[發(fā)明專利]缺陷檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010835350.5
• 申請(qǐng)日: 2020-08-17
• 公開（公告）號(hào): CN111986174A
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫明珊;暴天鵬;吳立威
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市商湯科技有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G06K9/46;G06K9/62;G06T7/10
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強(qiáng);董文俊

1.一種缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取高鐵接觸網(wǎng)的待檢測(cè)圖像；

從所述待檢測(cè)圖像中分割出高鐵接觸網(wǎng)的第一部件的圖像；

從所述第一部件的圖像中分割出高鐵接觸網(wǎng)的第二部件的圖像；所述第二部件為所述第一部件的子部件；

基于所述第一部件的圖像、所述第二部件的圖像對(duì)所述第一部件、所述第二部件進(jìn)行缺陷分類，得到缺陷分類結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述從所述待檢測(cè)圖像中分割出高鐵接觸網(wǎng)的第一部件的圖像，包括：

對(duì)所述待檢測(cè)圖像進(jìn)行特征提取，得到第一特征圖；

基于所述第一特征圖對(duì)所述第一部件進(jìn)行定位和分類，得到所述第一部件的第一矩形檢測(cè)框；

按照所述第一矩形檢測(cè)框從所述待檢測(cè)圖像中分割出所述第一部件的圖像。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一特征圖對(duì)所述第一部件進(jìn)行定位和分類，得到所述第一部件的第一矩形檢測(cè)框，包括：

在所述第一特征圖上進(jìn)行所述第一部件的候選區(qū)域坐標(biāo)預(yù)測(cè)和前、背景分類，確定出所述第一部件的前景目標(biāo)；

將所述第一部件的前景目標(biāo)在所述第一特征圖中對(duì)應(yīng)的特征進(jìn)行池化處理，得到第一池化特征；

基于所述第一池化特征對(duì)所述第一部件進(jìn)行分類，得到所述第一部件的類別和所述第一矩形檢測(cè)框。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述從所述第一部件的圖像中分割出高鐵接觸網(wǎng)的第二部件的圖像，包括：

對(duì)所述第一部件的圖像進(jìn)行伽馬校驗(yàn)，得到所述第一部件的待分割圖像；

從所述第一部件的待分割圖像中分割出所述第二部件的圖像。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述從所述第一部件的待分割圖像中分割出所述第二部件的圖像，包括：

對(duì)所述第一部件的待分割圖像進(jìn)行特征提取，得到第二特征圖；

基于所述第二特征圖對(duì)所述第二部件進(jìn)行定位和分類，得到所述第二部件的第二矩形檢測(cè)框；

按照所述第二矩形檢測(cè)框從所述第一部件的待分割圖像中分割出所述第二部件的圖像。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二特征圖對(duì)所述第二部件進(jìn)行定位和分類，得到所述第二部件的第二矩形檢測(cè)框，包括：

在所述第二特征圖上進(jìn)行所述第二部件的候選區(qū)域坐標(biāo)預(yù)測(cè)和前、背景分類，確定出所述第二部件的前景目標(biāo)；

將所述第二部件的前景目標(biāo)在所述第二特征圖中對(duì)應(yīng)的特征進(jìn)行池化處理，得到第二池化特征；

基于所述第二池化特征對(duì)所述第二部件進(jìn)行分類，得到所述第二部件的類別和所述第二矩形檢測(cè)框。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一部件的圖像、所述第二部件的圖像對(duì)所述第一部件、所述第二部件進(jìn)行缺陷分類，得到缺陷分類結(jié)果，包括：

分別對(duì)所述第一部件的圖像、所述第二部件的圖像進(jìn)行特征提取；

基于所述第一部件的圖像提取出的特征對(duì)所述第一部件進(jìn)行缺陷類型預(yù)測(cè)，得到所述第一部件的缺陷分類結(jié)果；所述第一部件的缺陷分類結(jié)果包括所述第一部件的缺陷類型和所述第一部件的類別；以及

基于所述第二部件的圖像提取出的特征對(duì)所述第二部件進(jìn)行缺陷類型預(yù)測(cè)，得到所述第二部件的缺陷分類結(jié)果；所述第二部件的缺陷分類結(jié)果包括所述第二部件的缺陷類型和所述第二部件的類別。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，在基于所述第一部件的圖像、所述第二部件的圖像對(duì)所述第一部件、所述第二部件進(jìn)行缺陷分類，得到缺陷分類結(jié)果之后，所述方法還包括：

根據(jù)所述缺陷分類結(jié)果進(jìn)行缺陷預(yù)警。