[發明專利]一種存儲介質的錯誤檢測方法、系統及存儲系統在審

申請號：	202010825709.0	申請日：	2020-08-17
公開（公告）號：	CN112035060A	公開（公告）日：	2020-12-04
發明（設計）人：	張哲豪;呂承韋;劉凱	申請（專利權）人：	合肥康芯威存儲技術有限公司
主分類號：	G06F3/06	分類號：	G06F3/06;G01K13/00
代理公司：	上海光華專利事務所(普通合伙) 31219	代理人：	郭明
地址：	230601 安徽省合肥市經***	國省代碼：	安徽;34
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種存儲介質錯誤檢測方法系統存儲系統
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【說明書】：

本發明公開一種存儲介質的錯誤檢測方法、系統及存儲系統。所述存儲介質的錯誤檢測方法包括獲取存儲介質中的每一個擦除塊在寫入數據時的溫度數據，根據所述溫度數據，以生成溫度數據表，獲取寫入數據后的擦除塊，并將所述寫入數據后的擦除塊記錄于鏈表中，通過所述溫度數據表檢測所述擦除塊的溫度信息，以得到溫度檢測數據，通過所述鏈表檢測所述擦除塊的錯誤比特數目，以得到錯誤比特數目檢測數據，根據所述溫度檢測數據和錯誤比特數目檢測數據，以得到擦除塊檢測結果信息。本發明能夠在資料還未遺失前，提前讀取風險塊的資料。

技術領域

本發明涉及數據存儲介質檢測技術領域，特別是涉及一種存儲介質的錯誤檢測方法、系統及存儲系統。

背景技術

閃存是由許多的塊構成，每一個塊內存在一定的頁，用于提供一定資料量的儲存及讀取的功能，其記錄方式主要是根據施加一脈沖電壓將電荷儲存于Floating Gate(浮動閘門)內，再根據儲存于Floating Gate內的電荷多少而產生可以區別的能階，如此即可施加不同的電壓值Vth，確認其可不可以導通來判定資料bit(比特)為0或1。

每一塊所能提供的寫入、擦除、讀取都有一定的次數，當超過其臨界值時，資料的不穩定性會越來越嚴重，進而產生無法修復的壞塊，從而產生資料遺失的情況，因此無法讀取到完整的資料。

發明內容

鑒于以上所述現有技術的缺點，本發明的目的在于提供一種存儲介質的錯誤檢測方法、系統及存儲系統，用于解決現有技術中的每一塊所能提供的寫入、擦除、讀取都有一定的次數，當超過其臨界值時，資料的不穩定性會越來越嚴重，進而產生無法修復的壞塊，從而產生資料遺失的情況，因此無法讀取到完整的資料的問題。

為實現上述目的及其他相關目的，本發明提供一種存儲介質的錯誤檢測方法，所述存儲介質的錯誤檢測方法包括：

獲取存儲介質中的每一個擦除塊在寫入數據時的溫度數據；

根據所述溫度數據，以生成溫度數據表；

獲取寫入數據后的擦除塊，并將所述寫入數據后的擦除塊記錄于鏈表中；

通過所述溫度數據表檢測所述擦除塊的溫度信息，以得到溫度檢測數據；

通過所述鏈表檢測所述擦除塊的錯誤比特數目，以得到錯誤比特數目檢測數據；

根據所述溫度檢測數據和錯誤比特數目檢測數據，以得到擦除塊檢測結果信息。

在本發明的一實施例中，所述存儲介質的錯誤檢測方法還包括：

將所述寫入數據后的擦除塊存儲于資源池中。