[發(fā)明專利]內(nèi)置自測(cè)試電路和包括內(nèi)置自測(cè)試電路的溫度測(cè)量電路

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011054017.7
• 申請(qǐng)日: 2020-09-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113049129A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-06-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 申浚熙;金柱成;李龍珍;崔炳注;金光鎬;金賞鎬
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 三星電子株式會(huì)社
• 主分類號(hào): G01K7/01
• 分類號(hào): G01K7/01;G01K15/00
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021
• 代理人: 周祺

一種溫度測(cè)量電路，包括：帶隙基準(zhǔn)電路，被配置為生成與工作溫度無(wú)關(guān)的固定的帶隙基準(zhǔn)電壓；基準(zhǔn)電壓生成器電路，被配置為通過(guò)調(diào)整所述帶隙基準(zhǔn)電壓生成測(cè)量基準(zhǔn)電壓；感測(cè)電路，被配置為基于偏置電流生成溫變電壓，其中，所述溫變電壓根據(jù)所述工作溫度變化；模數(shù)轉(zhuǎn)換器電路，被配置為基于所述測(cè)量基準(zhǔn)電壓和所述溫變電壓生成指示所述工作溫度的第一數(shù)字代碼；以及模擬內(nèi)置自測(cè)試(BIST)電路，被配置為生成多個(gè)標(biāo)志信號(hào)，其指示所述帶隙基準(zhǔn)電壓、所述測(cè)量基準(zhǔn)電壓和與所述偏置電流相對(duì)應(yīng)的偏置電壓中的每一個(gè)是否包括在預(yù)定范圍內(nèi)。

相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用

本申請(qǐng)要求于2019年12月27日向韓國(guó)知識(shí)產(chǎn)權(quán)局(KIPO)遞交的韓國(guó)專利申請(qǐng)No.10-2019-0175903的優(yōu)先權(quán)，其公開(kāi)整體合并于此以作參考。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明構(gòu)思的示例性實(shí)施例總體涉及半導(dǎo)體集成電路，更具體地涉及內(nèi)置自測(cè)試(BIST)電路和包括該BIST電路的溫度測(cè)量電路。

背景技術(shù)

可以監(jiān)視和測(cè)量工作溫度以提高半導(dǎo)體集成電路的性能。例如，基于所測(cè)量的工作溫度，可以控制電子設(shè)備的功率級(jí)，可以控制存儲(chǔ)設(shè)備的刷新周期，可以防止電路損壞等等。隨著運(yùn)行速度和性能水平的提高，熱量管理變得更加重要。與集成電路在同一半導(dǎo)體管芯中集成的片上溫度傳感器可以用于檢測(cè)集成電路的各個(gè)結(jié)的溫度。如果片上溫度傳感器出現(xiàn)故障，則由于關(guān)于工作溫度的錯(cuò)誤信息，半導(dǎo)體集成電路的性能可能下降或半導(dǎo)體集成電路可能損壞。具體地，車(chē)輛中使用的半導(dǎo)體集成電路的錯(cuò)誤溫度信息可能直接影響載具駕駛員的生命。

發(fā)明內(nèi)容

根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的示例性實(shí)施例，一種溫度測(cè)量電路包括：帶隙基準(zhǔn)電路，被配置為生成與工作溫度無(wú)關(guān)的固定的帶隙基準(zhǔn)電壓；基準(zhǔn)電壓生成器電路，被配置為通過(guò)調(diào)整所述帶隙基準(zhǔn)電壓生成測(cè)量基準(zhǔn)電壓；感測(cè)電路，被配置為基于偏置電流生成溫變電壓，其中，所述溫變電壓根據(jù)所述工作溫度變化；模數(shù)轉(zhuǎn)換器電路，被配置為基于所述測(cè)量基準(zhǔn)電壓和所述溫變電壓生成指示所述工作溫度的第一數(shù)字代碼；以及模擬內(nèi)置自測(cè)試(BIST)電路，被配置為生成多個(gè)標(biāo)志信號(hào)，其指示所述帶隙基準(zhǔn)電壓、所述測(cè)量基準(zhǔn)電壓和與所述偏置電流相對(duì)應(yīng)的偏置電壓中的每一個(gè)是否包括在預(yù)定范圍內(nèi)。

根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的示例性實(shí)施例，一種溫度測(cè)量電路包括：溫度檢測(cè)電路和模擬內(nèi)置自測(cè)試(BIST)電路。所述溫度檢測(cè)電路包括：模擬電路，被配置為生成與工作溫度無(wú)關(guān)的固定的測(cè)量基準(zhǔn)電壓和根據(jù)工作溫度變化的溫變電壓；以及模數(shù)轉(zhuǎn)換器電路，被配置為基于所述測(cè)量基準(zhǔn)電壓和所述溫變電壓生成指示工作溫度的數(shù)字代碼。所述模擬BIST電路生成多個(gè)標(biāo)志信號(hào)，其指示所述模擬電路的多個(gè)電壓中的每一個(gè)是否包括在預(yù)定范圍內(nèi)。

根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的示例性實(shí)施例，被配置為監(jiān)測(cè)包括模擬電路和模數(shù)轉(zhuǎn)換器電路在內(nèi)的溫度檢測(cè)電路的內(nèi)置自測(cè)試(BIST)電路包括：模擬BIST電路，被配置為生成多個(gè)標(biāo)志信號(hào)，其指示所述模擬電路的多個(gè)監(jiān)測(cè)電壓中的每一個(gè)是否包括在預(yù)定范圍內(nèi)；以及數(shù)字BIST電路，被配置為在測(cè)試模式下將測(cè)試信號(hào)施加到所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器電路，以生成多個(gè)警報(bào)信號(hào)，其指示所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器電路是否正常工作。

附圖說(shuō)明

通過(guò)參考附圖詳細(xì)描述本發(fā)明構(gòu)思的示例性實(shí)施例，本發(fā)明構(gòu)思的以上和其他特征將被更清楚地理解。

圖1是示出根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的示例性實(shí)施例的溫度測(cè)量電路的圖。

圖2是示出根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的示例性實(shí)施例的圖1的溫度測(cè)量電路中包括的模擬電路的框圖。

圖3是示出根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的示例性實(shí)施例的圖2的模擬電路中包括的帶隙基準(zhǔn)電路的電路圖。

圖4是示出根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的示例性實(shí)施例的圖2的模擬電路中包括的基準(zhǔn)電壓生成器的電路圖。

圖5是示出根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的示例性實(shí)施例的圖2的模擬電路中包括的感測(cè)電路的電路圖。