[發(fā)明專利]一種微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置、系統(tǒng)及其檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010750478.1
• 申請(qǐng)日: 2020-07-30
• 公開（公告）號(hào): CN112014035A
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張儒鋒;李波;姜德志
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上騰科技（廣州）有限公司
• 主分類號(hào): G01M3/00
• 分類號(hào): G01M3/00
• 代理公司: 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44288
• 代理人: 孫柳

1.一種微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置，其特征在于，所述微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置用于嵌入密封產(chǎn)品內(nèi)部以檢測(cè)所述密封產(chǎn)品的密封性；所述微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置包括壓力傳感器、溫度傳感器和微處理器；所述壓力傳感器用于檢測(cè)所述密封產(chǎn)品內(nèi)部的壓力值；所述溫度傳感器用于檢測(cè)所述密封產(chǎn)品內(nèi)部的溫度值；所述微處理器，用于接收所述壓力傳感器發(fā)送的壓力信號(hào)、所述溫度傳感器發(fā)送的溫度信號(hào)從而獲取所述密封產(chǎn)品內(nèi)部的壓力值、溫度值，以便通過預(yù)設(shè)判斷規(guī)則判斷所述密封產(chǎn)品的密封性能。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置，其特征在于，所述壓力傳感器為由MEMS工藝制作而成的微型壓力傳感器。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置，其特征在于，所述微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置包括計(jì)時(shí)器，所述計(jì)時(shí)器與微處理器電性連接，用于計(jì)時(shí)并形成計(jì)時(shí)信號(hào)，所述計(jì)時(shí)信號(hào)用于評(píng)判所述密封產(chǎn)品的密封性能。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置，其特征在于，所述微處理器設(shè)置有電源接口，用于與所述密封產(chǎn)品內(nèi)部的電路板連接，用于定時(shí)將壓力傳感器檢測(cè)的壓力值、溫度傳感器檢測(cè)的溫度值發(fā)送給密封產(chǎn)品內(nèi)部的電路板上的控制器，從而使得控制器根據(jù)密封產(chǎn)品內(nèi)部的壓力值、溫度值以及預(yù)設(shè)判斷規(guī)則判斷得出密封產(chǎn)品的密封性能。

5.一種微型嵌入式密封性檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述微型嵌入式密封性檢測(cè)系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)采集裝置和如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置；所述微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置安裝于密封產(chǎn)品內(nèi)部；所述數(shù)據(jù)采集裝置設(shè)于密封產(chǎn)品的外部或密封產(chǎn)品上；所述數(shù)據(jù)采集裝置設(shè)有線圈并通過所述線圈發(fā)送電磁波，進(jìn)而使得所述微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置接收電磁波實(shí)現(xiàn)供電；所述數(shù)據(jù)采集裝置通過所述密封性檢測(cè)裝置發(fā)送的密封產(chǎn)品內(nèi)部的壓力值、溫度值以及預(yù)設(shè)判斷規(guī)則判斷得出密封產(chǎn)品的密封性能。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的微型嵌入式密封性檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述微型嵌入式密封性檢測(cè)系統(tǒng)包括上位機(jī)；所述數(shù)據(jù)采集裝置與上位機(jī)通信，用于將通過所述微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置發(fā)送的密封產(chǎn)品內(nèi)部的壓力值、溫度值上傳至上位機(jī)。

7.一種使用微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置檢測(cè)產(chǎn)品密封性的檢測(cè)方法，其特征在于，所述檢測(cè)方法包括以下步驟：

初始步驟：將如權(quán)利要求1至4中任一所述的微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置嵌入于密封產(chǎn)品內(nèi)部，并通過所述壓力傳感器和溫度傳感器獲取密封產(chǎn)品內(nèi)部的初始?jí)毫χ岛统跏紲囟戎担?/p>

檢測(cè)步驟：對(duì)密封產(chǎn)品進(jìn)行加壓處理后，通過所述微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置獲取所述密封產(chǎn)品內(nèi)部的實(shí)時(shí)壓力值，并根據(jù)密封產(chǎn)品內(nèi)部的實(shí)時(shí)壓力值和初始?jí)毫χ蹬袛嗟贸鏊雒芊猱a(chǎn)品的密封性能；

或者，檢測(cè)步驟：對(duì)密封產(chǎn)品進(jìn)行加熱處理，通過所述微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置獲取密封產(chǎn)品內(nèi)部的實(shí)時(shí)壓力值和實(shí)時(shí)溫度值，并結(jié)合預(yù)設(shè)判斷規(guī)則判斷得出所述密封產(chǎn)品的密封性能，其中，預(yù)設(shè)判斷規(guī)則為在密封產(chǎn)品內(nèi)的溫度升高的過程中，所述密封產(chǎn)品的密封性能與密封產(chǎn)品內(nèi)的壓力值、溫度值變化之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的使用微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置檢測(cè)產(chǎn)品密封性的檢測(cè)方法，其特征在于，所述檢測(cè)步驟包括：將所述密封產(chǎn)品放置于真空容器或高壓容器內(nèi)，并對(duì)真空容器或高壓容器進(jìn)行加壓處理，實(shí)現(xiàn)對(duì)密封產(chǎn)品的加壓處理；當(dāng)密封產(chǎn)品內(nèi)部的實(shí)時(shí)壓力值與初始?jí)毫χ挡煌瑫r(shí)，所述密封產(chǎn)品的密封性能有缺陷；其中，加壓的壓強(qiáng)和時(shí)間根據(jù)產(chǎn)品合格標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的使用微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置檢測(cè)產(chǎn)品密封性的檢測(cè)方法，其特征在于，所述檢測(cè)方法應(yīng)用于在密封產(chǎn)品使用過程中的密封性檢測(cè)，包括以下步驟：

當(dāng)密封產(chǎn)品使用一段時(shí)間后，通過微型嵌入式密封性檢測(cè)裝置獲取密封產(chǎn)品內(nèi)部的當(dāng)前壓力值，并根據(jù)密封產(chǎn)品內(nèi)的當(dāng)前壓力值與密封產(chǎn)品內(nèi)部的初始?jí)毫χ蹬袛嗟贸雒芊猱a(chǎn)品當(dāng)前的密封性能；其中，密封產(chǎn)品內(nèi)部的初始?jí)毫χ禐槊芊猱a(chǎn)品在測(cè)試開始之前設(shè)定的密封產(chǎn)品內(nèi)部的壓力的初始值。