[發(fā)明專利]具有鈣鈦礦復(fù)合柵結(jié)構(gòu)的GaN HEMT光電探測(cè)器及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010976148.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-09-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112349777B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-11-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張澤雨林;陳大正;朱衛(wèi)東;游海龍;張進(jìn)成;郝躍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安電子科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L29/778 | 分類號(hào): | H01L29/778;H01L21/335;H01L29/49;H01L29/423;H01L29/20;H01L31/113 |
| 代理公司: | 西安嘉思特知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 劉長(zhǎng)春 |
| 地址: | 710000 陜*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 鈣鈦礦 復(fù)合 結(jié)構(gòu) gan hemt 光電 探測(cè)器 及其 制備 方法 | ||
1.一種具有鈣鈦礦復(fù)合柵結(jié)構(gòu)的GaN HEMT光電探測(cè)器,其特征在于,包括襯底(1)、位于所述襯底(1)上的GaN緩沖層(2)、位于所述GaN緩沖層(2)上的AlGaN勢(shì)壘層(3)、位于所述AlGaN勢(shì)壘層(3)表面兩側(cè)的源漏電極(4)以及位于所述源漏電極(4)之間的復(fù)合柵結(jié)構(gòu)(5),其中,所述復(fù)合柵結(jié)構(gòu)(5)包括位于所述AlGaN勢(shì)壘層(3)上的鈣鈦礦層(51)以及位于所述鈣鈦礦層(51)上的TCO層(52)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有鈣鈦礦復(fù)合柵結(jié)構(gòu)的GaN HEMT光電探測(cè)器,其特征在于,所述鈣鈦礦層(51)的厚度為200-1000nm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有鈣鈦礦復(fù)合柵結(jié)構(gòu)的GaN HEMT光電探測(cè)器,其特征在于,所述鈣鈦礦層(51)為有機(jī)無(wú)機(jī)雜化鈣鈦礦或者全無(wú)機(jī)鈣鈦礦。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有鈣鈦礦復(fù)合柵結(jié)構(gòu)的GaN HEMT光電探測(cè)器,其特征在于,所述鈣鈦礦層(51)包括有機(jī)無(wú)機(jī)雜化鈣鈦礦MAPbI3。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有鈣鈦礦復(fù)合柵結(jié)構(gòu)的GaN HEMT光電探測(cè)器,其特征在于,所述TCO層(52)的厚度為100nm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有鈣鈦礦復(fù)合柵結(jié)構(gòu)的GaN HEMT光電探測(cè)器,其特征在于,所述TCO層(52)的材料為ITO、FTO或者AZO。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有鈣鈦礦復(fù)合柵結(jié)構(gòu)的GaN HEMT光電探測(cè)器,其特征在于,所述襯底(1)的材料為藍(lán)寶石、硅或者碳化硅。
8.一種具有鈣鈦礦復(fù)合柵結(jié)構(gòu)的GaN HEMT光電探測(cè)器的制備方法,其特征在于,包括:
在襯底上依次外延生長(zhǎng)GaN緩沖層和AlGaN勢(shì)壘層;
在所述AlGaN勢(shì)壘層上制作源漏電極;
在所述源漏電極之間的柵極區(qū)域制備鈣鈦礦層,并在所述鈣鈦礦層上淀積TCO層,以形成復(fù)合柵結(jié)構(gòu),從而完成器件的制備。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的具有鈣鈦礦復(fù)合柵結(jié)構(gòu)的GaN HEMT光電探測(cè)器的制備方法,其特征在于,在所述AlGaN勢(shì)壘層上制作源漏電極,包括:
在所述AlGaN勢(shì)壘層上光刻出源漏電極區(qū)域;
在所述源漏電極區(qū)域依次淀積22nm厚的鈦金屬、140nm厚的鋁金屬、55nm厚的鎳金屬以及45nm厚的金金屬,以形成器件的源漏電極。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的具有鈣鈦礦復(fù)合柵結(jié)構(gòu)的GaN HEMT光電探測(cè)器的制備方法,其特征在于,在所述源漏電極之間的柵極區(qū)域制備鈣鈦礦層,并在所述鈣鈦礦層上淀積TCO層,以形成復(fù)合柵結(jié)構(gòu),包括:
在樣品表層沉積一層碘化鉛;
在所述碘化鉛上沉積碘化鉀胺,并使所述碘化鉛與所述碘化鉀胺進(jìn)行充分反應(yīng),生成有機(jī)無(wú)機(jī)雜化MAPbI3鈣鈦礦層;
刻蝕所述樣品,以形成源、漏、柵極的隔離槽;
光刻所述樣品表面以形成柵極區(qū)域;
在所述柵極區(qū)域淀積TCO層,以形成復(fù)合柵結(jié)構(gòu)。
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H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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