[發明專利]高雜質鹽礦采鹵溶腔儲氣性能檢測方法

有效

• 申請號: 202011048920.2
• 申請日: 2020-09-29
• 公開（公告）號: CN112228071B
• 公開（公告）日: 2022-01-11
• 發明（設計）人: 施錫林;馬洪嶺;李銀平;楊春和;柳信
• 申請（專利權）人: 中國科學院武漢巖土力學研究所
• 主分類號: E21C41/20
• 分類號: E21C41/20;E21B47/00;E21B47/06
• 代理公司: 北京眾達德權知識產權代理有限公司 11570
• 代理人: 張曉冬

1.高雜質鹽礦采鹵溶腔儲氣性能檢測方法，包括：

在檢測溶腔和井筒的水密封性之前，對溶腔和井筒依次進行通井、測井和測腔；檢測溶腔和井筒的水密封性；

在所述溶腔和所述井筒的水密封性滿足水密封性檢測標準的情況下，在所述井筒的技術套管內下入氣密封管，并設置封隔器；

檢測所述井筒的氣密封性；

在所述井筒的氣密封性滿足氣密封性檢測標準的情況下，通過注氣井處的所述氣密封管向所述溶腔內注入測試氣體，以使所述溶腔內的鹵水經過排鹵井處的所述氣密封管排出；

當所述排鹵井中開始排出所述測試氣體時，核算排出的鹵水的體積；

關閉所述排鹵井，后通過所述注氣井處的所述氣密封管向所述溶腔內注入所述測試氣體；直至所述溶腔的氣液界面上方的壓力達到設定的壓力值后，關閉所述注氣井，后檢測所述溶腔的氣密封性；其中，

所述通井的步驟包括：清除所述井筒的技術套管的內壁上的結垢物；

所述測井的步驟包括：在所述井筒的技術套管內進行探測，以確定所述溶腔的腔頂的深度；其中所述探測包括：探測所述井筒的固井質量、探測所述井筒的技術套管的井斜以及探測地層巖性；

所述測腔的步驟包括：將聲納探頭經由所述井筒的技術套管下入所述溶腔的內部，以探測所述溶腔的三維形態。

2.根據權利要求1所述的高雜質鹽礦采鹵溶腔儲氣性能檢測方法，其特征在于，所述檢測溶腔和井筒的水密封性，包括：

關閉所述注氣井或所述排鹵井中的一個，將測試液體注入所述井筒和所述溶腔中，監測所述注氣井和/或所述排鹵井的井口處的壓力；待所述注氣井和/或所述排鹵井的井口處的壓力達到設定的壓力值后，再關閉所述注氣井或所述排鹵井中的另一個；監測并獲得所述注氣井和/或所述排鹵井的井口處的壓力；根據所述獲得的所述注氣井和/或所述排鹵井的井口處的壓力，評價所述溶腔和所述井筒的水密封性。

3.根據權利要求1或2所述的高雜質鹽礦采鹵溶腔儲氣性能檢測方法，其特征在于，所述通過所述注氣井處的所述氣密封管向所述溶腔內注入測試氣體，以使所述溶腔內的鹵水經過排鹵井處的所述氣密封管排出；當所述排鹵井中開始排出所述測試氣體時，核算排出的鹵水的體積，包括：

通過所述注氣井處的所述氣密封管向所述溶腔內注入測試氣體，以使所述溶腔內的鹵水經過排鹵井處的所述氣密封管排出；當所述排鹵井中開始排出所述測試氣體時，核算排出的鹵水的體積；根據所述排出的鹵水的體積和所述溶腔中的氣液界面的深度，計算所述溶腔的可用儲氣空間體積。

4.根據權利要求1或2所述的高雜質鹽礦采鹵溶腔儲氣性能檢測方法，還包括：

在所述溶腔和所述井筒的水密封性不滿足所述水密封性檢測標準的情況下，將所述井筒的技術套管及其外部的水泥環進行鍛銑，以使在所述井筒中形成裸眼；后在所述井筒的技術套管內下入氣密封管，并在所述裸眼內設置封隔器。

5.根據權利要求1或2所述的高雜質鹽礦采鹵溶腔儲氣性能檢測方法，其特征在于，所述溶腔包括直井段和斜井段；所述注氣井為直井或斜井；所述排鹵井為直井或斜井。

6.根據權利要求1或2所述的高雜質鹽礦采鹵溶腔儲氣性能檢測方法，所述檢測所述井筒的氣密封性，包括：

關閉所述排鹵井，將測試氣體壓縮為高壓狀態后通過所述井筒內的氣密封管注入所述井筒和所述溶腔中；直至所述井筒和所述溶腔中的壓力達到設定的壓力值后，關閉所述注氣井；

觀察所述注氣井或所述排鹵井的井口是否溢出所述測試氣體；

若所述注氣井和所述排鹵井的井口均沒有溢出所述測試氣體，則所述井筒的氣密封性滿足所述氣密封性檢測標準。

7.根據權利要求1或2所述的高雜質鹽礦采鹵溶腔儲氣性能檢測方法，其特征在于，所述排鹵井和所述注氣井的井口處連接有鹵水池，用于分離所述排鹵井中排出的鹵水和所述測試氣體，并緩沖從所述排鹵井和所述注氣井中排出的鹵水；

所述鹵水池中設有潛鹵泵，用于將所述鹵水池中的鹵水排出。