[發(fā)明專利]一種多孔徑系統(tǒng)光瞳檢測與校正方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010877902.9 | 申請日: | 2020-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN112033647B | 公開(公告)日: | 2022-08-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 史建亮;扈宏毅;馬浩統(tǒng);謝宗良 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院光電技術(shù)研究所 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02;G01M11/04 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 610209 *** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 多孔 系統(tǒng) 檢測 校正 方法 | ||
1.一種多孔徑系統(tǒng)光瞳檢測與校正方法,其特征在于:該方法依托的檢測與校正平臺包括望遠(yuǎn)鏡縮束系統(tǒng)(1)、三維位移臺折轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)鏡組(2)、合束器鏡組(3)、第一分光鏡(4)、第二分光鏡(5)、反射鏡(6)、可調(diào)縮束器(7)、探測相機(jī)(8)和光瞳控制系統(tǒng)(9),由激光器發(fā)出標(biāo)校激光經(jīng)分束板,反射鏡,擴(kuò)束器,第二分光鏡(5)和第一分光鏡(4),合束器鏡組(3),三維位移臺折轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)鏡組(2),望遠(yuǎn)鏡縮束系統(tǒng)(1),到達(dá)標(biāo)準(zhǔn)平面反射鏡后原路返回到第二分光鏡(5),一部分光束透射到達(dá)反射鏡(6),經(jīng)可調(diào)縮束器(7)到達(dá)探測相機(jī)(8);可調(diào)縮束器(7)的焦距調(diào)節(jié)范圍由多孔徑系統(tǒng)的孔徑數(shù)量n、可調(diào)縮束器(7)的縮束比β、各光瞳擾動范圍p以及探測相機(jī)(8)的靶面大小S決定,可調(diào)縮束器(7)的焦距調(diào)節(jié)范圍既要保證在光瞳擾動干擾下多個(gè)光瞳光斑之間不連通,又要保證在光瞳擾動干擾下多個(gè)光瞳光斑不可超出探測相機(jī)(8)的有效探測靶面;適當(dāng)調(diào)節(jié)可調(diào)縮束器(7)和探測相機(jī)(8)的距離,既要保證在光瞳擾動干擾下多個(gè)光瞳光斑之間不連通,又要保證在光瞳擾動干擾下多個(gè)光瞳光斑不可超出探測器相機(jī)(8)的有效探測靶面;根據(jù)探測相機(jī)(8)上顯示的各光束光斑分布的疏密狀態(tài)和光斑實(shí)際擾動量來調(diào)節(jié)可調(diào)縮束器(7)的焦距,使探測相機(jī)(8)上各光束光斑的疏密分布狀態(tài)介于光束光斑連通狀態(tài)與光束光斑脫離有效探測靶面狀態(tài)之間,由探測相機(jī)(8)獲取的光斑位置信息輸入到光瞳控制系統(tǒng)(9)中進(jìn)行控制量的解算,通過控制驅(qū)動量校正各孔徑光路中的三維位移臺折轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)鏡組(2),完成各孔徑光瞳位移量的閉環(huán)校正控制。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多孔徑系統(tǒng)光瞳檢測與校正方法,其特征在于:根據(jù)不同的光斑形態(tài),探測相機(jī)(8)同時(shí)提取多光瞳光斑的質(zhì)心或形心的位置信息,將位置信息傳送到光瞳控制系統(tǒng)進(jìn)行控制量的解算,通過控制驅(qū)動量校正各孔徑光路中的三維位移臺折轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)鏡組(2),完成各孔徑光瞳位移量的閉環(huán)校正控制。
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