[發明專利]一種BBU電量檢測方法、系統及相關組件有效
| 申請號: | 202010790387.0 | 申請日: | 2020-08-07 |
| 公開(公告)號: | CN111999655B | 公開(公告)日: | 2023-03-31 |
| 發明(設計)人: | 任雙廷;胡龍;祝恩橋;黃強 | 申請(專利權)人: | 北京浪潮數據技術有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/367 | 分類號: | G01R31/367;G01R31/3842 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 劉志紅 |
| 地址: | 100085 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 bbu 電量 檢測 方法 系統 相關 組件 | ||
1.一種BBU電量檢測方法,其特征在于,包括:
獲取BBU的機芯電壓及遠端供電電壓;
根據所述機芯電壓和所述遠端供電電壓的差值得到功耗損耗因子;
通過所述功耗損耗因子計算所述BBU的有效可供電電荷量;
所述根據所述機芯電壓和所述遠端供電電壓的差值得到功耗損耗因子的過程具體包括:
獲取預設時間段內所述BBU的放電電流;
根據第一關系式計算功耗損耗因子,所述第一關系式為
其中,αv為所述功耗損耗因子,Vga為所述預設時間段內的初始機芯電壓,Vgb為所述預設時間段內的結束機芯電壓,Vha為所述預設時間段內的初始遠端供電電壓,Vhb為所述預設時間段內的結束遠端供電電壓,Ig為所述預設時間段內的供電電流,Ih所述預設時間段內的耗電電流,Tg為供電時長,Th為耗電時長。
2.根據權利要求1所述的BBU電量檢測方法,其特征在于,所述通過所述功耗損耗因子計算所述BBU的有效可供電電荷量的過程具體為:
對所述功耗損耗因子、所述機芯電壓及所述放電電流的乘積求積分,得到所述有效可供電電荷量。
3.根據權利要求2所述的BBU電量檢測方法,其特征在于,該BBU電量檢測方法還包括:
當所述機芯電壓小于預設值,確定所述BBU的有效可供電電荷量為0。
4.根據權利要求1-3任意一項所述的BBU電量檢測方法,其特征在于,該BBU電量檢測方法還包括:
當所述BBU滿足滿充條件,根據每一檢測點對應的有效可供電電荷量及開路電壓,確定預設對應關系。
5.根據權利要求4所述的BBU電量檢測方法,其特征在于,該BBU電量檢測方法還包括:
獲取當前開路電壓;
根據當前開路電壓和所述預設對應關系得到當前有效可供電電荷量。
6.根據權利要求4所述的BBU電量檢測方法,其特征在于,獲取每一檢測點對應的開路電壓的過程具體包括:
當所述BBU滿足滿放條件,在每一所述檢測點進行靜置檢測,并輸出該檢測點對應的開路電壓。
7.一種BBU電量檢測裝置,其特征在于,包括:
獲取模塊,用于獲取BBU的機芯電壓及遠端供電電壓;
第一計算模塊,用于根據所述機芯電壓和所述遠端供電電壓的差值得到功耗損耗因子;
第二計算模塊,用于通過所述功耗損耗因子計算所述BBU的有效可供電電荷量;
所述根據所述機芯電壓和所述遠端供電電壓的差值得到功耗損耗因子的過程具體包括:
獲取預設時間段內所述BBU的放電電流;
根據第一關系式計算功耗損耗因子,所述第一關系式為
其中,αv為所述功耗損耗因子,Vga為所述預設時間段內的初始機芯電壓,Vgb為所述預設時間段內的結束機芯電壓,Vha為所述預設時間段內的初始遠端供電電壓,Vhb為所述預設時間段內的結束遠端供電電壓,Ig為所述預設時間段內的供電電流,Ih所述預設時間段內的耗電電流,Tg為供電時長,Th為耗電時長。
8.一種電子設備,其特征在于,包括:
存儲器,用于存儲計算機程序;
處理器,用于執行所述計算機程序時實現如權利要求1-6任意一項所述的BBU電量檢測方法的步驟。
9.一種計算機可讀存儲介質,其特征在于,所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序,所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1-6任意一項所述的BBU電量檢測方法的步驟。
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