[發(fā)明專利]一種熱帶環(huán)境下運(yùn)行復(fù)合絕緣子老化狀態(tài)評價方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011045461.2
• 申請日: 2020-09-29
• 公開（公告）號: CN111965098A
• 公開（公告）日: 2020-11-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳林聰;李欣然;陳曉琳;張瑞恩;符小桃;符傳福
• 申請（專利權(quán)）人: 海南電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院
• 主分類號: G01N17/00
• 分類號: G01N17/00
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 陳歡

1.一種熱帶環(huán)境下運(yùn)行復(fù)合絕緣子老化狀態(tài)評價方法，其特征在于，所述評價方法包括：

S1、對運(yùn)行復(fù)合絕緣子進(jìn)行外觀檢查；

S2、對運(yùn)行復(fù)合絕緣子傘裙硅橡膠材料進(jìn)行憎水性測試、體積電阻率測試、介質(zhì)損耗測試、拉伸強(qiáng)度測試、泄漏電流測試、紅外光譜特征吸收峰測試；

S3、根據(jù)所述運(yùn)行復(fù)合絕緣子傘裙硅橡膠材料外觀檢查結(jié)果，憎水性測試、體積電阻率測試、介質(zhì)損耗測試、拉伸強(qiáng)度測試、泄漏電流測試、紅外光譜特征吸收峰測試等定量化結(jié)果，對運(yùn)行復(fù)合絕緣子老化狀態(tài)進(jìn)行分級評價。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種熱帶環(huán)境下運(yùn)行復(fù)合絕緣子老化狀態(tài)評價方法，其特征在于，所述S2中的所述泄漏電流測試應(yīng)對運(yùn)行復(fù)合絕緣子試品分別在水煮前和水煮后進(jìn)行測量直流泄漏電流測量，其測試步驟包括：

S211、水煮試驗(yàn)前，用去離子水清洗絕緣子表面，測量絕緣部分長度，將絕緣子高壓端加直流高壓，低壓側(cè)經(jīng)微安表接地，所加直流電壓從零逐漸升壓至最大值，對于35kV樣品所加最大電壓為100kV，對于110kV和220kV樣品所加最大電壓為300kV，每隔10kV左右記錄電壓值，并記錄水煮試驗(yàn)前各施加電壓下的泄漏電流值；

S212、進(jìn)行水煮試驗(yàn)。將整支復(fù)合絕緣子試品放入沸騰的含有0.1％(重量)NaCl的去離子水中保持42h，也可以用電導(dǎo)率在20℃時為1750μS/cm±80μS/cm的加鹽自來水代替0.1％(重量)NaCl的去離子水；

S213、水煮試驗(yàn)后取出樣品并在室溫條件下晾干至傘裙表面無明顯液滴，再與S211相同的方法測量樣品水煮后的泄漏電流值；

S214、作出水煮前后試品的泄漏電流-電壓變化曲線，將特定施加電壓除以絕緣長度得到電壓梯度，通過泄漏電流-電壓變化曲線計算出水煮前后各個電壓梯度下泄漏電流變化率ΔI％，計算方法如下：

式中，ΔI％為泄漏電流變化率，I₀為水煮前泄漏電流值，I為水煮后泄漏電流值；

S215、選取0.5kV/cm和2kV/cm這兩個電壓梯度下計算出來的水煮前后泄漏電流變化率對被測試品的質(zhì)量進(jìn)行評估。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種熱帶環(huán)境下運(yùn)行復(fù)合絕緣子老化狀態(tài)評價方法，其特征在于，所述S2中的所述紅外光譜特征吸收峰測試包括以下步驟：

S221、測量復(fù)合絕緣子傘裙硅橡膠表面紅外光譜Si-O-Si、Si-CH₃特征吸收峰面積S_表、C_表；

S222、測量復(fù)合絕緣子傘裙硅橡膠基體紅外光譜Si-O-Si、Si-CH₃特征吸收峰面積S_基、C_基；

S223、計算Si-O-Si、Si-CH₃特征吸收峰面積衰減程度，計算方式如下：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種熱帶環(huán)境下運(yùn)行復(fù)合絕緣子老化狀態(tài)評價方法，其特征在于，在距樣品表面2～3mm位置處，沿平行于表面的方向?qū)悠非虚_，余下部分作為對應(yīng)樣品的基體進(jìn)行所述S2中的所述紅外光譜特征吸收峰測試。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種熱帶環(huán)境下運(yùn)行復(fù)合絕緣子老化狀態(tài)評價方法，其特征在于，所述外觀檢查結(jié)果中，當(dāng)發(fā)現(xiàn)傘裙或護(hù)套有破損、開裂現(xiàn)象，或者金具有損傷影響使用安全性的情況，則判斷該運(yùn)行復(fù)合絕緣子應(yīng)退出運(yùn)行。