[發明專利]一種利用光譜差分平場矯正檢測鏡頭潔凈度的方法

有效

• 申請號: 202011030015.4
• 申請日: 2020-09-27
• 公開（公告）號: CN112326683B
• 公開（公告）日: 2022-09-02
• 發明（設計）人: 何姜;周威;柏佩宏
• 申請（專利權）人: 南京茂萊光學科技股份有限公司;茂萊(南京)儀器有限公司;南京茂萊精密測量系統有限公司
• 主分類號: G01N21/94
• 分類號: G01N21/94;G01N21/88
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204
• 代理人: 李倩

1.一種利用光譜差分平場矯正檢測鏡頭潔凈度的方法，其特征在于，包括如下步驟：

（1）搭建平場測試光路，所述平場測試光路包括多光譜光源、待測鏡頭和單色相機；將單色相機的感光面垂直于待測鏡頭的鏡頭光軸放置，并平移至待測鏡頭的出光位置；

（2）選定光譜，測量不同光譜下的明場圖像數據和暗場圖像數據；

（3）針對每個像素，進行光譜差分平場校正運算：

A_iA_j光譜差分=（A_i光譜的明場數據-A_i光譜的暗場數據）/（A_j光譜的明場數據-A_j光譜的暗場數據）；

其中，A_i、A_j分別是兩種不同的光譜，i∈[1,N]，j∈[1,N]；N為光譜的個數；

（4）將各個像素的光譜差分結果的矩陣以圖像形式顯示，進行鏡頭潔凈度的判斷；

定義明場數據是視場中心最亮處值是飽和值的80%~90%時的數據，暗場數據是沒有信號輸入時的數據；固定曝光時間，調整光源亮度，進行明場、暗場圖像數據采集。

2.根據權利要求1所述的利用光譜差分平場矯正檢測鏡頭潔凈度的方法，其特征在于：步驟（1）中，所述多光譜光源為窄波段多光譜均勻面光源。

3.根據權利要求1所述的利用光譜差分平場矯正檢測鏡頭潔凈度的方法，其特征在于，步驟（2）中，針對不同光譜，單獨測量每種光譜下的暗場圖像數據，獲取每個像素在各個光譜下的明場圖像數據和暗場圖像數據。

4.根據權利要求3所述的利用光譜差分平場矯正檢測鏡頭潔凈度的方法，其特征在于：步驟（3）中，包括光譜A₁、光譜A₂、光譜A₃、……光譜A_N-1、光譜A_N，所述光譜差分平場校正運算遍歷上述N個光譜的兩兩差分組合，獲得N×（N-1）種光譜差分組合。

5.根據權利要求4所述的利用光譜差分平場矯正檢測鏡頭潔凈度的方法，其特征在于：所述光源選取為RGB三色窄波段均勻面光源，針對每個像素在RGB三色光譜下的明場數據及暗場數據，進行如下平場校正運算：

RG光譜差分結果=（R光譜明場數據-R光譜暗場數據）/（G光譜明場數據-G光譜暗場數據）；

GR光譜差分結果=（G光譜明場數據-G光譜暗場數據）/（R光譜明場數據-R光譜暗場數據）；

RB光譜差分結果=（R光譜明場數據-R光譜暗場數據）/（B光譜明場數據-B光譜暗場數據）；

BR光譜差分結果=（B光譜明場數據-B光譜暗場數據）/（R光譜明場數據-R光譜暗場數據）；

BG光譜差分結果=（B光譜明場數據-B光譜暗場數據）/（G光譜明場數據-G光譜暗場數據）；

GB光譜差分結果=（G光譜明場數據-G光譜暗場數據）/（B光譜明場數據-B光譜暗場數據）；

將所得六個光譜差分結果的矩陣分別以六幅圖像形式顯示，用于鏡頭潔凈度的判斷。