[發明專利]一種基于機器視覺的電子元件檢查方法

在審

• 申請號: 202010945689.0
• 申請日: 2020-09-10
• 公開（公告）號: CN112191544A
• 公開（公告）日: 2021-01-08
• 發明（設計）人: 肖杰;楊小英;李海劍;楊勝
• 申請（專利權）人: 沅陵縣向華電子科技有限公司
• 主分類號: B07C5/00
• 分類號: B07C5/00;B07C5/34;B07C5/02;G06K17/00
• 代理公司: 長沙市善權專利代理事務所(普通合伙) 43260
• 代理人: 黃鵬飛

本發明公開了一種基于機器視覺的電子元件檢查方法，包括如下步驟：步驟一、收集電子元件表面的損害圖像樣本和電子元件無損害的圖像樣本，同時收集電子元件表面的損害圖像樣本對應的超聲波探傷信號以及電子元件無損害的圖像樣本對應的超聲波探傷信號；步驟二、對電子元件表面的損害圖像的損壞種類進行人工標注，得到標注后的電子元件表面的損害圖像樣本。本發明實現了對電子元件的視覺檢測與超聲檢測相結合的自動檢測方法，通過兩種檢測方法結合，大大提高了檢測的準確性，此外實現了電子元件的自動檢測，節省了人工，有效降低了漏檢率。

技術領域：

本發明涉屬于電纜領域，尤其涉及一種基于機器視覺的電子元件檢查方法。

背景技術：

現有的電子元件進行檢測是通常是人工進行檢測，容易出現漏看的地方，導致漏檢率較高，進入降低了電子產品的合格率，因此需要進行改進。

發明內容：

本發明的目的在于提供一種基于機器視覺的電子元件檢查方法，本發明實現了對電子元件的視覺檢測與超聲檢測相結合的自動檢測方法，通過兩種檢測方法結合，大大提高了檢測的準確性，此外實現了電子元件的自動檢測，節省了人工，有效降低了漏檢率。

為解決上述問題，本發明的技術方案是：

一種基于機器視覺的電子元件檢查方法，包括如下步驟：

步驟一、收集電子元件表面的損害圖像樣本和電子元件無損害的圖像樣本，同時收集電子元件表面的損害圖像樣本對應的超聲波探傷信號以及電子元件無損害的圖像樣本對應的超聲波探傷信號；

步驟二、對電子元件表面的損害圖像的損壞種類進行人工標注，得到標注后的電子元件表面的損害圖像樣本；

步驟三、將部分標注后的電子元件表面的損害圖像樣和電子元件無損害的圖像樣本以及對應的超聲波探傷信號分別作為訓練集的正樣本集和負樣本集；將其余部分標注后的電子元件表面的損害圖像樣本及對應的超聲波探傷信號作為測試集；采用VGG16卷積神經網絡進行訓練得到最終訓練模型；

步驟四、采用超聲波探傷儀以及攝像頭采集電子元件的表面圖像以及超聲波探傷信號輸入最終訓練模型，對電子元件進行在線監測。

進一步的改進，所述電子元件表面印刷有唯一碼；最終訓練模型記錄唯一碼對應的電子元件圖片，并對電子元件圖片的損傷處進行標注。

進一步的改進，所述唯一碼為條形碼或二維碼。

進一步的改進，所述標注為將損傷處整體涂紅，并注明損傷種類。

進一步的改進，所述步驟四中，電子元件正反面的圖片均被采集。

進一步的改進，所述對步驟四中的電子元件檢測完畢后，通過掃碼儀掃描編號，當對應的電子元件為有損傷的元件時，與掃碼儀無線連接的報警器報警。

本發明的優點：

本發明實現了對電子元件的視覺檢測與超聲檢測相結合的自動檢測方法，通過兩種檢測方法結合，大大提高了檢測的準確性，此外實現了電子元件的自動檢測，節省了人工，有效降低了漏檢率。

附圖說明：

圖1為本發明的流程示意圖；

圖2為本發明輸送裝置的示意圖；

圖3為吸附盒和被動傳送輥的俯視結構示意圖。

具體實施方式：

如圖1所示的一種基于機器視覺的電子元件檢查方法，包括如下步驟：

步驟一、收集電子元件表面的損害圖像樣本和電子元件無損害的圖像樣本，同時收集電子元件表面的損害圖像樣本對應的超聲波探傷信號以及電子元件無損害的圖像樣本對應的超聲波探傷信號；