[發明專利]一種基于弱磁近場探測技術的密拍攝像裝置檢測方法和設備

在審

• 申請號: 202010793213.X
• 申請日: 2020-08-10
• 公開（公告）號: CN111751889A
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發明（設計）人: 黃曉笑;成心玥;李雅靜
• 申請（專利權）人: 杭州藝興科技有限公司
• 主分類號: G01V3/08
• 分類號: G01V3/08;G01V3/38
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于弱磁近場探測技術的密拍攝像裝置檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、用兩個規格相同、間隔距離超過目標弱磁信號探測有效距離的弱磁近場探頭組成探測系統，以前置靠近探測目標的弱磁近場探頭為主要探測端，在可疑區域或空間進行移動探測；

所述兩個相同的弱磁近場探頭分別作為前置弱磁近場探頭和參考弱磁近場探頭，其中前置弱磁近場探頭用于對可疑區域或空間內密拍攝像裝置產生的弱磁信號的探測，即探測目標信號；參考弱磁近場探頭用于對可疑區域或空間所在的更大環境范圍內的磁場信號探測，即探測除密拍攝像裝置產生的弱磁信號以外的背景噪音，后續將兩個弱磁近場探頭的探測結果進行綜合分析處理后可得到去除了噪音干擾的目標信號；

S2、將兩個弱磁近場探頭探測到的信號分別進行信號放大和帶通濾波；

所述帶通濾波允許通過的目標頻段以密拍攝像裝置圖像傳感器、圖像處理器在成像和視頻傳輸過程中的同步信號頻率特征確定，在該頻段范圍內的信號被保留；

S3、將經過信號放大后和帶通濾波的信號進行AD轉換和時頻域變換處理，得到兩個弱磁近場探頭探測到的信號的頻率和幅值數據；

S4、將兩個弱磁近場探頭探測到的信號的頻率和幅值數據進行綜合分析處理，去除背景噪音，根據去除背景噪音后的數據結果判定是否探測到密拍攝像裝置；

所述對數據的綜合分析處理包括以參考弱磁近場探頭探測到的信號的頻率和幅值數據為基線數據，剔除前置弱磁近場探頭探測到的信號數據中與基線數據頻率相同且對應幅值相差不大或小于基線數據幅值的數據，得到去除背景噪音后的數據結果；

判斷數據結果中是否同時存在兩個不同量級，且處于目標頻段范圍內的與同步信號特征對應的弱磁信號，且幅值均大于等于其各自的初始設定值，若是，則判定探測到密拍攝像裝置，并可進入下一步；反之，則判定未探測到密拍攝像裝置；

S5、檢測到密拍攝像裝置的情況下，在移動前置弱磁近場探頭過程中，對探測到的目標信號的強弱或幅值變化進行顯示，進而確定密拍攝像裝置的具體位置。

2.根據權利1所述的一種基于弱磁近場探測技術的密拍攝像裝置檢測方法，其特征還在于，所述弱磁近場探頭可以是磁感應型、時間差型、平行激勵型、正交激勵型等磁通門中的一種，采用三軸方向設計，其磁芯選用高磁導率材質，加工成特定形狀，并經過特定的退火工藝處理。

3.根據權利1所述的一種基于弱磁近場探測技術的密拍攝像裝置檢測方法，其特征還在于，去除背景噪音的步驟既可以如上所述放在信號進行時頻域變換處理后，也可以放在之前，即經過信號放大和帶通濾波以后，而信號放大和帶通濾波的順序也可以互換。

4.一種基于弱磁近場探測技術的密拍攝像裝置檢測設備，其特征在于，其核心組成包括：弱磁近場探頭、信號放大模塊、帶通濾波模塊、信號分析模塊及顯示模塊；

所述弱磁近場探頭，包括前置弱磁近場探頭和參考弱磁近場探頭，所述前置弱磁近場探頭用于對可疑區域或空間內密拍攝像裝置產生的弱磁信號的探測，即探測目標信號；參考弱磁近場探頭用于對可疑區域或空間所在的更大環境范圍內的磁場信號探測，即探測除密拍攝像裝置產生的弱磁信號以外的背景噪音；

兩者之間的安裝距離應大于其對目標弱磁信號的有效探測距離；

單個弱磁近場探頭可以是磁感應型、時間差型、平行激勵型、正交激勵型等磁通門中的一種，采用三軸方向設計，其磁芯選用高磁導率材質，并經過特定的退火工藝處理；

所述信號放大模塊，用于對弱磁近場探頭所探測到的微弱信號進行放大；

所述帶通濾波模塊，用于對放大后的信號進行濾波處理，過濾目標頻段以外的信號；

所述信號分析模塊，用于對進行信號放大和帶通濾波后的信號進行AD轉換和時頻域變換運算，得到頻率和幅值數據，再將兩個弱磁近場探頭探測到的信號的頻率和幅值數據進行綜合分析處理，去除背景噪音后判定是否檢測到密拍攝像裝置；

所述顯示模塊，用于在判定已存在密拍攝像裝置，再進行移動探測時，對探測到的目標信號的強弱或幅值變化進行顯示，進而確認密拍攝像裝置的具體位置。

5.根據權利4所述的一種基于弱磁近場探測技術的密拍攝像裝置檢測設備，其特征還在于，其配有供電模塊，與信號處理模塊相連，且與弱磁近場探頭之間做了防電磁干擾設計。