[發明專利]微機電系統麥克風有效
| 申請號: | 202010744147.7 | 申請日: | 2020-07-29 |
| 公開(公告)號: | CN112312294B | 公開(公告)日: | 2022-02-01 |
| 發明(設計)人: | 陳建銘;許豐家;林文山;李新立;郭乃豪 | 申請(專利權)人: | 美商富迪科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H04R19/04 | 分類號: | H04R19/04;H04R19/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 陳小雯 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 微機 系統 麥克風 | ||
本發明公開一種微機電系統麥克風,包括一基板、一背板以及一振膜。前述背板和前述振膜設置在前述基板的同一側,且在前述振膜與前述背板之間形成有一氣隙,其中前述振膜包括多個摻雜部,且前述摻雜部具有不同的平均摻雜濃度。
技術領域
本發明涉及一種聲能傳感器(acoustic transducer),特別是涉及一種微機電系統(micro-electro-mechanical system,MEMS)麥克風。
背景技術
目前的趨勢是制造纖薄、小巧、輕便和高性能的電子裝置,包括麥克風。麥克風可以用于接收聲波并將聲信號轉換為電信號。麥克風被廣泛應用于日常生活以及安裝在例如電話、手機和錄音筆等電子產品中。在一電容式麥克風(capacitive microphone)中,聲壓(acoustic pressure)的變化(即,由聲波導致的環境大氣壓力的局部壓力偏差)迫使振膜(diaphragm)相應地變形,并且振膜的變形引起了電容變化。因此,可以通過檢測由電容變化引起的電壓差來得到聲波的聲壓變化。
與傳統駐極體電容式麥克風(electret condenser microphones(ECM))的不同在于,微機電系統(MEMS)麥克風的機械和電子元件可以利用集成電路(IC)技術整合在一半導體材料上來制造微型麥克風。MEMS麥克風具有例如小尺寸、輕巧和低功耗等優點,因此已成為微型麥克風的主流。
雖然現有的MEMS麥克風已經足以應付其需求,然而仍未全面滿足。舉例來說,在MEMS麥克風中可檢測到的聲波的兼容(compatible)聲壓范圍(即,動態范圍)仍然需要改進。動態范圍與最大兼容聲壓(即,聲學載點(acoustic overload point),下文中簡稱作“AOP”)有關,其由MEMS麥克風的諧波失真率(即,總諧波失真(total harmonicdistortion),下文中簡稱作“THD”)決定。另一方面,如果振膜的彈性系數較小(即,剛性(stiffness)較低),它可以用來感測較小的聲壓(即,具有較高的靈敏度),但振膜的THD將相應地被犧牲(即,AOP將降低)。因此,無法同時實現MEMS麥克風的高AOP和高靈敏度(即,無法實現更寬的動態范圍)。
發明內容
有鑒于前述現有問題點,本發明的一目的在于提供一種微機電系統(MEMS)麥克風,其可以同時實現高AOP和高靈敏度(sensitivity)。
本發明一些實施例提供一種微機電系統(MEMS)麥克風,其主要包括一基板、一背板以及一振膜,前述背板設置在前述基板的一側,前述振膜活動地設置在前述基板的前述側,且在前述振膜與前述背板之間形成有一氣隙,其中前述振膜包括多個摻雜部,且前述些摻雜部具有不同的平均摻雜濃度。
在一些實施例中,前述些摻雜部具有不同的摻雜濃度-深度分布曲線。
在一些實施例中,前述振膜定義有一坐標系統,且前述些摻雜部對稱于前述坐標系統的一原點。
在一些實施例中,前述坐標系統為一圓柱坐標系統或一直角坐標系統。
在一些實施例中,前述些摻雜部的摻雜濃度介于1E16cm-3(/cm3)至1E23cm-3之間。
依據上述的微機電系統麥克風,其中前述些摻雜部的摻雜濃度分別具有一峰值,且前述些峰值間的差異超過0.1E16cm-3。
在一些實施例中,前述些摻雜部具有p-型或n-型摻雜物。
在一些實施例中,在前述振膜的一環狀區域內形成有多個彼此分離的長孔。
在一些實施例中,在前述振膜上形成有多個彼此分離的通氣孔。
在一些實施例中,前述微機電系統麥克風還包括一附加絕緣層,連接在前述背板與前述振膜之間。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于美商富迪科技股份有限公司,未經美商富迪科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010744147.7/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:垂直存儲器裝置及其制造方法
- 下一篇:具有近場天線的測量裝置





