[發明專利]一種超小瑕疵檢測方法及系統

在審

• 申請號: 202010810134.5
• 申請日: 2020-08-13
• 公開（公告）號: CN112147160A
• 公開（公告）日: 2020-12-29
• 發明（設計）人: 孔泉
• 申請（專利權）人: 妙微（永康）科技有限公司
• 主分類號: G01N21/952
• 分類號: G01N21/952
• 代理公司: 上海知義律師事務所 31304
• 代理人: 楊楠

本發明公開了一種超小瑕疵檢測方法及系統，包括如下步驟：S1用于獲取產品表面圖像的步驟；S2用于在產品表面圖像中確定出可疑區域的步驟；S3用于對可疑區域進行排序的步驟；S4用于對可疑區域進行瑕疵識別的步驟。本發明所提供的超小瑕疵檢測方法及系統，大大提高了對超小瑕疵的檢測效率和準確度；該方法可以在超高分辨率的圖片上檢測到細微的瑕疵，而對整體檢測速度沒有很大的影響，使得更精細的產品等級劃分變為可能；同時，用戶可以非常方便的通過設置參數實現不同精細程度的檢測，從而平衡檢測效果和檢測速度。

技術領域

本發明涉及工業視覺檢測技術領域，尤其涉及一種超小瑕疵檢測方法。

背景技術

工業視覺檢測主要是指在工業制造過程中，用計算機視覺技術來替代人眼，實現目標定位，質量檢測，缺陷定位等工作。超小瑕疵是指在工業品外表面，由于生產過程中磕碰、劃傷等造成的表面細微損傷，這種超小瑕疵由于不明顯，常常在后續工序完成后才能發現，這樣就造成了人工和物料上的浪費。例如保溫杯在生產過程中受到磕碰、劃傷，會在外表面形成超小瑕疵。由于保溫杯的外表面會進行拉絲處理，而拉絲表面和超小瑕疵很難區分，這就給超小瑕疵的檢測造成了一定的難度。

發明內容

本發明的目的是提供一種超小瑕疵檢測方法及系統。

本發明所述的超小瑕疵檢測方法，包括如下步驟：S1用于獲取產品表面圖像的步驟；S2用于在產品表面圖像中確定出可疑區域的步驟；S3用于對可疑區域進行排序的步驟；S4用于對可疑區域進行瑕疵識別的步驟。

所述S2用于在產品表面圖像中確定出可疑區域的步驟，包括：S21用于將產品表面圖像劃分為網格狀，形成復數個區域的步驟；S22用于對每個區域進行掃描識別從而確定出可能具有瑕疵的可疑區域的步驟。所述S22用于對每個區域進行掃描識別從而確定出可能具有瑕疵的可疑區域的步驟中，包括第一次掃描識別和第二次掃描識別；所述第一次掃描識別和第二次掃描識別具有不同的識別策略。所述S22用于對每個區域進行掃描識別從而確定出可能具有瑕疵的可疑區域的步驟中，還包括第三次掃描識別，所述第一次掃描識別、第二次掃描識別和第三次掃描識別均具有不同的識別策略。所述S2用于在產品表面圖像中確定出可疑區域的步驟；S23用于將連續的可疑區域進行合并的步驟。本發明所述的超小瑕疵檢測方法，還包括：S51設定檢測次數閾值的步驟；S52當對可疑區域進行瑕疵識別的結果為具有瑕疵時，判斷掃描識別的次數是否大于或者等于檢測次數閾值；如是，則結束識別；如否則啟動再次掃描識別。本發明所述的超小瑕疵檢測方法，還包括：所述S3用于對可疑區域進行排序的步驟中，根據可疑區域內所有像素的方差值進行排序。

本發明所提供的超小瑕疵檢測系統，包括：用于獲取產品表面圖像的模塊；用于在產品表面圖像中確定出可疑區域的模塊；用于對可疑區域進行排序的模塊；用于對可疑區域進行瑕疵識別的模塊。

所述用于在產品表面圖像中確定出可疑區域的模塊，包括：用于將產品表面圖像劃分為網格狀，形成復數個區域的子模塊；用于對每個區域進行掃描識別從而確定出可能具有瑕疵的可疑區域的子模塊。所述用于對每個區域進行掃描識別從而確定出可能具有瑕疵的可疑區域的子模塊中，包括依次串行設置的第一掃描識別單元和第二掃描識別單元，所述第一掃描識別單元和第二掃描識別單元具有不同的識別策略。本發明所提供的超小瑕疵檢測系統，還包括第三掃描識別單元，所述第一掃描識別單元、第二掃描識別單元及第三掃描識別單元依次串行設置，且所述第一掃描識別單元、第二掃描識別單元及第三掃描識別單元均具有不同的識別策略。所述用于在產品表面圖像中確定出可疑區域的模塊，還包括：用于將連續的可疑區域進行合并的子模塊。本發明所提供的超小瑕疵檢測系統，還包括：用于設定檢測次數閾值的模塊；用于當對可疑區域進行瑕疵識別的結果為具有瑕疵時，判斷掃描識別的次數是否大于或者等于檢測次數閾值；如是，則結束識別；如否則啟動再次掃描識別的模塊。所述用于對可疑區域進行排序的步驟中，根據可疑區域內所有像素的方差值進行排序的子模塊。