[發明專利]電子裝置經多次破壞性測試的變形模擬方法

在審

• 申請號: 202010781176.0
• 申請日: 2020-08-06
• 公開（公告）號: CN114065564A
• 公開（公告）日: 2022-02-18
• 發明（設計）人: 歐柏毅
• 申請（專利權）人: 神訊電腦（昆山）有限公司;神基科技股份有限公司
• 主分類號: G06F30/23
• 分類號: G06F30/23;G06F119/14
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種電子裝置經多次破壞性測試的變形模擬方法，其特征在于，包括：

建立N個有限元模型，且第i個有限元模型用于進行該電子裝置經第i次破壞性測試的有限元分析，以得到該電子裝置經該第i次破壞性測試的數值解答，其中N為大于1的整數，且i為1至N的整數；以及

由i為1開始，萃取該第i個有限元模型得到的該數值解答作為第i+1個有限元模型的可讀數據，并讓該第i+1個有限元模型根據該可讀數據來進行該電子裝置經第i+1次破壞性測試的該有限元分析，直到第N個有限元模型進行完該電子裝置經第N次破壞性測試的該有限元分析。

2.如權利要求1所述的電子裝置經多次破壞性測試的變形模擬方法，其特征在于，該電子裝置經多次破壞性測試的變形模擬方法適用于一計算機輔助工程中，且建立該N個有限元模型的步驟包括：

獲得該電子裝置的一幾何模型；以及

對該幾何模型進行前置處理，以網格化生成該N個有限元模型。

3.如權利要求2所述的電子裝置經多次破壞性測試的變形模擬方法，其特征在于，該電子裝置的該幾何模型是由一計算機輔助設計軟體來制作。

4.如權利要求1所述的電子裝置經多次破壞性測試的變形模擬方法，其特征在于，萃取的該數值解答為該電子裝置上的至少一零件經該第i次破壞性測試的應變結果與/或應力結果。

5.如權利要求1所述的電子裝置經多次破壞性測試的變形模擬方法，其特征在于，該第i個有限元模型和該第i+1個有限元模型還用于進行該電子裝置朝不同方位落下測試的該有限元分析。

6.如權利要求1所述的電子裝置經多次破壞性測試的變形模擬方法，其特征在于，該電子裝置經多次破壞性測試的變形模擬方法還包括：

對該第N個有限元模型得到的該數值解答進行后置處理，以產生一圖表結果。