[發(fā)明專利]一種巖土體孔裂隙結(jié)構(gòu)多尺度表征方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011021471.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112132965A | 公開(公告)日: | 2020-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉江峰;王陽光;浦海;黃炳香;陳旭;李震;倪宏陽 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)礦業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06T17/05 | 分類號(hào): | G06T17/05;G06T7/136;G01N15/08 |
| 代理公司: | 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司 32200 | 代理人: | 羅運(yùn)紅 |
| 地址: | 221116 *** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 巖土 裂隙 結(jié)構(gòu) 尺度 表征 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種巖土體孔裂隙結(jié)構(gòu)多尺度表征方法,包括:(1)獲取不同尺度的巖土體孔裂隙結(jié)構(gòu)圖像;(2)對(duì)所述中圖像分別進(jìn)行預(yù)處理;(3)對(duì)經(jīng)過預(yù)處理之后的圖像進(jìn)行閾值分割及二值化;(4)對(duì)所述閾值分割及二值化后的低分辨率圖像進(jìn)行三維數(shù)字模型重構(gòu),并進(jìn)行細(xì)化處理后,使第一細(xì)化組合體素單元的分辨率和目標(biāo)分辨率相同;(5)對(duì)所述閾值分割及二值化后的高分辨率圖像進(jìn)行粗化處理,并進(jìn)行三維數(shù)字模型重構(gòu),使第二粗化組合體素單元的分辨率和目標(biāo)分辨率相同;(6)對(duì)所述第一細(xì)化組合體素單元和第二粗化組合體素單元進(jìn)行布爾疊加運(yùn)算。本發(fā)明獲得的多尺度三維圖像具有較大的物理尺寸和較高的像素點(diǎn)分辨率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種巖土體孔裂隙結(jié)構(gòu)多尺度表征方法。
背景技術(shù)
諸多多孔介質(zhì)材料,其內(nèi)部往往分布有低至納米-高至毫米等各種不同尺度的孔裂隙。利用計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)(CT)、聚焦離子束/電子束雙束顯微成像技術(shù)(FIB/SEM)和模擬退火算法(SAA)的數(shù)值計(jì)算重構(gòu)技術(shù)所獲得的試樣內(nèi)部不同分辨率的三維孔裂隙結(jié)構(gòu)模型,其內(nèi)部包含從納米尺度到微米尺度的孔裂隙,孔裂隙尺寸分布十分廣泛。
目前的孔裂隙結(jié)構(gòu)三維數(shù)字模型重構(gòu)方法,無論是物理掃描重構(gòu)法,還是數(shù)值模擬合成法,大多數(shù)方法均無法對(duì)試樣內(nèi)部的多尺度孔裂隙結(jié)構(gòu)進(jìn)行全面準(zhǔn)確的表征。現(xiàn)階段,造成上述問題的主要原因是成像技術(shù)條件的限制,即掃描成像前需要在試樣分辨率和試樣掃描區(qū)域兩者間進(jìn)行權(quán)衡:較高分辨率對(duì)應(yīng)于較小掃描區(qū)域;較大掃描區(qū)域只能選擇較低的分辨率。
對(duì)于基于數(shù)字圖像法的多孔介質(zhì)材料性質(zhì)研究,不應(yīng)只選擇其中某一尺度進(jìn)行孤立分析,應(yīng)將不同尺度下的孔裂隙結(jié)構(gòu)進(jìn)行融合和疊加,而如何將不同尺度下的孔裂隙結(jié)構(gòu)融合和疊加,是目前亟需解決的一個(gè)技術(shù)問題。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)如何將不同尺度下的孔裂隙結(jié)構(gòu)融合和疊加問題,本發(fā)明提出一種巖土體孔裂隙結(jié)構(gòu)多尺度表征方法。
為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的不同尺度下的孔裂隙結(jié)構(gòu)融合和疊加的問題,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:
一種巖土體孔裂隙結(jié)構(gòu)多尺度表征方法,所述巖土體孔裂隙結(jié)構(gòu)多尺度表征方法包括:
(1)獲取不同尺度的巖土體孔裂隙結(jié)構(gòu)圖像,所述不同尺度得巖土體孔裂隙結(jié)構(gòu)圖像包括高分辨率圖像和低分辨率圖像;
(2)對(duì)所述高分辨率圖像和低分辨率圖像分別進(jìn)行預(yù)處理;
(3)對(duì)經(jīng)過所述預(yù)處理之后的高分辨率圖像和低分辨率圖像進(jìn)行閾值分割及二值化;
(4)對(duì)所述閾值分割及二值化后的低分辨率圖像進(jìn)行三維數(shù)字模型重構(gòu),獲取低分辨率圖像的第一組合體素單元,對(duì)所述第一組合體素單元進(jìn)行細(xì)化處理后,獲取第一細(xì)化組合體素單元,所述第一細(xì)化組合體素單元的分辨率和目標(biāo)分辨率相同;
(5)對(duì)所述閾值分割及二值化后的高分辨率圖像進(jìn)行粗化處理,對(duì)粗化處理后的所述高分辨率圖像進(jìn)行三維數(shù)字模型重構(gòu),得高分辨率圖像的第二粗化組合體素單元,所述第二粗化組合體素單元的分辨率和目標(biāo)分辨率相同;
(6)對(duì)所述第一細(xì)化組合體素單元和第二粗化組合體素單元進(jìn)行布爾疊加運(yùn)算,得多尺度三維圖像。
更進(jìn)一步地講,所述獲取不同尺度的巖土體孔裂隙結(jié)構(gòu)圖像的方式包括但不限于CT掃描成像、FIB/SEM掃描成像和SEM掃描成像。
更進(jìn)一步地講,所述預(yù)處理包括降噪處理、亮度調(diào)整和對(duì)比度調(diào)整中的至少一種。
更進(jìn)一步地講,對(duì)所述步驟(2)中預(yù)處理后的圖像進(jìn)行二值化處理后,其中白色為孔裂隙結(jié)構(gòu),黑色為基質(zhì)結(jié)構(gòu)。
更進(jìn)一步地講,采用模擬退火算法對(duì)所述步驟(4)和所述步驟(5)中的低分辨率圖像和高分辨率圖像進(jìn)行三維數(shù)字模型重構(gòu)。
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