[發明專利]校驗攝像頭模組性能測試設備的方法、介質和電子設備

在審

• 申請號: 202010893904.7
• 申請日: 2020-08-31
• 公開（公告）號: CN112040224A
• 公開（公告）日: 2020-12-04
• 發明（設計）人: 岳華輝;李超玉
• 申請（專利權）人: 南昌歐菲晶潤科技有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 北京景聞知識產權代理有限公司 11742
• 代理人: 朱鴻雁

本發明公開了一種校驗攝像頭模組性能測試設備的方法、介質和電子設備，所述校驗攝像頭模組性能測試設備的方法，包括，獲取第一組SFR值和第二組SFR值，其中，所述第一組SFR值為基于攝像頭模組多個不同物距下待校驗測試設備獲得的測試圖像得到，所述第二組SFR值為基于所述攝像頭模組多個不同物距下標準測試設備獲得的測試圖像獲得；根據所述第一組SFR值和所述第二組SFR值獲得所述待校驗測試設備與所述標準測試設備的峰值測試偏差值；根據所述峰值測試偏差值校正所述待校驗測試設備的SFR值與物距的關系式。該方法，在攝像頭模組產品出現離焦的情況下，可以提高待校驗測試設備的校驗精度。

技術領域

本發明涉及攝像頭模組技術領域，尤其是涉及一種校驗攝像頭模組性能測試設備的方法，以及一種非臨時性計算機存儲介質和電子設備。

背景技術

相關技術中，對于攝像頭模組性能測試設備的校驗，校驗方法較為普通，例如，在保證人料、方法、環境一樣的前提下，選用一臺標準設備，獲取被效驗設備與標準設備測試分值的差異，最后可通過調整被校驗設備或補償測試分值差異來減少被校驗設備與標準設備之間的差異。

但是，此方法在合致樣品合致過程中因釋放應力而出現離焦的特殊情況下，可能會出現兩種錯誤：被校驗設備沒有測試分值誤差而被判定為有問題，或者被校驗設備有測試分值誤差而被判定為沒有問題。無法對被校驗設備進行準確校驗。

發明內容

本發明旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此，本發明的一個目的在于提出一種校驗攝像頭模組性能測試設備的方法，該方法，在攝像頭模組產品出現離焦的情況下，可以提高待校驗測試設備的校驗精度。

本發明的目的之二在于提出一種非臨時性計算機存儲介質。

本發明的目的之三在于提出一種電子設備。

為了解決上述問題，本發明第一方面實施例提供的校驗攝像頭模組性能測試設備的方法，包括，獲取第一組SFR(spatial frequency response，空間頻率響應)值和第二組SFR值，其中，所述第一組SFR值為基于攝像頭模組多個不同物距下待校驗測試設備獲得的測試圖像得到，所述第二組SFR值為基于所述攝像頭模組多個不同物距下標準測試設備獲得的測試圖像獲得；根據所述第一組SFR值和所述第二組SFR值獲得所述待校驗測試設備與所述標準測試設備的峰值測試偏差值；根據所述峰值測試偏差值校正所述待校驗測試設備的SFR值與物距的關系式。

根據本發明實施例的校驗攝像頭模組性能測試設備的方法，通過分別獲取待校驗測試設備和標準測試設備在多個不同物距下的SFR值，并根據第一組SFR值與物距的對應關系以及根據第二組SFR值與物距的對應關系，以對待校驗測試設備與標準測試設備進行對比，即本發明實施例采用多段物距測試及多方位對比測試數據的方式，來獲取峰值測試偏差值，從而可以減少攝像頭模組離焦情況下待校驗測試設備的調試誤差問題，使得待校驗測試設備可以獲得精準的調試，提高待校驗測試設備的校驗精度。

在一些實施例中，根據所述第一組SFR值和所述第二組SFR值獲得所述待校驗測試設備與所述標準測試設備的峰值測試偏差值，包括，基于所述第一組SFR值和所述攝像頭模組多個不同物距擬合出所述待校驗測試設備的第一SFR擬合曲線，基于所述第二組SFR值和所述攝像頭模組多個不同物距擬合出所述標準測試設備的第二SFR擬合曲線；獲得所述第一SFR擬合曲線的第一最大峰值和所述第二SFR擬合曲線的第二最大峰值，以及獲得所述第一最大峰值對應的第一物距值和所述第二最大峰值對應的第二物距值；計算所述第一最大峰值與所述第二最大峰值的最大峰值差，以及計算所述第一物距值與所述第二物距值的物距差，所述最大峰值差和所述物距差作為所述測試偏差值。即將待校驗測試設備與標準測試設備的測試數據以擬合曲線的方式進行比對，以便于觀察曲線峰值處的差異，為補償待校驗測試設備提供支持。