[發明專利]一種含有光學消旋組件的光學系統的像質測試裝置及方法

有效

• 申請號: 202011004257.6
• 申請日: 2020-09-22
• 公開（公告）號: CN112304574B
• 公開（公告）日: 2022-11-01
• 發明（設計）人: 李珂;焦燕;宋新明;李豪;韓放;王永亮
• 申請（專利權）人: 華中光電技術研究所（中國船舶重工集團公司第七一七研究所）
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 武漢藍寶石專利代理事務所(特殊普通合伙) 42242
• 代理人: 方菲

本發明涉及一種含有光學消旋組件的光學系統的像質測試裝置及方法，其像質測試裝置包括準直光學系統、含有光學消旋組件的光學系統、像方接收系統，所述準直光學系統，用于產生含有光學消旋組件的光學系統的像質測試所需的準直目標光束；所述含有光學消旋組件的光學系統位于準直光學系統的出射光路上，用于對所述準直光學系統成像；所述像方接收系統位于含有光學消旋組件的光學系統的成像光路上，用于接收所述含有光學消旋組件的光學系統的出射像并對其進行MTF測試。本發明通過觀察和計算出射像的偏差進行針對性調整，解決了含有光學消旋組件的光學系統的像質測試的問題，保證了系統像質測試精度。

技術領域

本發明涉及光學領域，涉及一種含有光學消旋組件的光學系統的像質測試裝置及方法。

背景技術

受制于光學傳函儀結構本身限制，傳統的像質測試裝置及方法無法進行含有光學消旋組件的光學系統像質測試，其像質的評估一直是一個技術難題。

發明內容

本發明針對含有光學消旋組件的光學系統的像質測試難的技術問題，提供了一種含有光學消旋組件的光學系統的像質測試裝置及方法。

本發明解決上述技術問題的技術方案如下：

本發明的第一方面目的提供了一種含有光學消旋組件的光學系統的像質測試裝置，包括準直光學系統、含有光學消旋組件的光學系統、像方接收系統，所述準直光學系統，用于產生含有光學消旋組件的光學系統的像質測試所需的準直目標光束；所述含有光學消旋組件的光學系統包括前端接收光路組件、光學消旋組件、后端成像光路組件，其位于準直光學系統的出射光路上，用于對所述準直光學系統成像；

所述像方接收系統位于含有光學消旋組件的光學系統的成像光路上，用于接收所述含有光學消旋組件的光學系統的出射像并對其進行MTF測試。

在本發明的一些實施例中，所述準直光學系統沿光路依次包括靶標光源、拋物面準直鏡、折轉平面鏡，所述折轉平面鏡安裝在第一支架上，所述第一支架用于帶動折轉平面鏡轉動以提供所述含有光學消旋組件的光學系統所需的不同視場。

在本發明的一些實施例中，所述靶標光源上還設有濾光片，所述濾光片用于濾除準直光束中的非測試波段的光束。

在本發明的一些實施例中，所述光學消旋組件包括K鏡、別漢棱鏡或道威棱鏡中的一種。

在本發明的一些實施例中，所述像方接收系統包括像分析儀、第二支架、轉動工作臺，所述像分析儀安裝在第二支架上，用于接收含有光學消旋組件的光學系統的對其進行MTF測試；所述第二支架設于轉動工作臺上，所述轉動工作臺用于為第二支架提供支撐以及帶動第二支架和像分析儀轉動。

進一步的，所述含有光學消旋組件的光學系統安裝在所述第二支架上。

在本發明的第二方面目的提供了含有光學消旋組件的光學系統的像質測試方法，包括本發明第一方面目的提供的含有光學消旋組件的光學系統的像質測試裝置，包括如下步驟：

根據平面反射鏡自準直方法初步確定含有光學消旋組件的光學系統的像質測試裝置的安裝位置滿足工作要求；

保持光學消旋組件靜止，根據含有光學消旋組件的光學系統的物像關系，移動像方接收系統直至找到初始像點；

通過調整所述像方接收系統不斷縮小所述準直光學系統的出射光軸、所述含有光學消旋組件的光學系統的光軸及所述像方接收系統的光軸的位置偏差，直至所述光學消旋組件轉動工作時所述像方接收系統的接收的像點位置不再變化，此時所述像點的位置所對應的視場即為中心視場，該像點為基準測試像點。