法利用聚焦探頭焦柱附近區域聲束截面小、能量集中的特點，通過對整個檢測截面進行分區掃查，減小每次檢測監控的范圍，可以在使用較小儀器增益情況下，滿足檢測靈敏度要求。同時探頭焦點附近區域聲場所包含的工件體積范圍小，減小了超聲波與工件組織相互作用的概率，降低表面粗糙及工件組織漫反射所產生的雜波干擾，改善檢測信噪比。

具體實施方式

本發明所述不光潔探測面的水浸探傷方法，由于表面粗糙度的存在，聲波入射到工件表面將產生散射和折射等系列復雜的變化，從而使聲波能量衰減；如果粗糙度過大，大部分聲波將不能進入工件中，在熒光屏上顯示出的回波高度下降，信噪比降低，易導致缺陷漏檢。表面細而尖銳的加工紋路會產生嚴重的散射信號，使表面回波變寬，盲區明顯增大，造成無法探傷。

對于粗糙度不符合檢測要求的探測面在確保零件加工余量大于檢測盲區、檢測頻率又能滿足靈敏度標準要求的前提下，選擇合適的探頭頻率，利用低頻探頭波長長，對粗糙度反應不靈敏的特性，降低表面粗糙度對超聲檢測上的影響，實現零件的優化檢測。

其具體實施方式如下：

在針對粗糙度Ra1.6～Ra3.2之間，驗收標準當量平底孔≥Φ0.8mm時，且加工余量大于檢測盲區時可通過采用5MHz、2.5MHz等頻率的低頻探頭來替代高頻探頭對零件進行檢測；

根據與斯奈爾定律來調整水距確定應將焦柱區放于工件內部的位置，來達到減少超聲波與工件組織相互作用的概率，降低表面粗糙及工件組織漫反射所產生的雜波干擾，改善檢測信噪比的目的；使用新水距時重新繪制檢測DAC曲線；當使用頻率為10MHz焦距為88.9mm的水浸檢測探頭時，可以將水距調整為28.9mm，水距可根據實際檢測需要來調整。