[發明專利]美顏方法、參數維護方法、裝置、電子設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202010975503.6 | 申請日: | 2020-09-16 |
| 公開(公告)號: | CN112102195A | 公開(公告)日: | 2020-12-18 |
| 發明(設計)人: | 華路延 | 申請(專利權)人: | 廣州虎牙科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00;G06N20/00;G06K9/62;H04N21/2187;H04N21/431 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 張欣欣 |
| 地址: | 511495 廣東省廣州市番禺*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 美顏 方法 參數 維護 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種美顏參數維護方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取第一空間變量表以及第二空間變量表;其中,所述第一空間變量表和所述第二空間變量表分別包括有多組美顏參數,每一所述美顏參數各自對應一個美顏效果;
針對所述第一空間變量表中的第一美顏參數,在所述第二空間變量表中確定出與所述第一美顏參數對應相同美顏效果的第二美顏參數;
保存所述第一美顏參數與所述第二美顏參數的對應關系,并將所述對應關系記錄在空間變量維護策略;其中,所述空間變量維護策略記錄有所述第一空間變量表中的美顏參數與所述第二空間變量表中的美顏參數的對應關系。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述針對所述第一空間變量表中的第一美顏參數,在所述第二空間變量表中確定出與所述第一美顏參數對應相同美顏效果的第二美顏參數,包括:
以所述第一美顏參數對應的第一美顏圖像為基準,在按照所述第二空間變量表進行美顏處理的多個第二美顏圖像中,查找出與所述第一美顏圖像具有相同美顏效果的目標美顏圖像,并將所述目標美顏圖像對應的美顏參數確定為第二美顏參數。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,所述以所述第一美顏參數對應的第一美顏圖像為基準,在按照所述第二空間變量表進行美顏處理的多個第二美顏圖像中,查找出與所述第一美顏圖像具有相同美顏效果的目標美顏圖像,包括:
將所述第一美顏圖像與每一所述第二美顏圖像各自對應的美顏效果作為響應值,以及將所述第一美顏圖像與每一所述第二美顏圖像兩者間的美顏效果差異值作為反饋值,對預先構建的機器學習模型進行強化學習,并獲得所述機器學習模型輸出的與所述第一美顏圖像具有相同美顏效果的目標美顏圖像。
4.一種美顏方法,其特征在于,應用于服務器,所述服務器與直播發起端建立通信;所述服務器保存有采用如權利要求1-3中任一項所述的美顏參數維護方法獲得的空間變量維護策略;
所述方法包括:
接收所述直播發起端發送的待處理直播圖像,以及針對初始美顏參數的參數轉換請求;其中,所述初始美顏參數為針對所述第一空間變量表的美顏參數;
響應于所述參數轉換請求,在所述空間變量維護策略中查找出所述初始美顏參數對應的目標美顏參數;其中,所述目標美顏參數為針對所述第二空間變量表的美顏參數;
利用所述目標美顏參數對所述待處理直播圖像進行美顏處理,并將美顏處理后的直播圖像發出。
5.一種美顏參數維護裝置,其特征在于,所述裝置包括:
第一處理模塊,用于獲取第一空間變量表以及第二空間變量表;其中,所述第一空間變量表和所述第二空間變量表分別包括有多組美顏參數,每一所述美顏參數各自對應一個美顏效果;
所述第一處理模塊還用于,針對所述第一空間變量表中的第一美顏參數,在所述第二空間變量表中確定出與所述第一美顏參數對應相同美顏效果的第二美顏參數;
保存模塊,用于保存所述第一美顏參數與所述第二美顏參數的對應關系,并將所述對應關系記錄在空間變量維護策略;其中,所述空間變量維護策略記錄有所述第一空間變量表中的美顏參數與所述第二空間變量表中的美顏參數的對應關系。
6.如權利要求5所述的裝置,其特征在于,所述第一處理模塊在針對所述第一空間變量表中的第一美顏參數,在所述第二空間變量表中確定出與所述第一美顏參數對應相同美顏效果的第二美顏參數時,具體用于:
以所述第一美顏參數對應的第一美顏圖像為基準,在按照所述第二空間變量表進行美顏處理的多個第二美顏圖像中,查找出與所述第一美顏圖像具有相同美顏效果的目標美顏圖像,并將所述目標美顏圖像對應的美顏參數確定為第二美顏參數。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于廣州虎牙科技有限公司,未經廣州虎牙科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010975503.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:原子力顯微測試系統及其樣品臺
- 下一篇:一種電路檢測方法、裝置及設備





