[發(fā)明專利]芯片設(shè)計(jì)方法、系統(tǒng)、設(shè)備以及存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010935355.5
• 申請(qǐng)日: 2020-09-08
• 公開（公告）號(hào): CN112069754B
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王毓千;晉大師;姚水音;梁洪昌;唐志敏
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 海光信息技術(shù)股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F30/3323
• 分類號(hào): G06F30/3323;G06F30/3312
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105
• 代理人: 彭久云

一種芯片設(shè)計(jì)方法、系統(tǒng)、設(shè)備以及存儲(chǔ)介質(zhì)。該芯片設(shè)計(jì)方法包括：利用分析工具從邏輯功能描述信息和第一網(wǎng)表中分別抽取對(duì)應(yīng)的寄存器傳輸級(jí)功能模塊的第一屬性值和第一網(wǎng)表功能模塊的第二屬性值；基于屬性設(shè)計(jì)信息，根據(jù)邏輯功能描述信息和第一網(wǎng)表中各個(gè)對(duì)應(yīng)的寄存器傳輸級(jí)功能模塊的第一屬性值和第一網(wǎng)表功能模塊的第二屬性值驗(yàn)證寄存器傳輸級(jí)描述文件與第一網(wǎng)表是否匹配。該芯片設(shè)計(jì)方法可以減小芯片設(shè)計(jì)過程中增加了錯(cuò)誤和漏洞產(chǎn)生的可能性，進(jìn)而保證芯片的系統(tǒng)性能的穩(wěn)定并提高可靠性。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開的實(shí)施例涉及一種芯片設(shè)計(jì)方法、系統(tǒng)、設(shè)備以及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

目前，功耗已經(jīng)成為集成電路設(shè)計(jì)中日益關(guān)注的因素。當(dāng)前在芯片設(shè)計(jì)中通常采用Synopsys等工具軟件實(shí)現(xiàn)整個(gè)流程。為了實(shí)現(xiàn)低功耗設(shè)計(jì)，Synopsys工具根據(jù)UFP(Unified Power Format)文件在門級(jí)網(wǎng)表(Gate Netlist)插入一些低功耗所需的特殊電路單元，例如，電平轉(zhuǎn)換器等。這種情況下，檢測(cè)設(shè)計(jì)的正確性尤為重要。在芯片設(shè)計(jì)時(shí)常用形式驗(yàn)證(Formal Verification)方法，以通過形式證明的方式驗(yàn)證芯片設(shè)計(jì)的功能是否正確。形式驗(yàn)證方法主要進(jìn)行邏輯形式和功能的一致性比較。

發(fā)明內(nèi)容

本公開的實(shí)施例提供一種芯片設(shè)計(jì)方法、系統(tǒng)、設(shè)備以及存儲(chǔ)介質(zhì)。芯片設(shè)計(jì)方法可以減小芯片設(shè)計(jì)過程中增加了錯(cuò)誤和漏洞產(chǎn)生的可能性，保證芯片的系統(tǒng)性能的穩(wěn)定并提高可靠性。

本公開至少一個(gè)實(shí)施例提供了一種芯片設(shè)計(jì)方法，該芯片設(shè)計(jì)方法包括：加載寄存器傳輸級(jí)描述文件，并讀取所述寄存器傳輸級(jí)描述文件的用于芯片設(shè)計(jì)的邏輯功能描述信息；加載屬性設(shè)計(jì)文件，并讀取所述屬性設(shè)計(jì)文件的用于芯片設(shè)計(jì)的屬性設(shè)計(jì)信息；利用邏輯綜合工具根據(jù)所述邏輯功能描述信息和所述屬性設(shè)計(jì)信息結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)生成第一網(wǎng)表，其中，所述邏輯功能描述信息定義多個(gè)寄存器傳輸級(jí)功能模塊，所述第一網(wǎng)表包括與所述多個(gè)寄存器傳輸級(jí)功能模塊一一對(duì)應(yīng)設(shè)置的多個(gè)第一網(wǎng)表功能模塊；利用分析工具從所述邏輯功能描述信息和所述第一網(wǎng)表中分別抽取對(duì)應(yīng)的所述寄存器傳輸級(jí)功能模塊的第一屬性值和所述第一網(wǎng)表功能模塊的第二屬性值；以及基于所述屬性設(shè)計(jì)信息，根據(jù)所述邏輯功能描述信息和所述第一網(wǎng)表中各個(gè)對(duì)應(yīng)的所述寄存器傳輸級(jí)功能模塊的第一屬性值和所述第一網(wǎng)表功能模塊的第二屬性值驗(yàn)證所述寄存器傳輸級(jí)描述文件與所述第一網(wǎng)表是否匹配。

例如，在本公開至少一實(shí)施例提供的芯片設(shè)計(jì)方法中，驗(yàn)證所述寄存器傳輸級(jí)描述文件與所述第一網(wǎng)表是否匹配包括：將所述邏輯功能描述信息和所述第一網(wǎng)表中各個(gè)對(duì)應(yīng)的所述寄存器傳輸級(jí)功能模塊的第一屬性值和所述第一網(wǎng)表功能模塊的第二屬性值進(jìn)行比較，當(dāng)所述邏輯功能描述信息和所述第一網(wǎng)表中各個(gè)對(duì)應(yīng)的所述寄存器傳輸級(jí)功能模塊的第一屬性值和所述第一網(wǎng)表功能模塊的第二屬性值相等時(shí)，確定所述寄存器傳輸級(jí)描述文件與所述第一網(wǎng)表相互匹配，當(dāng)所述邏輯功能描述信息和所述第一網(wǎng)表中各個(gè)對(duì)應(yīng)的所述寄存器傳輸級(jí)功能模塊的第一屬性值和所述第一網(wǎng)表功能模塊的第二屬性值的至少一個(gè)不相等時(shí)，則確定所述寄存器傳輸級(jí)描述文件與所述第一網(wǎng)表之間不匹配。

例如，本公開至少一實(shí)施例提供的芯片設(shè)計(jì)方法還包括：基于所述屬性設(shè)計(jì)信息，將所述邏輯功能描述信息的相鄰傳輸級(jí)的寄存器傳輸級(jí)功能模塊的第一屬性值或所述第一網(wǎng)表的相鄰傳輸級(jí)的第一網(wǎng)表功能模塊的第二屬性值進(jìn)行比較，以確定所述寄存器傳輸級(jí)描述文件或所述第一網(wǎng)表的正確性。

例如，在本公開至少一實(shí)施例提供的芯片設(shè)計(jì)方法中，所述第一屬性值和所述第二屬性值分別包括電壓值、時(shí)序、時(shí)鐘頻率、功耗中的一個(gè)或多個(gè)。

例如，在本公開至少一實(shí)施例提供的芯片設(shè)計(jì)方法還包括：比較每個(gè)所述寄存器傳輸級(jí)功能模塊的輸入端在所述邏輯功能描述信息中的第一屬性值與對(duì)應(yīng)的第一網(wǎng)表功能模塊的輸入端在所述第一網(wǎng)表中的第二屬性值，當(dāng)所述邏輯功能描述信息和所述第一網(wǎng)表中每個(gè)對(duì)應(yīng)的所述寄存器傳輸級(jí)功能模塊的輸入端和所述第一網(wǎng)表功能模塊的輸入端的屬性值相等時(shí)，確定所述寄存器傳輸級(jí)功能模塊的輸入端與所述第一網(wǎng)表功能模塊的輸入端匹配。