[發明專利]一種基性巖中原位鋯石的尋找方法有效
| 申請號： | 202010845752.3 | 申請日： | 2020-08-20 |
| 公開（公告）號： | CN111999325B | 公開（公告）日： | 2023-07-25 |
| 發明（設計）人： | 韋帥;鄧宇峰 | 申請（專利權）人： | 合肥工業大學 |
| 主分類號： | G01N23/203 | 分類號： | G01N23/203;G01N23/22 |
| 代理公司： | 安徽省合肥新安專利代理有限責任公司 34101 | 代理人： | 盧敏 |
| 地址： | 230009 安*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基性巖中 原位 尋找 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基性巖中原位鋯石的尋找方法，其特征在于，包括如下步驟：
步驟1、將新鮮基性巖制成探針薄片；
步驟2、通過偏光顯微鏡在正交偏光和單偏光下對探針薄片進行觀察，找出類似鋯石礦物并在探針薄片中圈出相應位置；具體地，通過偏光顯微鏡觀察探針薄片，是利用鋯石在正交偏光下具有最高級干涉色三級～四級與多色性，并且在單偏光下可看到正極高突起的性質，使用偏光顯微鏡在探針薄片中尋找有類似特征的礦物；
步驟3、利用鋯石在陰極射線激發下能發出亮白色、亮黃色、微黃色光的特征，通過偏光鏡陰極發光儀觀察所圈定位置的類似鋯石礦物：若觀察到明顯的鋯石陰極發光特征，則在所述探針薄片表面噴鍍導電材料后直接進行步驟5；若未觀察到明顯的鋯石陰極發光特征，則在所述探針薄片表面噴鍍導電材料后進行步驟4；
步驟4、通過電子探針分析儀BSE成像觀察所圈定位置的類似鋯石礦物：若觀察到鋯石的BSE特性，則進行步驟5；若未觀察到鋯石的BSE特性，則判定所圈定位置并非鋯石礦物；
步驟5、利用電子探針能譜儀對所圈定位置的類似鋯石礦物進行分析，通過礦物成分確定其是否為鋯石。
2.根據權利要求1所述的尋找方法，其特征在于：所述導電材料為碳。
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