[發明專利]用以檢測外部端子處的測試探測接觸的方法和設備

在審

• 申請號: 202010902175.7
• 申請日: 2020-09-01
• 公開（公告）號: CN112447261A
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發明（設計）人: 藤原敬典;T·M·奧尼爾;億田富夫
• 申請（專利權）人: 美光科技公司
• 主分類號: G11C29/50
• 分類號: G11C29/50;G11C29/56
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287
• 代理人: 王龍

1.一種設備，其包括：

輸入緩沖器，其耦合到輸入端子，其中所述輸入緩沖器經配置以基于在所述輸入端子處接收到的電壓提供輸入信號；

測試端子，其經配置以接收探測信號；

電力供應端子，其經配置以接收外部供應電壓；以及

測試邏輯電路，其經配置以響應于所述探測信號指示測試且外部供應電壓檢測信號具有指示所述外部供應電壓的檢測的值，起始探測接觸檢測測試，其中在所述起始探測接觸檢測測試期間，所述測試邏輯電路經配置以接收所述輸入信號，且提供具有基于所述輸入信號的值的輸出信號。

2.根據權利要求1所述的設備，其中在所述探測接觸檢測測試期間，所述測試邏輯電路經配置以響應于在所述輸入端子處接收到的所述電壓超過閾值電壓，提供具有第一邏輯值的所述輸出信號，且響應于在所述輸入端子處接收到的所述電壓小于所述閾值電壓，提供具有第二邏輯值的所述輸出信號。

3.根據權利要求1所述的設備，其進一步包括耦合到第二輸入端子的第二輸入緩沖器，其中所述第二輸入緩沖器經配置以基于在所述第二輸入端子處接收到的電壓提供第二輸入信號，其中在所述探測接觸檢測測試期間，所述測試邏輯電路經配置以提供具有進一步基于所述第二輸入信號的值的所述輸出信號。

4.根據權利要求3所述的設備，其中在所述探測接觸檢測測試期間，所述測試邏輯電路經配置以響應于在所述輸入端子或所述第二輸入端子中的任一者處接收到的所述電壓超過閾值電壓，提供具有第一邏輯值的所述輸出信號，且響應于在所述輸入端子和所述第二輸入端子兩者處接收到的所述電壓小于所述閾值電壓，提供具有第二邏輯值的所述輸出信號。

5.根據權利要求1所述的設備，其進一步包括外部供應電壓檢測電路，其經配置以響應于所述外部供應電壓比第二外部供應電壓大至少一閾值電壓，提供具有指示所述外部供應電壓的檢測的所述值的所述外部供應電壓檢測信號。

6.根據權利要求1所述的設備，其中所述測試邏輯電路經配置以響應于所述探測信號指示所述測試，為單端操作配置所述輸入緩沖器。

7.根據權利要求1所述的設備，其中所述測試邏輯電路經配置以響應于所述探測信號指示所述測試且所述外部供應電壓檢測信號具有指示所述外部供應電壓的檢測的所述值，使開關電路將所述輸入緩沖器的輸出耦合到所述測試邏輯電路。

8.根據權利要求7所述的設備，其中所述測試邏輯電路經配置以響應于所述探測信號指示所述測試且所述外部供應電壓檢測信號具有指示所述外部供應電壓的檢測的所述值，使所述開關電路將所述輸入緩沖器的所述輸出耦合到經配置以提供所述輸出信號的邏輯門。

9.根據權利要求8所述的設備，其中所述測試邏輯電路經配置以響應于所述探測信號指示所述測試且所述外部供應電壓檢測信號具有指示所述外部供應電壓的檢測的所述值，使所述開關電路將包含所述輸入緩沖器的多個輸入緩沖器的輸出耦合到所述邏輯門，其中所述多個輸入緩沖器中的每一者耦合到不同的相應輸入端子。

10.根據權利要求9所述的設備，其中所述邏輯門經配置以對所述多個輸入緩沖器的所述輸出執行邏輯“或”運算，以提供所述輸出信號。

11.根據權利要求9所述的設備，其中所述邏輯門經配置以對所述多個輸入緩沖器的所述輸出執行邏輯“與”運算，以提供所述輸出信號。

12.根據權利要求1所述的設備，其中所述輸入端子經配置以接收時鐘信號、時鐘啟用信號、芯片選擇信號或命令和地址位信號中的一者。