[發明專利]VDMOS器件、控制電路、電池管理芯片及電設備在審
| 申請號: | 202011024951.4 | 申請日: | 2020-09-25 |
| 公開(公告)號: | CN112072757A | 公開(公告)日: | 2020-12-11 |
| 發明(設計)人: | 喬明;陳勇;張發備;周號 | 申請(專利權)人: | 珠海邁巨微電子有限責任公司 |
| 主分類號: | H02J7/00 | 分類號: | H02J7/00;H01L27/088;H01L29/78;G01R31/382 |
| 代理公司: | 北京庚致知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11807 | 代理人: | 李偉波;韓德凱 |
| 地址: | 519000 廣東省珠海市高新區唐家*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | vdmos 器件 控制電路 電池 管理 芯片 設備 | ||
本公開提供了一種VDMOS器件,用于控制電池的充電電流與放電電流,包括:襯底,為第一導電類型;外延層,設置在襯底上并且為第一導電類型;第一元胞結構區,包括形成在外延層中的元胞結構,以構成用作充電開關的充電MOSFET;第二元胞結構區,包括形成在外延層中的元胞結構,以構成用作放電開關的放電MOSFET;以及第三元胞結構區,包括形成在外延層中的元胞結構,以構成采樣MOSFET,采樣MOSFET用于采集流過充電MOSFET和放電MOSFET的電流。本公開還提供了一種控制電路、電池管理芯片及電設備。
技術領域
本公開涉及一種VDMOS器件、控制電路、電池管理芯片及電設備。
背景技術
在對鋰電池等電池的充放電進行控制時,為了安全和電池壽命等,需要對電池的充放電電流進行測量。通常需要外接電阻來對充電電流和放電電流進行檢測。
現有技術中,采用外接檢測電阻來對充電電流和放電電流進行檢測時(例如檢測電阻與充放電開關串聯在電流回路中),檢測電阻需要串聯在電流回路中,這樣在充放電電流比較大的情況下,檢測電阻的功耗很大。
另外也可以通過充放電開關的導通阻抗來對電流進行檢測,但是該導通阻抗必須足夠大,以便能夠采集到足夠大的檢測電壓,從而來進行檢測。如果導通阻抗比較大,則充放電開關所產生的功耗必然也很大。
此外,在過濾保護方面,圖19給出了現有技術中的用于鋰電池保護的過流保護電路。
電池正常放電時,保護開關驅動電路的輸出OD和OC端口的電壓通常為VDD、5V或15V左右,OD和OC分別連接到MOSFET M1和M2的柵極(G),此時M1和M2工作在線性區,M1和M2的漏極(D)和源極(S)等效為一個導通電阻,電阻值為RON。放電電流Idsg從P-端流向B-端,P-端的電壓較高,當檢測到P-端與B-端的壓差(Idsg*RON)達到某一限定值時,OD電壓從VDD變為B-,OC仍保持VDD電位,這樣放電開關M1斷開。類似地,電池正常充電時,M1、M2的柵極(G)為電池電壓VDD。電流從B-端流向P-端,P-端的電壓較低,當B-端與P-端的壓差(Ichg*RON)達到某一限定值,OC電壓從VDD變為B-,OD保持VDD電位,這樣充電開關M2斷開。
但是,MOSFET M1和M2的導通電阻和電池溫度、電池電壓相關。如果只通過檢測B-端與P-端之間的壓差來判斷是否過流,誤差將會達到±30%以上。
另外,在現有技術中,也存在檢測MOSFET M1和M2的漏源電壓VDS來采樣充放電電流的方案。
根據MOSFET的導通電阻采樣充放電電流的基本原理如圖20所示(以NMOS為例進行說明,對于PMOS,原理相同,在此不再贅述)。
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