[發明專利]X射線測定裝置以及系統

在審

• 申請號: 202011029075.4
• 申請日: 2020-09-25
• 公開（公告）號: CN112611771A
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 今野翔太;畑山雄二;佐佐木珉貞
• 申請（專利權）人: 株式會社理學
• 主分類號: G01N23/20008
• 分類號: G01N23/20008
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 王暉

1.一種X射線測定裝置，通過多個部件來構成X射線分析的測定系統，其特征在于，具備：

裝置主體；

直接或間接安裝于所述裝置主體、能根據測定類別從多種類中選擇應安裝的種類的對象部件以及不能選擇種類的非對象部件；和

顯示部，針對測定類別顯示所安裝的對象部件的適合與否。

2.根據權利要求1所述的X射線測定裝置，其特征在于，

所述顯示部在所述裝置主體上顯示所述對象部件當中直接安裝于所述裝置主體的基座部件的安裝的適合與否。

3.根據權利要求2所述的X射線測定裝置，其特征在于，

所述顯示部在用于進行電連接的連接器上顯示所述基座部件的安裝的適合與否。

4.根據權利要求1所述的X射線測定裝置，其特征在于，

所述顯示部在所述對象部件當中直接安裝于所述裝置主體的基座部件所安裝的功能部件或安裝所述功能部件的安裝對象上顯示所述功能部件的安裝的適合與否。

5.根據權利要求4所述的X射線測定裝置，其特征在于，

所述顯示部在針對所述功能部件的所述安裝對象的連接位置近旁即操作人員的作業位置的正面顯示所述安裝的適合與否。

6.根據權利要求1～5中任一項所述的X射線測定裝置，其特征在于，

所述顯示部是燈。

7.根據權利要求1～5中任一項所述的X射線測定裝置，其特征在于，

所述顯示部是光照射器。

8.根據權利要求7所述的X射線測定裝置，其特征在于，

所述裝置主體在構成所述裝置主體的臂收斂于給定范圍內的情況下，能顯示所述對象部件的安裝的適合與否。

9.根據權利要求1～5中任一項所述的X射線測定裝置，其特征在于，

所述顯示部以光的顏色、閃爍或明滅顯示所述安裝的適合與否。

10.一種系統，其特征在于，具備：

權利要求1～5中任一項所述的X射線測定裝置；和

控制裝置，

所述控制裝置具有：

存儲部，存儲測定類別與應使用的對象部件的對應關系；

輸入部，接受所選擇的測定類別的輸入；

判定部，使用所存儲的所述對應關系，比較根據所選擇的所述測定類別決定的所述對象部件的種類和由傳感器檢測出的所述對象部件的種類，來判定所述安裝的對象部件的適合與否；以及

發送部，將所述判定中得到的適合與否的顯示指示發送到所述X射線測定裝置。