[發明專利]用于識別吸收式天線罩襯層的方法和設備

在審

• 申請號: 202011024962.2
• 申請日: 2020-09-25
• 公開（公告）號: CN112666568A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發明（設計）人: B·勒施;M·查保德;M·舒爾
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G01S17/58
• 分類號: G01S17/58;G01S17/32;G01S13/58;G01S13/32;G01S7/486;G01S7/41;G01S7/35
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 臧永杰;劉春元

1.一種用于識別在用于發射電磁輻射并且接收在對象處反射的部分輻射的設備上的吸收式天線罩襯層（4）的方法，

其中所述電磁輻射尤其是雷達輻射，

其中天線罩（2）遮蓋所述設備的至少一個天線（1），

其中混頻器（8）將調頻發射信號（3）與由所述至少一個天線（1）接收的信號（5）混合，

其中對所述混頻器（8）的混合產物進行模擬數字轉換（9），

其中所述設備識別天線罩襯層（4）、尤其是吸收式天線罩襯層（4），

將經數字化的信號變換（10）成二維譜（40），其特征在于，

在第一步驟（11）中，利用傳遞函數（12）映射二維譜，并且

在第二步驟（13）中，將已利用所述傳遞函數（12）映射的二維譜（40）與相關矩陣（14）相關，用以執行模式識別。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述二維譜（40）是速度距離譜。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述傳遞函數（12）尤其是通過使用顯著性水平（22）來確定所述二維譜（40）中的噪聲水平。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，利用在已利用所述傳遞函數（12）映射的二維譜（40）中的模式識別（13）來探測反射性對象（47）。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，在所述二維譜中的模式識別（13）搜索線狀相關性（14）。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，通過與相關矩陣（14）的值一起從已利用所述傳遞函數（12）映射（11）的二維譜（40）的值中確定互相關的最大值來確定所述天線罩襯層（4）。

7.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，所述傳遞函數（12）是可變的（24），并且根據所識別的對象（47）被改變。

8.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，所述傳遞函數（12）是分布函數。

9.根據前述權利要求1至7中任一項所述的方法，其特征在于，所述分布函數（12）的顯著性水平（22）以預定的間隔被改變，并且從顯著性水平（22）的值中推斷出所述天線罩襯層（4）的阻尼，在所述值時所述信號（44）淹沒在噪音（43）中。

10.一種計算機程序產品，所述計算機程序產品被設立用于執行、實施和/或操控根據權利要求1至9中任一項所述的方法。

11.一種機器可讀存儲介質，其上存儲有根據權利要求10所述的計算機程序產品。

12.一種用于發射電磁輻射（3）并且接收在對象處反射的部分輻射（5）、尤其是雷達輻射的設備，所述設備：

具有至少一個天線（1），所述天線通過天線罩（2）遮蓋；

具有用于將調頻發射信號（3）與由所述至少一個天線（1）接收的信號（5）混合的混頻器（8）；

用于對所述混頻器（8）的混合產物進行模擬數字轉換的裝置（9），

其中所述設備識別天線罩襯層（4）、尤其是吸收式天線罩襯層（4），其特征在于，

用于計算經數字化的信號的二維譜（40）的裝置，

用于提供傳遞函數（12）的裝置，和

用于在使用所提供的傳遞函數（12）的情況下在二維譜（40）中進行模式識別（13、14）的裝置。