[發明專利]投影中心的偏移檢測方法、裝置及計算機可讀存儲介質有效
| 申請號: | 202011014758.2 | 申請日: | 2020-09-24 |
| 公開(公告)號: | CN111935468B | 公開(公告)日: | 2021-01-22 |
| 發明(設計)人: | 李敬;徐振賓;宋青林 | 申請(專利權)人: | 歌爾股份有限公司 |
| 主分類號: | H04N9/31 | 分類號: | H04N9/31 |
| 代理公司: | 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287 | 代理人: | 關向蘭 |
| 地址: | 261031 山東省濰*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 投影 中心 偏移 檢測 方法 裝置 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
1.一種投影中心的偏移檢測方法,其特征在于,應用于設有檢測工裝的檢測裝置,檢測工裝設置于投影平面以及投影機之間,所述檢測工裝設有檢測區域集,檢測區域集包括關于空間直角坐標系中處于投影機所處第一平面的坐標軸對稱的檢測區域;所述投影中心的偏移檢測方法包括以下步驟:
獲取所述投影平面當前的投影圖像;
在所述投影圖像中確定所述檢測區域集對應的質點,并獲取所述質點的質點坐標;
基于所述質點坐標,確定所述投影圖像中的投影中心對應的偏移量。
2.如權利要求1所述的投影中心的偏移檢測方法,其特征在于,所述基于所述質點坐標,確定所述投影圖像中的投影中心對應的偏移量的步驟包括:
基于所述質點坐標,確定所述投影中心的投影坐標;
基于所述投影坐標,確定所述投影圖像中的投影中心對應的偏移量。
3.如權利要求2所述的投影中心的偏移檢測方法,其特征在于,所述基于所述質點坐標,確定所述投影中心的投影坐標的步驟包括:
基于所述質點坐標對應的中點坐標,并將所述中點坐標作為所述投影坐標。
4.如權利要求2所述的投影中心的偏移檢測方法,其特征在于,所述基于所述質點坐標,確定所述投影中心的投影坐標的步驟包括:
若所述檢測區域集包括多對檢測區域,則基于所述質點坐標確定各對檢測區域對應的中點坐標;
確定各個所述中點坐標對應的均值坐標,并將所述均值坐標作為所述投影坐標。
5.如權利要求3所述的投影中心的偏移檢測方法,其特征在于,所述基于所述投影坐標,確定所述投影圖像中的投影中心對應的偏移量的步驟包括:
獲取所述投影圖像對應的中心坐標;
基于所述投影坐標以及所述中心坐標,確定所述投影中心對應的偏移量。
6.如權利要求1所述的投影中心的偏移檢測方法,其特征在于,所述檢測區域為所述檢測工裝的鏤空區域,所述在所述投影圖像中確定所述檢測區域集對應的質點的步驟包括:
對所述投影圖像中各個點的亮度進行閾值處理,以獲得所述檢測區域集在所述投影圖像中的投影區域;
基于所述投影區域確定所述檢測區域集對應的質點,并獲取所述質點的質點坐標。
7.如權利要求6所述的投影中心的偏移檢測方法,其特征在于,所述基于所述投影區域確定所述檢測區域集對應的質點,并獲取所述質點的質點坐標的步驟包括:
基于各個所述投影區域中各個點的坐標,分別確定各個所述投影區域對應的坐標均值;
將所述坐標均值對應的點作為所述質點,并將所述坐標均值作為所述質點坐標。
8.如權利要求1至7任一項所述的投影中心的偏移檢測方法,其特征在于,所述檢測工裝所處的第二平面分別與投影平面以及所述第一平面平行。
9.一種投影中心的偏移檢測裝置,其特征在于,所述投影中心的偏移檢測裝置包括:存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的投影中心的偏移檢測程序,所述投影中心的偏移檢測程序被所述處理器執行時實現如權利要求1至8中任一項所述的投影中心的偏移檢測方法的步驟。
10.一種計算機可讀存儲介質,其特征在于,所述計算機可讀存儲介質上存儲有投影中心的偏移檢測程序,所述投影中心的偏移檢測程序被處理器執行時實現如權利要求1至8中任一項所述的投影中心的偏移檢測方法的步驟。
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