[發(fā)明專利]掉電監(jiān)測方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010889025.7 | 申請日： | 2020-08-28 |
| 公開（公告）號： | CN112256499A | 公開（公告）日： | 2021-01-22 |
| 發(fā)明（設計）人： | 季冬冬;張廣樂;劉暢 | 申請（專利權(quán)）人： | 蘇州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22;G06F11/14 |
| 代理公司： | 北京眾達德權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11570 | 代理人： | 張曉冬 |
| 地址： | 215000 江蘇省蘇州*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 掉電 監(jiān)測 方法 裝置 電子設備 計算機 可讀 存儲 介質(zhì) | ||
1.一種掉電監(jiān)測方法，其特征在于，應用于可編程器件，所述方法包括：
當供電單元發(fā)生掉電時，將掉電信息存儲至閃存；
供電單元恢復上電后，讀取閃存中的掉電信息；
將掉電信息同步至RAM，使BMC能夠讀取RAM中的掉電信息；
清除閃存中的掉電信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉電監(jiān)測方法，其特征在于，所述可編程器件為CPLD，所述閃存為CPLD內(nèi)部閃存。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉電監(jiān)測方法，其特征在于，所述可編程器件為FPGA，所述閃存為FPGA外掛閃存。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的掉電監(jiān)測方法，其特征在于，清除閃存中的掉電信息的步驟，包括：
接收來自BMC的清除RAM中的掉電信息的指令；
根據(jù)所述指令清除閃存中的掉電信息。
5.一種掉電監(jiān)測裝置，其特征在于，應用于可編程器件，所述裝置包括：
寫入模塊，用于當供電單元發(fā)生掉電時，將掉電信息存儲至閃存；
讀取模塊，用于供電單元恢復上電后，讀取閃存中的掉電信息；
同步模塊，用于將掉電信息同步至RAM，使BMC能夠讀取RAM中的掉電信息；
清除模塊，用于清除閃存中的掉電信息。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的掉電監(jiān)測裝置，其特征在于，所述清除模塊具體用于，接收來自BMC的清除RAM中的掉電信息的指令；根據(jù)所述指令清除閃存中的掉電信息。
7.一種電子設備，其特征在于，包括BMC、供電單元以及如權(quán)利要求5或6所述的掉電監(jiān)測裝置。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電子設備，其特征在于，所述電子設備為交換機或服務器。
9.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質(zhì)存儲有機器可運行指令，所述計算機可運行指令在被處理器調(diào)用和運行時，所述計算機可運行指令促使所述處理器運行所述權(quán)利要求1至4任一項所述的方法。
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