[發明專利]電子模塊的檢測系統、檢測方法、檢測裝置及存儲介質在審
| 申請號: | 202011048442.5 | 申請日: | 2020-09-29 |
| 公開(公告)號: | CN112213582A | 公開(公告)日: | 2021-01-12 |
| 發明(設計)人: | 王志強;付青琴;劉佳;王于波;龐振江;李延;梁昭慶;曲勝波 | 申請(專利權)人: | 北京智芯微電子科技有限公司;國網信息通信產業集團有限公司;國家電網有限公司;北京智芯半導體科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京潤平知識產權代理有限公司 11283 | 代理人: | 肖冰濱;王曉曉 |
| 地址: | 100192 北京市海淀區*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子 模塊 檢測 系統 方法 裝置 存儲 介質 | ||
本發明公開一種電子模塊的檢測系統,該系統包括:參數設置模塊,與待檢測的電子模塊電連接,用于獲取第一設置操作,基于第一設置操作生成并設置電子模塊的模塊參數,模塊參數包括頻率參數和/或電壓參數;控制模塊,與電子模塊電連接,用于實時控制電子模塊按照模塊參數運行;檢測模塊,與電子模塊電連接,用于對運行中的電子模塊執行檢測操作,獲得對應的檢測結果。本發明還公開一種電子模塊的檢測方法及一種電子模塊的檢測裝置。通過采用寬壓高速MCU對電子模塊的工作電壓和/或工作頻率進行調整測試,從而對在工作頻率或工作電壓的干擾下運行的電子模塊進行模擬并進行檢測,從而有效保證了對電子模塊的檢測完整度,滿足技術人員的實際檢測需求。
技術領域
本發明涉及硬件檢測技術領域,具體地涉及一種電子模塊的檢測系統、一種電子模塊的檢測方法、一種電子模塊的檢測裝置及計算機可讀存儲介質。
背景技術
隨著科技的不斷發展,具有運算處理能力的芯片被應用到生活的各個應用場景,在應用過程中,為了輔助芯片能夠更好地實現應用功能,具有特定功能的電子模塊被配置與芯片連接以形成一個處理系統。
在實際應用過程中,電子模塊在使用過程中會涉及到數據的傳輸、數據的存儲、數據的執行、數據的反饋等功能,例如為了有效保證數據在終端設備中傳輸的安全性和準確性,防止數據被截獲和篡改,ESAM(Embedded Secure Access Module,嵌入式終端安全訪問模塊)在終端設備的操作系統中應用廣泛。
在現有技術中,為了驗證上述功能的完整性,電子模塊在焊接之前,需要事先在檢測裝置上完成相關測試工作。然而,現有檢測裝置只能在固定工作頻率和工作電壓情況下驗證電子模塊功能的完整性,針對電子模塊由于工作頻率變化或工作電壓變化等原因造成的芯片異常現象還未能進行檢測,而終端設備在實際運行過程中,經常會出現突然變頻或者電壓突變及波動等現象,因此對技術人員造成了極大的困擾。
發明內容
為了克服現有技術中對電子模塊的檢測功能的不完善,無法滿足實際的檢測需求的技術問題,本發明實施例提供一種電子模塊的檢測系統,通過對在工作頻率或工作電壓的干擾下的電子模塊進行檢測,從而有效保證了對電子模塊的檢測完整度,滿足了技術人員的實際檢測需求。
為了實現上述目的,本發明實施例提供一種電子模塊的檢測系統,所述檢測系統包括:參數設置模塊,與待檢測的電子模塊電連接,用于獲取第一設置操作,基于所述第一設置操作生成并設置所述電子模塊的模塊參數,所述模塊參數包括頻率參數和/或電壓參數;控制模塊,與所述電子模塊電連接,用于實時控制所述電子模塊按照所述模塊參數運行;檢測模塊,與所述電子模塊電連接,用于對運行中的所述電子模塊執行檢測操作,獲得對應的檢測結果。
優選地,所述檢測系統還包括串口設置模塊,與所述電子模塊電連接,用于獲取第二設置操作,基于所述第二設置操作生成并設置所述電子模塊的串口參數,所述電子模塊基于所述串口參數與所述參數設置模塊和所述檢測模塊進行信號通信。
優選地,所述參數設置模塊包括單一參數設置單元和廣播參數設置單元,所述單一參數設置單元用于基于所述第一設置操作生成并設置單個電子模塊的模塊參數,所述廣播參數設置單元用于基于所述第一設置操作生成并統一設置與參數設置模塊電連接的所有電子模塊的模塊參數。
優選地,所述檢測模塊包括參數驗證單元和功能驗證單元;所述參數驗證單元用于向所述電子模塊發送操作指令,獲取所述電子模塊基于所述操作指令的反饋信息,基于所述反饋信息對所述電子模塊的運行參數進行檢測,獲得對應的參數檢測結果;所述功能驗證單元用于在設置所述電子模塊的模塊參數之后,對所述電子模塊的功能運行進行檢測,獲得對應的功能檢測結果。
優選地,所述檢測系統還包括顯示裝置,與所述檢測模塊電連接,用于實時顯示所述檢測結果。
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