[發(fā)明專利]一種基于聲波衰減的致密儲(chǔ)層含氣飽和度確定方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010971966.5
• 申請(qǐng)日: 2020-09-16
• 公開（公告）號(hào): CN112065361B
• 公開（公告）日: 2021-03-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 漆喬木;曹俊興;王興建;楊宇勇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 成都理工大學(xué)
• 主分類號(hào): E21B47/00
• 分類號(hào): E21B47/00;E21B49/00
• 代理公司: 北京市領(lǐng)專知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11590
• 代理人: 任君

本發(fā)明公開了一種基于聲波衰減的致密儲(chǔ)層含氣飽和度確定方法，屬于氣藏勘探開發(fā)技術(shù)領(lǐng)域，其步驟包括獲得測(cè)量聲波及常規(guī)測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)、根據(jù)步驟(1)的數(shù)據(jù)分別獲取縱波衰減和橫波衰減計(jì)算縱波衰減與橫波衰減比值然后根據(jù)有無巖心的情況，分別確定致密儲(chǔ)層含氣飽和度；本發(fā)明的衰減法作為一種非電性方法，可以更準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)低電阻率儲(chǔ)層巖石的含氣飽和度；實(shí)際應(yīng)用結(jié)果表明，本發(fā)明的方法能夠?qū)搸r及碳酸鹽巖等致密儲(chǔ)層的含氣量進(jìn)行有效分析，應(yīng)用范圍廣。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及氣藏勘探開發(fā)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種基于聲波衰減的致密儲(chǔ)層含氣飽和度確定方法。

背景技術(shù)

地層含氣飽和度對(duì)預(yù)測(cè)未來油藏動(dòng)態(tài)具有重要意義，同時(shí)它是油氣儲(chǔ)量估算的重要參數(shù)(Rezaee,2015)。準(zhǔn)確估計(jì)含氣飽和度一直是與巖石物理性質(zhì)相關(guān)的最具挑戰(zhàn)性的計(jì)算之一，尤其是對(duì)于低孔低滲的頁巖氣藏和致密氣藏(Xu et al.,2017)。阿爾奇方程最初是針對(duì)干凈砂巖提出的，通常不適用于含粘土頁巖和非均質(zhì)致密地層。為了解決非常規(guī)資源飽和度確定問題，學(xué)者提出了改進(jìn)的Simandoux、印度尼西亞、全頁巖和雙水模型。這些方法可適用于典型的高阻氣層。然而，他們通常會(huì)低估低電阻率儲(chǔ)層的含氣飽和度。低阻油層是指儲(chǔ)層含水段和含油氣段之間存在低電阻率差異，其成因多種多樣，如有機(jī)質(zhì)頁巖中存在豐富的微孔和導(dǎo)電礦物，例如黃鐵礦。傳統(tǒng)的飽和度分析方法是以電測(cè)井資料為基礎(chǔ)的，通常不能精確反映頁巖和致密氣藏的含氣性，特別是低電阻率儲(chǔ)層。因此，亟需提出更準(zhǔn)確的飽和度確定方法。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的就在于提供一種基于聲波衰減的致密儲(chǔ)層含氣飽和度確定方法，以解決上述問題。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是這樣的：

一種基于聲波衰減的致密儲(chǔ)層含氣飽和度確定方法，包括以下步驟：

(1)采集獲得測(cè)量聲波及測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)；

(2)根據(jù)步驟(1)獲得的測(cè)量聲波及測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)，分別計(jì)算各個(gè)深度點(diǎn)的縱波衰減和橫波衰減并基于各個(gè)深度點(diǎn)的縱波衰減繪制得到縱波衰減測(cè)井曲線，基于各個(gè)深度點(diǎn)的橫波衰減繪制得到橫波衰減測(cè)井曲線；

(3)計(jì)算得到各個(gè)深度點(diǎn)的縱波衰減與橫波衰減的比值

(4)(a)有巖心時(shí)，以巖心含氣飽和度為縱坐標(biāo)，步驟(3)所得的比值為橫坐標(biāo)，繪制得到飽和度-衰減比關(guān)系圖；在飽和度-衰減比關(guān)系圖中，對(duì)于散點(diǎn)關(guān)系進(jìn)行線性最小二乘擬合，用x表示衰減比，y表示含氣飽和度，擬合后得到如以下方程的關(guān)系：

y＝b+a×x

其中系數(shù)a，b分別為線性最小二乘擬合關(guān)系中的斜率以及截距；

最后將各個(gè)深度點(diǎn)所提取得到的衰減比帶入上述公式，求得并輸出最終含氣飽和度測(cè)井曲線：

(b)無巖心時(shí)，首先將衰減比測(cè)井曲線轉(zhuǎn)換為雙峰概率直方圖，其橫坐標(biāo)為衰減比從小到大的排列分布，縱坐標(biāo)為每一個(gè)衰減比范圍內(nèi)具有的數(shù)據(jù)點(diǎn)個(gè)數(shù)百分比；然后將所述雙峰概率直方圖的第一峰值設(shè)定為地層最小含氣飽和度，即含氣飽和度為零，第二峰值設(shè)定為地層最大含氣飽和度，由1減去電阻率測(cè)井曲線計(jì)算得到的最大含水飽和度得到；最后記錄兩個(gè)峰所在位置對(duì)應(yīng)的值大小；

再將分布于兩個(gè)峰值之間的衰減比進(jìn)行線性歸一化處理，得到各個(gè)深度點(diǎn)衰減比值所對(duì)應(yīng)的含氣飽和度大小；

將衰減比小于第一個(gè)峰值的地層含氣飽和度賦值為最小含氣飽和度值大小，將衰減比大于第二個(gè)峰值的地層含氣飽和度賦值為最大含氣飽和度；

最后輸出最終含氣飽和度測(cè)井曲線。