[發明專利]一種激光定位方法及裝置

有效

• 申請號: 202011005679.5
• 申請日: 2020-09-23
• 公開（公告）號: CN112269378B
• 公開（公告）日: 2022-11-11
• 發明（設計）人: 鄭超
• 申請（專利權）人: 銳捷網絡股份有限公司
• 主分類號: G05D1/02
• 分類號: G05D1/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種激光定位方法，其特征在于，所述方法應用于部署有多個反光標記的區域定位，包括：

對周圍區域進行激光檢測，得到包括至少1個反光標記坐標的待匹配反光標記集合；

當所述待匹配反光標記集合包括的反光標記個數不小于預設的匹配成功個數閾值k時，從所述待匹配反光標記集合中選取k個反光標記，組成候選反光標記集合，其中，k為自然數，且k≥3；

從所述候選反光標記集合選取2個反光標記作為目標反光標記集合，將所述目標反光標記集合與部署的全局已知反光標記集合進行匹配；

若匹配得到多個結果，則從候選反光標記集合再選取1個反光標記加入所述目標反光標記集合，繼續與所述多個結果及其周圍的已知反光標記組成的局部已知反光標記集合進行匹配，直至得到唯一匹配結果或目標反光標記集合的反光標記個數等于候選反光標記集合的反光標記個數；其中，所述多個結果周圍的已知反光標記為與所述多個結果中每個反光標記的距離不大于預設距離的已知反光標記；

若匹配得到唯一結果，判斷所述候選反光標記集合中是否存在未匹配過的反光標記，若存在，則對所述未匹配過的反光標記進行補充校驗，若補充校驗成功，得到所述候選反光標記集合對應的匹配反光標記集合；并根據所述候選反光標記集合、所述匹配反光標記集合確定當前位置；

若所述目標反光標記集合的反光標記個數等于候選反光標記集合的反光標記個數仍未匹配得到唯一結果時，則所述候選反光標記集合匹配失敗，重新返回執行從所述待匹配反光標記集合中選取k個反光標記，組成新的候選反光標記集合繼續進行匹配；

其中，所述對所述未匹配過的反光標記進行補充校驗，包括：

將所述候選反光標記集合每兩個反光標記之間的距離與所述全局已知反光標記集合中已知反光標記的兩兩之間距離進行比較；

若在所述全局已知反光標記集合中確定出的第二反光標記組中每兩個已知反光標記之間距離與所述候選反光標記集合中對應的兩個反光標記之間距離的差值絕對值均小于預設匹配誤差閾值，則所述候選反光標記集合與所述第二反光標記組匹配；

當所述候選反光標記集合在所述全局已知反光標記集合中匹配得到唯一結果時，則確定所述未匹配過的反光標記補充校驗成功，所述唯一結果為所述匹配反光標記集合。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述從所述候選反光標記集合選取2個反光標記作為目標反光標記集合與部署的全局已知反光標記集合進行匹配，包括：

從所述候選反光標記集合中選取相隔距離最長的2個反光標記作為目標反光標記集合，與部署的全局已知反光標記集合進行匹配。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，將目標反光標記集合與部署的全局已知反光標記集合進行匹配，包括：

將所述目標反光標記集合中每兩個反光標記之間的距離與所述全局已知反光標記集合中已知反光標記的兩兩之間距離進行比較；

若在所述全局已知反光標記集合中確定出的第一反光標記組中每兩個已知反光標記之間距離與所述目標反光標記集合中對應的兩個反光標記之間距離的差值絕對值均小于預設匹配誤差閾值，則所述目標反光標記集合與所述第一反光標記組匹配。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在對所述未匹配過的反光標記進行補充校驗之后，所述方法還包括：

若補充檢驗失敗，則所述候選反光標記集合匹配失敗。