[發明專利]一種基于聲波衰減的致密儲層含氣飽和度確定方法

有效

• 申請號: 202010971966.5
• 申請日: 2020-09-16
• 公開（公告）號: CN112065361B
• 公開（公告）日: 2021-03-12
• 發明（設計）人: 漆喬木;曹俊興;王興建;楊宇勇
• 申請（專利權）人: 成都理工大學
• 主分類號: E21B47/00
• 分類號: E21B47/00;E21B49/00
• 代理公司: 北京市領專知識產權代理有限公司 11590
• 代理人: 任君

1.一種基于聲波衰減的致密儲層含氣飽和度確定方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)采集獲得測量聲波及測井數據；

(2)根據步驟(1)獲得的測量聲波及測井數據，分別計算各個深度點的縱波衰減和橫波衰減并基于各個深度點的縱波衰減繪制得到縱波衰減測井曲線，基于各個深度點的橫波衰減繪制得到橫波衰減測井曲線；

(3)計算得到各個深度點的縱波衰減與橫波衰減的比值

(4)(a)有巖心時，以巖心含氣飽和度為縱坐標，步驟(3)所得的比值為橫坐標，繪制得到飽和度-衰減比關系圖；在飽和度-衰減比關系圖中，對于散點關系進行線性最小二乘擬合，用x表示衰減比，y表示含氣飽和度，擬合后得到如以下方程的關系：

y＝b+a×x

其中系數a,b分別為線性最小二乘擬合關系中的斜率以及截距；

最后將各個深度點所提取得到的衰減比帶入上述公式，求得并輸出最終含氣飽和度測井曲線：

(b)無巖心時，首先將衰減比測井曲線轉換為雙峰概率直方圖，其橫坐標為衰減比從小到大的排列分布，縱坐標為每一個衰減比范圍內具有的數據點個數百分比；然后將所述雙峰概率直方圖的第一峰值設定為地層最小含氣飽和度，即含氣飽和度為零，第二峰值設定為地層最大含氣飽和度，第二峰值由1減去電阻率測井曲線計算得到的最大含水飽和度得到；最后記錄兩個峰所在位置對應的值大小；

再將分布于兩個峰值之間的衰減比進行線性歸一化處理，得到各個深度點衰減比值所對應的含氣飽和度大小；

將衰減比小于第一個峰值的地層含氣飽和度賦值為最小含氣飽和度值，將衰減比大于第二個峰值的地層含氣飽和度賦值為最大含氣飽和度；

最后輸出最終含氣飽和度測井曲線。

2.根據權利要求1所述的一種基于聲波衰減的致密儲層含氣飽和度確定方法，其特征在于：步驟(2)中，所述縱波衰減的獲取方法為中值頻移法。

3.根據權利要求1所述的一種基于聲波衰減的致密儲層含氣飽和度確定方法，其特征在于：步驟(2)中，所述橫波衰減的獲取方法為多頻率反演法。